宿遷常規(guī)探針有哪些

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2021-03-09

鎢探針:我們生產(chǎn)的純鎢探針、錸鎢探針、Paliney7合金探針,主要應(yīng)用于IC、LED、LCD等芯片檢測(cè)以及晶圓檢測(cè)等行業(yè)。適用于各類(lèi)Pad表面。衡泌采用品質(zhì)穩(wěn)定的原材料,可按照不同客戶(hù)的多樣要求,提供國(guó)產(chǎn)或日本鎢材料,有純鎢(99.95-99.98%)、錸鎢等原料。通常情況下,測(cè)量?jī)x器引進(jìn)一些噪聲或測(cè)量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件,其中之一可能是,它會(huì)受探針參數(shù)的影響,如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺(tái)的平整度。此外,探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。在電子測(cè)試中,探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類(lèi)型。宿遷常規(guī)探針有哪些

鎢針可分為純鎢針、稀土鎢針、摻雜鎢針。鎢針主要用于制作強(qiáng)度高氣體放電燈電弧管用電極。由于鎢的特性,使得它比較適合用于tiG焊接以及其它類(lèi)似這種工作的電極材料。在金屬鎢中添加稀土氧化物來(lái)刺激它的電子逸出功,使得鎢電極的焊接性能得以改善:電極的起弧性能更好,弧柱的穩(wěn)定性更高,電極燒損率更小??筛鶕?jù)要求定制尖部形狀,有鋒利極銳尖、平臺(tái)和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級(jí)到納米級(jí),針尖曲率半徑Min可控為50納米,包裝前逐根檢測(cè)。泰州探針?shù)N售廠(chǎng)家隨著探針開(kāi)始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層,接觸電阻減小而電流流動(dòng)迅速開(kāi)始。

錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium),直徑是0.05-0.1mm不等,針具有高硬度、高彈性模量、檢測(cè)時(shí)無(wú)傷原器件等特點(diǎn),其硬度/抗勞性佳,穩(wěn)定度佳,適合長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試。我司可按照不同客戶(hù)的多樣要求,提供國(guó)產(chǎn)或日本鎢材料,T長(zhǎng)均勻,針尖采用研磨處理,中心居正,針尖長(zhǎng)度細(xì)長(zhǎng),飽滿(mǎn),壽命長(zhǎng)。這種探針的針尖尖部經(jīng)過(guò)特殊工藝加工而成,針錐精度高,具有強(qiáng)度高和彈性模量,產(chǎn)品更耐磨、更耐腐蝕,表面光滑無(wú)傷,光潔度可達(dá)到Ra0.25以下,幾乎為鏡面。探針具有用于測(cè)量半導(dǎo)體材料、功能材料、導(dǎo)電薄膜的電阻率、面電阻、型號(hào)及擊穿電壓等多種功能。

接觸電阻即探針尖與焊點(diǎn)之間接觸時(shí)的層間電阻。通常不能給出具體的指標(biāo),因?yàn)閷?shí)際的接觸電阻比較難測(cè)量。一般,信號(hào)路徑電阻被用來(lái)替代接觸電阻,而且它在眾多情況下更加相關(guān)。在檢測(cè)虛焊和斷路的時(shí)候,探針卡用戶(hù)經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個(gè)標(biāo)稱(chēng)值。信號(hào)路徑電阻是從焊點(diǎn)到測(cè)試儀的總電阻,即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是,接觸電阻是信號(hào)路徑電阻的重要組成部分。在實(shí)際使用中,探針的接觸電阻在比較大程度上取決于焊點(diǎn)的材料、清洗的次數(shù)、以及探針的狀況,而且它同標(biāo)稱(chēng)值相差較多。探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。

鎢探針是一種結(jié)構(gòu)細(xì)長(zhǎng)由純鎢或者鎢合金制的得的鎢制品??梢杂糜跉寤『讣夹g(shù)中的電極材料,也可用以?xún)x器探針的使用。它具有耐高溫,導(dǎo)電性好等優(yōu)點(diǎn)。鎢針主要用于雕刻金屬表面,膠棉中顆粒的切割和單一顆粒的操作。由于這些針?lè)浅R状?,故比較經(jīng)常彎曲或折斷。在完成粒子切割時(shí)需要用手操作。這些鎢針不僅用于粒子的切割,也用于晶胚和玻璃的吹制。鎢資源的主要應(yīng)用也是硬質(zhì)合金,也就是鎢鋼。硬質(zhì)合金,被稱(chēng)為現(xiàn)代工業(yè)的牙齒,鎢鋼制品的使用程度非常。高電流探針:探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大的測(cè)試電流可達(dá)39amps。泰州探針廠(chǎng)家供應(yīng)

探針具有導(dǎo)電薄膜的電阻率、面電阻、型號(hào)及擊穿電壓等多種功能。宿遷常規(guī)探針有哪些

探針對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響:通常,參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件(DUT),然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為:從測(cè)試儀通過(guò)電纜束至測(cè)試頭,再通過(guò)測(cè)試頭至探針卡,然后通過(guò)探針至芯片上的焊點(diǎn),到達(dá)被測(cè)器件,并然后沿原路徑返回測(cè)試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意,問(wèn)題可能是由測(cè)量?jī)x器或軟件所致,也可能是其它原因造成。通常情況下,測(cè)量?jī)x器引進(jìn)一些噪聲或測(cè)量誤差。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件,其中之一可能是,它會(huì)受探針參數(shù)的影響,如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點(diǎn)壓力、以及探針臺(tái)的平整度。此外,探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。宿遷常規(guī)探針有哪些

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