昆山檢測(cè)三次元影像測(cè)量?jī)x備件

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-12-07

SPC控制圖(ControlChart)一種對(duì)生產(chǎn)過(guò)程的關(guān)鍵質(zhì)量特性值進(jìn)行測(cè)定、記錄、評(píng)估并監(jiān)測(cè)過(guò)程是否處于控制狀態(tài)的一種圖形方法。較早的控制圖是由美國(guó)貝爾電話實(shí)驗(yàn)室的休姆哈特博士在1924年提出的P圖(PChart),后來(lái)此類(lèi)控制圖都被叫做休姆哈特控制圖,休哈特也被譽(yù)為“統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制SPC之父”。從休姆哈特的P圖算起,SPC理論創(chuàng)立已接近百年。SPC理論創(chuàng)立之初,恰逢美國(guó)大蕭條時(shí)期,該理論當(dāng)時(shí)無(wú)人問(wèn)津。后來(lái)二次世界大戰(zhàn)時(shí),SPC理論在幫助美國(guó)軍方提升武器質(zhì)量方面大顯身手,于是戰(zhàn)后開(kāi)始風(fēng)行全世界。不過(guò)二戰(zhàn)后,美國(guó)無(wú)競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手,產(chǎn)品橫行天下,SPC在美國(guó)并沒(méi)有得到很大的重視。日本二戰(zhàn)戰(zhàn)敗后被美國(guó)接管,為了幫助日本的戰(zhàn)后重建,美國(guó)軍方邀請(qǐng)戴明博士到日本講授SPC理論。1980年日本已居世界質(zhì)量與勞動(dòng)生產(chǎn)率的領(lǐng)導(dǎo)地位,其中一個(gè)重要的原因就是SPC理論的應(yīng)用。1984年日本名古屋工業(yè)大學(xué)調(diào)查了115家日本各行業(yè)的中小型工廠,結(jié)果發(fā)現(xiàn)平均每家工廠采用137張控制圖。因此,SPC無(wú)論是在歐美還是日本,都是非常重要的質(zhì)量改進(jìn)工具,所以大家有必要去深入認(rèn)識(shí)SPC、應(yīng)用SPC和推廣SPC。蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司是一家專(zhuān)業(yè)提供三次元影像測(cè)量?jī)x 的公司。昆山檢測(cè)三次元影像測(cè)量?jī)x備件

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三次元測(cè)量?jī)x的發(fā)展和規(guī)劃的特點(diǎn),也是為我們實(shí)現(xiàn)更多的要求,經(jīng)過(guò)這些發(fā)展和服務(wù)的特點(diǎn),也讓我們?cè)谝晃兜那蠛桶l(fā)展的規(guī)劃,也讓我們?cè)诟嗵攸c(diǎn)中實(shí)現(xiàn)更多要求的格局,只有真正的實(shí)現(xiàn)了三次元測(cè)量?jī)x的潛質(zhì)才能真正了解。精密測(cè)量?jī)x器中,主要包括有二次與影像測(cè)量?jī)x與三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),雖然它們都是高精度測(cè)量?jī)x,但在稱(chēng)呼上也是不盡相同的,每個(gè)儀器都有很多的別稱(chēng),如影像測(cè)量?jī)x、三維影像測(cè)量?jī)x、三次元、自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x、全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x、三次元測(cè)量?jī)x、、影像測(cè)繪儀等等。隨著科技發(fā)展,對(duì)各種工件和零件的測(cè)量精度越來(lái)越高,對(duì)測(cè)量?jī)x器的要求也是越來(lái)越苛刻,三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)繪儀是對(duì)傳統(tǒng)的測(cè)量技術(shù)的飛躍性發(fā)展,是將傳統(tǒng)的光學(xué)投影和計(jì)算機(jī)完美結(jié)合的產(chǎn)物。三次元測(cè)量?jī)x是當(dāng)今工業(yè)檢測(cè)與計(jì)量技術(shù)領(lǐng)域中的一個(gè)新名詞,它**的是數(shù)位科技溶入工業(yè)檢測(cè)與計(jì)量,三次元測(cè)量?jī)x進(jìn)行空間幾何運(yùn)算的先進(jìn)測(cè)量技術(shù)。

MICROVU公司致力于研發(fā)生產(chǎn)精密測(cè)量設(shè)備和精密智能裝備。為國(guó)內(nèi)制造業(yè)及院校、研究所提供測(cè)量技術(shù)及智能裝備。公司秉著“立足于高科技,服務(wù)于企業(yè)”的宗旨,為客戶(hù)提供“專(zhuān)業(yè)、及時(shí)、高效、”的服務(wù)。著力于高科技智能裝備及精密測(cè)量?jī)x器設(shè)備,加大科技研發(fā),提高產(chǎn)品性能,加大新產(chǎn)品,新項(xiàng)目投入.Micro-Vu提供的激光傳感器可單點(diǎn)聚焦和表面掃描,在測(cè)量高度,臺(tái)階,平面度以及輪廓度時(shí)相較于傳統(tǒng)接觸式采點(diǎn)測(cè)量,非接觸式圖像傳感器都有很大的優(yōu)勢(shì)。根據(jù)零件材質(zhì)和表面狀況來(lái)區(qū)分,Micro-Vu**新版INSPEC軟件開(kāi)放PointCloud(點(diǎn)位簇)功能,在使用點(diǎn)掃描或線掃描采集到足夠數(shù)量的樣本點(diǎn)位后,您可以根據(jù)不同的的需求篩選出某一特定區(qū)域(立方體/圓柱體)內(nèi)的點(diǎn)位,或只采集**大/**小的峰值點(diǎn)位,篩選的方式可以是輸入三維坐標(biāo),鼠標(biāo)拖動(dòng)可視化的區(qū)域,直觀高效。三次元影像測(cè)量?jī)x ,就選蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司,讓您滿(mǎn)意,歡迎您的來(lái)電!

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VF7是由美國(guó)Micro-Vu**新研制的全自動(dòng)的數(shù)字化影像測(cè)量?jī)x,集結(jié)了影像測(cè)量?jī)x的高性能,高精度和高速度,操作簡(jiǎn)單。創(chuàng)新的系統(tǒng),并使用強(qiáng)大的InSpec測(cè)量軟件,確保用**便捷的方式獲取所需的所有尺寸的信息,并保證精度。一鍵即可完成所需的所有測(cè)量,包括距離、半徑、直徑、角度、真直度、真圓度,直接在機(jī)器面板上即時(shí)回饋測(cè)量結(jié)果是否合格,對(duì)生產(chǎn)工件進(jìn)行精確而客觀的質(zhì)量檢測(cè)。與Micro-Vu的影像測(cè)量?jī)x采用相同的InSpec測(cè)量軟件,結(jié)合直覺(jué)窗口和下拉式菜單,人性化操作,用戶(hù)接口功能強(qiáng)大,采用先進(jìn)的點(diǎn)選模式即可建立測(cè)量程序,操作人員或程序編輯人員在短時(shí)間內(nèi)即可學(xué)會(huì)。VF7所使用的InSpec界面中,增加了影像窗口縮略圖,可滾動(dòng)縮放窗口,方便取點(diǎn),OK/NG視窗直接對(duì)測(cè)量工作作出是否通過(guò)檢測(cè)的判斷,直觀明了。三次元影像測(cè)量?jī)x蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司 服務(wù)值得放心。進(jìn)口三次元影像測(cè)量?jī)x規(guī)格

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