電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-09-27

PCBA功能系統(tǒng)測(cè)試,功能系統(tǒng)測(cè)試方法的原理是模擬設(shè)計(jì)輸入并檢測(cè)輸出來(lái)達(dá)到判定PCBA是否正常工作和PCBA上的電子元器件是否正確焊接的目的。面對(duì)電子產(chǎn)品的更新?lián)Q代速度的提高,市場(chǎng)對(duì)電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性的要求的增大,建立一個(gè)通用的可移植的PCBA功能系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)搭是每個(gè)自動(dòng)化測(cè)試工程師所要面臨的挑戰(zhàn)。實(shí)踐表明,選用合理的測(cè)試系統(tǒng)硬件平臺(tái)和軟件平臺(tái)能有效縮減PCBA功能系統(tǒng)測(cè)試的開(kāi)發(fā)周期,提高生產(chǎn)效率。基于NiosII軟內(nèi)核技術(shù)的嵌入式系統(tǒng)具有豐富和可配置的外設(shè)接口,提高了PCBA功能系統(tǒng)測(cè)試硬件平臺(tái)的通用性;由于 [2]LabVIEW開(kāi)發(fā)環(huán)境對(duì)底層數(shù)據(jù)接口的良好封閉和其特有的簡(jiǎn)捷直觀的開(kāi)發(fā)方法,使得自動(dòng)化測(cè)試工程師能夠?qū)W⒂跍y(cè)試功能本身的實(shí)現(xiàn),極大的提高了測(cè)試軟件的開(kāi)發(fā)效率。集成測(cè)試:將各個(gè)單元集成后進(jìn)行全方面測(cè)試,確保整體性能達(dá)標(biāo)。電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)

電機(jī)測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試系統(tǒng)

80年代由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地,于上世紀(jì)80年代后期,90年代初期,***開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀,并推出眾多品牌的壓床式ICT,其價(jià)格更加低廉,迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng),并因電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始,國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類似的靜態(tài)測(cè)試儀,1993年,中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)***及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲頭一臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至這里,美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌,成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)! 優(yōu)點(diǎn)天津可靠性試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)哪家好PCB測(cè)試:對(duì)印刷電路板(PCB)進(jìn)行電氣性能、可靠性等方面的檢測(cè)。

電機(jī)測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試系統(tǒng)

ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法:模擬器件測(cè)試?yán)眠\(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有: ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0,則Rx可求出。 若待測(cè)Rx為電容、電感,則Vs交流信號(hào)源,Rx為阻抗形式,同樣可求出C或L。 1.2 隔離(Guarding)上面的測(cè)試方法是針對(duì)單獨(dú)的器件,而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響,使Ix笽ref,測(cè)試時(shí)必須加以隔離(Guarding)。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。

測(cè)試機(jī)臺(tái):用來(lái)完成測(cè)試任務(wù)的全部硬件和相應(yīng)操作系統(tǒng)軟件的總稱。如機(jī)柜、各種測(cè)試儀器、測(cè)量控制計(jì)算機(jī)等都是。測(cè)試軟件:與被測(cè)電路板及其測(cè)試任務(wù)密切相關(guān)的專門(mén)使用測(cè)試設(shè)備和專門(mén)使用測(cè)試軟件的總稱。如器件專門(mén)使用測(cè)試軟件,組件專門(mén)使用測(cè)試接口適配器(包括接口裝置、緊固件及電纜),被測(cè)電路板所需的各種文件。測(cè)試程序:開(kāi)發(fā)測(cè)試軟件需用到一系列的工具,這些工具總稱為測(cè)試程序,又稱序列配置文件,如國(guó)外的ARINC公司的SMAR管理器,國(guó)內(nèi)的東方信標(biāo)的GPTE配置集,厚德公司的HOUDECOM序列管理器,都屬于測(cè)試程序。電機(jī)測(cè)試:針對(duì)電機(jī)性能進(jìn)行全方面檢測(cè),確保電機(jī)高效、穩(wěn)定運(yùn)行。

電機(jī)測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試系統(tǒng)

VX1bus儀器系統(tǒng)-虛擬儀器系統(tǒng),VXIbus儀器系統(tǒng)是一種標(biāo)準(zhǔn)總線式模塊儀器系統(tǒng),一般由微機(jī)、VXIbus模塊和 VXTbus 機(jī)箱組成。若干儀器模塊插入 VXTbus 機(jī)箱,便構(gòu)成了 VXIbus 儀器系統(tǒng)。VXIbus儀器系統(tǒng)是一個(gè)微機(jī)、軟件技術(shù)和測(cè)量系統(tǒng)的有機(jī)結(jié)合體,在VXIbus儀器系統(tǒng)中,高性能的微機(jī)處于主要地位,傳統(tǒng)儀器的某些硬件乃至整個(gè)儀器都被計(jì)算機(jī)軟件所代替,為指揮微機(jī)化儀器及其系統(tǒng)工作。VXIbus儀器及其系統(tǒng)和PC儀器、IEEE-488儀器及測(cè)試系統(tǒng)一起,已在超大規(guī)模集成電路測(cè)試、通信及測(cè)試、模擬電路/數(shù)字電路測(cè)試、現(xiàn)代家用電器測(cè)試、印制板電路/混合信號(hào)電路測(cè)試、電子元件/電力電子器件測(cè)試以及官方、航天、生物醫(yī)學(xué)、TI測(cè)試、電工技術(shù)領(lǐng)域等的可移動(dòng)式現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試工作中得到普遍的應(yīng)用。變壓器綜合功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試變壓器性能。常州電路板功能測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

軟件測(cè)試:針對(duì)軟件系統(tǒng)進(jìn)行功能、性能、兼容性等多方面測(cè)試。電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)

示例,提供了分別對(duì)應(yīng)ICT和FCT的硬件及軟件模塊,可以測(cè)試空調(diào)、冰箱等家電控制板,使電路板的ICT和FCT 測(cè)試可以在同一個(gè)針床和同一道工序上完成。而且即使客戶需要更高的吞吐量、更寬的產(chǎn)品種類、更自動(dòng)的流水線方式,都依然可以通過(guò)這種低成本方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。這些特點(diǎn)為本身具有更高測(cè)試需求同時(shí)不希望增加測(cè)試成本的客戶提供了較好的解決方案。良品/不良品分揀功能:通過(guò)對(duì)HD-1000進(jìn)行輕松編程,可以根據(jù)電路板的OK/NG測(cè)試結(jié)果,自動(dòng)使NG的不良品組件流入收納箱或暫存軌道,使OK的良品組件流入正常的下一道工序。電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)