天津通用功能測(cè)試系統(tǒng)原理

上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類(lèi)產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的必備檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。80年代中國(guó)臺(tái)灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，中國(guó)臺(tái)灣開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因中國(guó)臺(tái)灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始，國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類(lèi)似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)中國(guó)臺(tái)灣及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲頭一臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至這里，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌，成為事實(shí)上的此類(lèi)技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!變壓器綜合功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試變壓器性能。天津通用功能測(cè)試系統(tǒng)原理

測(cè)試儀主要功能，測(cè)試儀采用電路在線測(cè)試技術(shù)，可以用來(lái)在線或離線測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見(jiàn)故障，測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。數(shù)字芯片的功能測(cè)試測(cè)試的基本原理是檢測(cè)并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測(cè)芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測(cè)試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。天津通用功能測(cè)試系統(tǒng)原理功能測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展將不斷推動(dòng)電子行業(yè)的進(jìn)步與發(fā)展。

VXI總線是VME工業(yè)計(jì)算機(jī)總線向儀器擴(kuò)展后形成的計(jì)算機(jī)總線，采用該總線的系統(tǒng)的體積、通信速率介于GPIB總線系統(tǒng)和PXI總線系統(tǒng)之間，成本卻是較高的。PXI總線是Compact PCI工業(yè)計(jì)算機(jī)總線向儀器擴(kuò)展后形成的計(jì)算機(jī)總線，采用該總線的系統(tǒng)的體積較小，通信速率是比較高，而成本居中。PXI總線直接利用計(jì)算機(jī)PCI總線的技術(shù)成果，吸收了VXI總線的優(yōu)點(diǎn)。總的來(lái)說(shuō)，VXI總線儀器和PXI總線儀器性能相當(dāng)，VXI總線儀器成本高，PXI總線儀器正在迅速發(fā)展過(guò)程中，多采用PXI總線集成系統(tǒng)。

FrameScan電容藕合測(cè)試 FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開(kāi)。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1 夾具上的多路開(kāi)關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2 測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（ATB）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3 電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4 ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開(kāi)，則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類(lèi)式的技術(shù)稱(chēng)Open Xpress。原理類(lèi)似。此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件，測(cè)試成本稍高。集成測(cè)試：將各個(gè)單元集成后進(jìn)行全方面測(cè)試，確保整體性能達(dá)標(biāo)。

國(guó)外從20世紀(jì)初就開(kāi)始研電路板測(cè)試系統(tǒng)，起初主要應(yīng)用于官方領(lǐng)域。據(jù)統(tǒng)計(jì)采用電路板測(cè)試后，可以使裝備的測(cè)試效率提高10倍以上，在其全壽命周期內(nèi)節(jié)省費(fèi)用20%以上。鑒于電路板測(cè)試在生產(chǎn)維護(hù)中的突出功能，世界各國(guó)都投入研制各自的電路板測(cè)試技術(shù)，促進(jìn)了這一行業(yè)的飛速發(fā)展。正在興起的面向?qū)ο蠹夹g(shù)，也得到廣闊應(yīng)用，這直接促生了一種新的語(yǔ)言ATLAS，已經(jīng)在美國(guó)的CASS、法國(guó)的的ATEC、以色列的RADA得到工程應(yīng)用。系統(tǒng)功能，在線測(cè)試(ICT)：PCB開(kāi)路、短路、漏件、錯(cuò)件、變值、反向、虛焊、空焊（包括IC空焊）等。功能測(cè)試(FCT)：電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、轉(zhuǎn)速、LED亮度、位置測(cè)定、圖形識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量以及控制、壓力測(cè)量控制、精密運(yùn)動(dòng)控制、FLASH、EEPROM在線燒錄等。系統(tǒng)應(yīng)用：空調(diào)主板、電視機(jī)板、洗衣機(jī)板、微波爐板、遙控器板、汽車(chē)電子電路板、其他消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品、各種PCB板檢測(cè)。小型化趨勢(shì)：隨著電子產(chǎn)品向小型化發(fā)展，功能測(cè)試系統(tǒng)也需要適應(yīng)這一趨勢(shì)，實(shí)現(xiàn)便攜式、高效測(cè)試。天津通用功能測(cè)試系統(tǒng)原理

在線功能測(cè)試系統(tǒng)可實(shí)時(shí)檢測(cè)產(chǎn)品功能。天津通用功能測(cè)試系統(tǒng)原理

印制電路板所使用到的自動(dòng)測(cè)試技術(shù)發(fā)展迅速，尤其以印制板在線測(cè)試系統(tǒng)（ATE）普遍應(yīng)用于印制板光板及各種產(chǎn)品的印制電路板的生產(chǎn)、檢測(cè)和維修等為主，如右圖。ATE 的測(cè)試方法可分接觸式測(cè)試和非接觸式測(cè)試兩大類(lèi)。其中接觸式測(cè)試分為在線測(cè)試、功能測(cè)試、BIST 和邊界掃描測(cè)試等；非接觸式測(cè)試又可分為非向量測(cè)試、自動(dòng)視覺(jué)測(cè)試、紅外熱圖象測(cè)試、X 射線和激光測(cè)試。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)及VXI 總線技術(shù)的應(yīng)用，各種建立在VXI 測(cè)試平臺(tái)上的印制電路板的ATE 和功能測(cè)試也得到迅速發(fā)展。天津通用功能測(cè)試系統(tǒng)原理