掃描電鏡(SEM)利用的技術(shù)是一種介于透射掃描電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，其使用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電鏡的分辨率可以達(dá)到1nm；放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電鏡和其他分析儀器相結(jié)合,可以做到觀察微觀形貌的同時進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有普遍應(yīng)用，在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。掃描電鏡普遍應(yīng)用于觀察各種固態(tài)物質(zhì)的表面超微結(jié)構(gòu)的形態(tài)和組成。韶關(guān)進(jìn)口掃描電鏡的廠家有哪些
掃描電鏡的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?，再?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹?qiáng)度，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。掃描電鏡的特點(diǎn)：和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)：能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。樣品制備過程簡單，不用切成薄片。樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn)，因此，可以從各種角度對樣品進(jìn)行觀察。遵義臺式掃描電鏡批發(fā)掃描電鏡對信息收集、放大、再成像以達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。
掃描電鏡應(yīng)用范圍：掃描電鏡是一種多功能的儀器,具有很多優(yōu)越的性能,是用途較為普遍的一種儀器。三維形貌的觀察和分析;在觀察形貌的同時,進(jìn)行微區(qū)的成分分析。觀察納米材料。所謂納米材料就是指組成材料的顆?；蛭⒕С叽缭?.1～100nm范圍內(nèi),在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。納米材料具有許多與晶態(tài)、非晶態(tài)不同的、獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)。納米材料有著廣闊的發(fā)展前景,將成為未來材料研究的重點(diǎn)方向。掃描電鏡的一個重要特點(diǎn)就是具有很高的分辨率,現(xiàn)已普遍用于觀察納米材料。
掃描電鏡有一重要特色是具有超大的景深，約為光學(xué)顯微鏡的300倍，使得掃描電鏡比光學(xué)顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的樣品。掃描電鏡，其系統(tǒng)設(shè)計由上而下，由電子長筒械具發(fā)射電子束，經(jīng)過一組磁透鏡聚焦聚焦后，用遮蔽孔徑選擇電子束的尺寸后，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡聚焦，打在樣品上，在樣品的上側(cè)裝有訊號接收器，用以擇取二次電子或背向散射電子成像。電子長筒械具的必要特性是亮度要高、電子能量散布要小，目前常用的種類計有三種，鎢(W)燈絲、六硼化鑭燈絲、場發(fā)射，不同的燈絲在電子源大小、電流量、電流穩(wěn)定度及電子源壽命等均有差異。掃描電鏡和其他分析儀器相結(jié)合,可以做到觀察微觀形貌的同時進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。
掃描電鏡對樣品的要求：四無(無磁、無毒、無污染、無放射性)，三有(具有穩(wěn)定性、干燥性、導(dǎo)電性)，兩不(不發(fā)光、非高溫）。盡量保持樣品原始的表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)。顆粒或粉末數(shù)量要適中，避免團(tuán)聚;塊狀樣品體積要控制在120mm×80mm×50mm以內(nèi)、高度限制在5～10mm左右。測試的整個流程要注意清潔。為降低樣品污染程度，可事先用酒精或超聲波清洗。觀察成分相的樣品表面應(yīng)盡量光滑，高度差異不可太大，必要時需精細(xì)拋光。待測面為錐狀、似錐狀或有明顯棱角、尖角等的突兀狀樣品無法測試。同樣，樣品底面因不平整而阻礙導(dǎo)電處理的樣品需要磨平。掃描電鏡普遍應(yīng)用于司法領(lǐng)域。遵義臺式掃描電鏡批發(fā)
掃描電鏡普遍應(yīng)用于地球科學(xué)領(lǐng)域的微觀研究。韶關(guān)進(jìn)口掃描電鏡的廠家有哪些
掃描電鏡：掃描電鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時，也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動（聲子）、電子振蕩（等離子體）。原則上講，利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。掃描電鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機(jī)理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實(shí)現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息；對X射線的采集，可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。韶關(guān)進(jìn)口掃描電鏡的廠家有哪些
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