掃描電鏡試樣制備技術(shù)：塊狀試樣制備：導(dǎo)電性材料：主要是指金屬，一些礦物和半導(dǎo)體材料也具有一定的導(dǎo)電性。這類材料的試樣制備較為簡單。只要使試樣大小不得超過儀器規(guī)定（如試樣直徑較大為φ25mm，較厚不超過20mm等），然后用雙面膠帶粘在載物盤，再用導(dǎo)電銀漿連通試樣與載物盤（以確保導(dǎo)電良好），等銀漿干了（一般用臺燈近距離照射10分鐘，如果銀漿沒干透的話，在蒸金抽真空時將會不斷揮發(fā)出氣體，使得抽真空過程變慢）之后就可放到掃描電鏡中直接進行觀察。非導(dǎo)電性材料：試樣的制備也比較簡單，基本可以像導(dǎo)電性塊狀材料試樣的制備一樣，但是要注意的是在涂導(dǎo)電銀漿的時候一定要從載物盤一直連到塊狀材料試樣的上表面，因為觀察時候電子束是直接照射在試樣的上表面的。掃描電鏡待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜。安順日立分析儀器掃描電鏡報價
掃描電鏡有一重要特色是具有超大的景深，約為光學(xué)顯微鏡的300倍，使得掃描電鏡比光學(xué)顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的樣品。掃描電鏡，其系統(tǒng)設(shè)計由上而下，由電子長筒械具發(fā)射電子束，經(jīng)過一組磁透鏡聚焦聚焦后，用遮蔽孔徑選擇電子束的尺寸后，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡聚焦，打在樣品上，在樣品的上側(cè)裝有訊號接收器，用以擇取二次電子或背向散射電子成像。電子長筒械具的必要特性是亮度要高、電子能量散布要小，目前常用的種類計有三種，鎢(W)燈絲、六硼化鑭燈絲、場發(fā)射，不同的燈絲在電子源大小、電流量、電流穩(wěn)定度及電子源壽命等均有差異。廣西日立分析儀器掃描電鏡哪個廠家比較好掃描電鏡可以在大視場、低放大倍數(shù)下觀察樣品。
掃描電鏡的附件：掃描電鏡一般都配有波譜儀或者能譜儀。波譜儀和能譜儀是不能互相取代的，只能是互相補充。波譜儀是利用布拉格方程2dsinθ=λ，從試樣激發(fā)出了X射線經(jīng)適當(dāng)?shù)木w分光，波長不同的特征X射線將有不同的衍射角2θ。波譜儀是微區(qū)成分分析的有力工具。波譜儀的波長分辨率是很高的，但是由于X射線的利用率很低，所以它使用范圍有限。能譜儀是利用X光量子的能量不同來進行元素分析的方法，對于某一種元素的X光量子從主量子數(shù)為n1的層躍遷到主量子數(shù)為n2的層上時，有特定的能量ΔE=En1-En2。能譜儀的分辨率高，分析速度快，但分辨本領(lǐng)差，經(jīng)常有譜線重疊現(xiàn)象，而且對于低含量的元素分析準(zhǔn)確度很差。
掃描電鏡(SEM)是一種介于透射掃描電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電鏡的分辨率可以達到1nm;放大倍數(shù)可以達到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電鏡和其他分析儀器相結(jié)合,可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有普遍應(yīng)用。因此掃描電鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。掃描電鏡普遍應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)。
掃描電鏡基本知識：掃描電鏡電子光學(xué)系統(tǒng)：由電子長筒械具，電磁透鏡，掃描線圈和樣品室等部件組成。其作用是用來獲得掃描電子束，作為信號的激發(fā)源。為了獲得較高的信號強度和圖像分辨率，掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。信號收集及顯示系統(tǒng)：檢測樣品在入射電子作用下產(chǎn)生的物理信號，然后經(jīng)視頻放大作為顯像系統(tǒng)的調(diào)制信號?，F(xiàn)在普遍使用的是電子檢測器，它由閃爍體，光導(dǎo)管和光電倍增器所組成。真空系統(tǒng)：真空系統(tǒng)的作用是為保證電子光學(xué)系統(tǒng)正常工作，防止樣品污染，一般情況下要求保持10-4~10-5Torr的真空度。掃描電鏡不損傷和污染原始樣品。安順日立分析儀器掃描電鏡報價
掃描電鏡普遍應(yīng)用于地球科學(xué)領(lǐng)域的微觀研究。安順日立分析儀器掃描電鏡報價
掃描電鏡對樣品的要求：四無(無磁、無毒、無污染、無放射性)，三有(具有穩(wěn)定性、干燥性、導(dǎo)電性)，兩不(不發(fā)光、非高溫）。盡量保持樣品原始的表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)。顆?；蚍勰?shù)量要適中，避免團聚;塊狀樣品體積要控制在120mm×80mm×50mm以內(nèi)、高度限制在5～10mm左右。測試的整個流程要注意清潔。為降低樣品污染程度，可事先用酒精或超聲波清洗。觀察成分相的樣品表面應(yīng)盡量光滑，高度差異不可太大，必要時需精細拋光。待測面為錐狀、似錐狀或有明顯棱角、尖角等的突兀狀樣品無法測試。同樣，樣品底面因不平整而阻礙導(dǎo)電處理的樣品需要磨平。安順日立分析儀器掃描電鏡報價
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