相控陣探頭的應(yīng)用方法有哪些?直接接觸法:直接接觸法通常采用斜探頭進(jìn)行橫波檢測(cè),檢測(cè)面為曲面,應(yīng)將探頭斜楔嚴(yán)格按規(guī)程的要求加工成與管子曲面相吻合,利用對(duì)比樣管調(diào)整檢測(cè)靈敏度。通常使用材質(zhì)與試件相同或相近、外徑壁厚也相同的管材制作,按相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制作人工缺陷、調(diào)整靈敏度時(shí),將對(duì)比樣管內(nèi)外壁上的人工缺陷回波高度調(diào)整到規(guī)定高度,進(jìn)行掃查。管材檢測(cè)時(shí),有時(shí)采用雙探頭橫波接觸法,兩個(gè)探頭相背并列,同時(shí)發(fā)射、接收管材中的一個(gè)缺陷的兩個(gè)信號(hào)。直接接觸法在檢驗(yàn)檢疫領(lǐng)域應(yīng)用較為普遍,對(duì)環(huán)境條件要求比較低,容易操作,但現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)工作強(qiáng)度較大,速度較慢。相控陣探頭的靈敏度是指激勵(lì)脈沖波幅與從指定目標(biāo)反射的回波波幅之間的關(guān)系。山東定制相控陣探頭
相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類(lèi)別:晶片數(shù)量:較常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片,有些探頭的晶片多達(dá)256個(gè)。隨著晶片數(shù)量的增多,聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng),同時(shí)檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大,然而探頭和儀器的成本費(fèi)用也會(huì)增加。每個(gè)晶片被單獨(dú)脈沖激勵(lì),以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱(chēng)為主動(dòng)方向或偏轉(zhuǎn)方向。頻率:超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率,因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外,還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭,穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加,而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。山東定制相控陣探頭不同的相控陣探頭陣列排布方式將會(huì)產(chǎn)生不同的聲場(chǎng)特性。
凹面線性相控陣探頭是一種重要的相控陣探頭陣列,在實(shí)際應(yīng)用中往往會(huì)起到很好的探測(cè)效果,如棒材(或管材)質(zhì)量的在線檢測(cè)問(wèn)題,常規(guī)的超聲檢測(cè)方法需要超聲波相控陣探頭或棒材不斷地旋轉(zhuǎn),而采用凹面的相控陣探頭,通過(guò)陣元之間的不同組合使聲束快速地旋轉(zhuǎn)并查掃到各個(gè)部位。目前,上已有利用凹面相控陣探頭對(duì)棒材檢測(cè)的商業(yè)儀器,主要采取線性查掃和扇形查掃的方式來(lái)確定是否存在缺陷。利用凹面線陣,對(duì)棒材(或管材)檢測(cè)時(shí)具有更好的聚焦效果。超聲相控陣檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)在于,通過(guò)軟件還可控制聚焦聲束的角度、聚焦距離以及焦點(diǎn)大小,同時(shí)由于掃描的聲束是聚焦產(chǎn)生的,所以能夠檢測(cè)到分散在不同角度的裂紋,而且能夠在相控陣探頭不移動(dòng)或少移動(dòng)情況下進(jìn)行快速掃查,提高檢測(cè)速度。
相控陣探頭的應(yīng)用:相控陣采用S掃,即同時(shí)可以擁有許多角度的超聲波,就相當(dāng)于擁有多種角度的探頭同時(shí)工作,所以相控陣無(wú)需鋸齒掃查,只要沿著焊縫挪動(dòng)探頭即可,檢測(cè)效率更高。適用于自動(dòng)化生產(chǎn),和批量生產(chǎn)。相控陣可以擁有聚焦功能,而常規(guī)超聲波一般沒(méi)有(除了聚焦探頭外),所以相控陣檢測(cè)的靈敏度和分辨率都比常規(guī)超聲檢測(cè)高。相控陣檢測(cè)可以同時(shí)擁有B掃、D掃、S掃和C掃描,可以通過(guò)建模,建立一個(gè)三維立體圖形,缺陷顯示非常直觀,哪怕不懂NDT的人都能看明白,而常規(guī)超聲波只能通過(guò)波形來(lái)分辨缺陷。相控陣探頭普遍應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域的檢測(cè)。
相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù):超聲相控陣技術(shù)可以檢測(cè)電站汽輪機(jī)葉根的應(yīng)力腐蝕裂紋。汽輪機(jī)的幾何形狀比較復(fù)雜,被檢工件的接觸面有限,在檢測(cè)時(shí)需要保證缺陷漏檢率越小越好,利用超聲相控陣技術(shù)可以根據(jù)應(yīng)用來(lái)優(yōu)化探頭設(shè)計(jì),依據(jù)聲線追蹤功能來(lái)改進(jìn)掃查工藝,同時(shí)還能使用相對(duì)較高的探頭頻率,利用CAD覆蓋功能直觀的顯示缺陷的位置,利用扇形掃查可以進(jìn)行多角度的掃查,因此相比常規(guī)超聲來(lái)說(shuō),檢出率要高,另外由于采用電子掃查取代柵格掃查,因此檢測(cè)速度要快得多。長(zhǎng)期以來(lái),接管的檢測(cè)主要采用常規(guī)超聲的方法,由于接管幾何形狀的復(fù)雜性需要考慮儀器的設(shè)置,接管的壁厚以及曲率效應(yīng)的影響,加上常規(guī)超聲的A掃顯示方式,因此判讀接管缺陷需要耗費(fèi)大量的時(shí)間,國(guó)外的研究表明,結(jié)合自動(dòng)掃查架和編碼器,利用相控陣自動(dòng)掃查接管的內(nèi)表面和外表面是可行的。隨著相控陣探頭晶片數(shù)量的增多,聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng)。山東定制相控陣探頭
相控陣探頭的近場(chǎng)是指接近探頭的區(qū)域。山東定制相控陣探頭
不同陣列排布方式的相控陣探頭:相控陣按陣列形式通??煞譃榫€形、矩陣形、環(huán)形和扇形。相控陣探頭有多種不同的陣列排布形式,其類(lèi)型按陣元排列方式可分為:一維線陣、二維矩陣、環(huán)形陣、扇形陣、凹面陣、凸面陣、雙線型陣等。不同的陣列排布方式將會(huì)產(chǎn)生不同的聲場(chǎng)特性,使相控陣能應(yīng)用于不同工況下的檢測(cè)。20世紀(jì)60年代,相控陣的研究主要局限于實(shí)驗(yàn)室;60年代末70年代初,醫(yī)學(xué)物理學(xué)者將該技術(shù)用于醫(yī)學(xué)人體超聲成像中。2000年后,隨著壓電復(fù)合材料、納秒級(jí)脈沖信號(hào)控制、數(shù)據(jù)處理分析、軟件技術(shù)和計(jì)算機(jī)模擬等多種技術(shù)在超聲相控陣成像領(lǐng)域中的綜合應(yīng)用,超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)得以迅速發(fā)展,并逐步應(yīng)用于工業(yè)無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域。山東定制相控陣探頭
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