江蘇通用功能測(cè)試系統(tǒng)方法

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-10-16

功能系統(tǒng)測(cè)試原理:FST是function system test的簡(jiǎn)稱,功能系統(tǒng)測(cè)試可以測(cè)試一個(gè)PCBA的單板系統(tǒng)能否實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo),它將線路板上的被測(cè)單元作為一個(gè)功能體,對(duì)其提供輸入信號(hào),按照功能體的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)輸出信號(hào)。功能系統(tǒng)測(cè)試中的激勵(lì)信號(hào)源可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn),如任意波形發(fā)生器,任意函數(shù)發(fā)生器,邏輯信號(hào)發(fā)生器等,也可以使用自己設(shè)計(jì)的硬件系統(tǒng)來(lái)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào),采用前者相對(duì)成本較高。功能系統(tǒng)測(cè)試中的輸出信號(hào)的檢測(cè)可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn),如示波器,頻譜分析儀等,也可以使用定制的數(shù)據(jù)采集和分析模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)。輸出信號(hào)的分析和測(cè)試結(jié)果的保存往往要用計(jì)算機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn),所以就引出了計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)硬件的數(shù)據(jù)傳輸和控制的問(wèn)題。計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)常用的通信方式有GPIB總線、PCI總線、RS232串口、USB等,通信方式的選擇需要根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的硬件選擇和測(cè)試對(duì)于數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俣刃枨鬀Q定。小型化趨勢(shì):隨著電子產(chǎn)品向小型化發(fā)展,功能測(cè)試系統(tǒng)也需要適應(yīng)這一趨勢(shì),實(shí)現(xiàn)便攜式、高效測(cè)試。江蘇通用功能測(cè)試系統(tǒng)方法

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VX1bus儀器系統(tǒng)-虛擬儀器系統(tǒng),VXIbus儀器系統(tǒng)是一種標(biāo)準(zhǔn)總線式模塊儀器系統(tǒng),一般由微機(jī)、VXIbus模塊和 VXTbus 機(jī)箱組成。若干儀器模塊插入 VXTbus 機(jī)箱,便構(gòu)成了 VXIbus 儀器系統(tǒng)。VXIbus儀器系統(tǒng)是一個(gè)微機(jī)、軟件技術(shù)和測(cè)量系統(tǒng)的有機(jī)結(jié)合體,在VXIbus儀器系統(tǒng)中,高性能的微機(jī)處于主要地位,傳統(tǒng)儀器的某些硬件乃至整個(gè)儀器都被計(jì)算機(jī)軟件所代替,為指揮微機(jī)化儀器及其系統(tǒng)工作。VXIbus儀器及其系統(tǒng)和PC儀器、IEEE-488儀器及測(cè)試系統(tǒng)一起,已在超大規(guī)模集成電路測(cè)試、通信及測(cè)試、模擬電路/數(shù)字電路測(cè)試、現(xiàn)代家用電器測(cè)試、印制板電路/混合信號(hào)電路測(cè)試、電子元件/電力電子器件測(cè)試以及官方、航天、生物醫(yī)學(xué)、TI測(cè)試、電工技術(shù)領(lǐng)域等的可移動(dòng)式現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試工作中得到普遍的應(yīng)用。江蘇通用功能測(cè)試系統(tǒng)方法高效測(cè)試:功能測(cè)試系統(tǒng)提高測(cè)試效率,縮短產(chǎn)品研發(fā)周期。

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在線測(cè)試系統(tǒng)原理:慨述:定義 ICT在線測(cè)試儀,ICT,In-Circuit Test,是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況,具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 ICT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)試,優(yōu)點(diǎn)是不需制作夾具,程序開(kāi)發(fā)時(shí)間短。針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試,故障覆蓋率高,但對(duì)每種單板需制作專門(mén)使用的針床夾具,夾具制作和程序開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng)。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì),目前大多數(shù)工廠對(duì)PCBA的功能測(cè)試(FCT),大多實(shí)現(xiàn)的是傳統(tǒng)的一對(duì)一的方式,即一種PCBA對(duì)應(yīng)一個(gè)FCT測(cè)試臺(tái)。該種測(cè)試臺(tái)由測(cè)試工程師自己設(shè)計(jì)控制電路底板,連接I/O口到測(cè)試治具的針盤(pán),然后編寫(xiě)底板Firmware模擬成品運(yùn)行環(huán)境,實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)PCBA電壓、電流檢測(cè)、以及相應(yīng)時(shí)序控制。一對(duì)一的方式雖然對(duì)測(cè)試工人是一種方便,但同時(shí)也意味著資源浪費(fèi),當(dāng)該Model停產(chǎn)后,該FCT測(cè)試臺(tái)也往往被束之高閣了。對(duì)測(cè)試工程師不斷的制版,編程,接線等等重復(fù)勞動(dòng)也是一個(gè)不小的工作壓力。功能測(cè)試系統(tǒng)可幫助定位產(chǎn)品功能故障和改進(jìn)設(shè)計(jì)。

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80年代由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地,于上世紀(jì)80年代后期,90年代初期,***開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀,并推出眾多品牌的壓床式ICT,其價(jià)格更加低廉,迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng),并因電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始,國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類似的靜態(tài)測(cè)試儀,1993年,中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)***及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲頭一臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至這里,美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌,成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)! 優(yōu)點(diǎn)無(wú)線綜合測(cè)試:針對(duì)無(wú)線通信設(shè)備,實(shí)現(xiàn)信號(hào)質(zhì)量、傳輸速率等全方面測(cè)試。江蘇通用功能測(cè)試系統(tǒng)方法

環(huán)保型測(cè)試:功能測(cè)試系統(tǒng)在保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí),降低能源消耗和環(huán)境污染。江蘇通用功能測(cè)試系統(tǒng)方法

第四代儀器儀表:虛擬儀器(Vl:Virtual Instrumentation)框架得到了普遍認(rèn)同和采用。軟件領(lǐng)域面向?qū)ο蠹夹g(shù)把任何用戶構(gòu)建虛擬儀器需要知道的東西封裝起來(lái)。許多行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)在硬件和軟件領(lǐng)域產(chǎn)生,幾個(gè)虛擬儀器平臺(tái)已經(jīng)得到認(rèn)可,并逐漸成為虛擬儀器行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)工具。智能儀器的發(fā)展現(xiàn)狀,增益的自動(dòng)轉(zhuǎn)換:傳統(tǒng)的儀器儀表在被測(cè)參數(shù)變化范圍較大時(shí),由于采用了固定增益,可能是信號(hào)溢出或是電路過(guò)載,降低了測(cè)量精度。而智能化儀器中放大的增益可以自動(dòng)切換和調(diào)節(jié),從而保證了系統(tǒng)始終工作在較佳電平區(qū)域內(nèi)。江蘇通用功能測(cè)試系統(tǒng)方法