硅光芯片耦合測試系統(tǒng)組件裝夾完成后,主要是通過校正X,Y和Z方向的偏差來進行的初始光功率進行耦合測試的,圖像處理軟件能自動測量出各項偏差,然后軟件驅動運動控制系統(tǒng)和運動平臺來補償偏差,以及給出提示,繼續(xù)手動調整角度滑臺。當三個器件完成初始定位,同時確認其在Z軸方向的相對位置關系后,這時需要確認輸入光纖陣列和波導器件之間光的耦合對準。點擊找初始光軟件會將物鏡聚焦到波導器件的輸出端面。通過物鏡及初始光CCD照相機,可以將波導輸出端各通道的近場圖像投射出來,進行適當耦合后,圖像會被投射到顯示器上。硅光芯片自動耦合系統(tǒng),通過圖像識別實現(xiàn)關鍵步驟的自動化。吉林單模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)使用到一些有視覺輔助地初始光耦合的步驟是屬于耦合工藝的一部分。在此工藝過程中,輸入及輸出光纖陣列和波導輸入及輸出端面的距離大約是100~200微米,以便通過使用機器視覺精密地校準預粘接間隙的測量,為后面必要的旋轉耦合留出安全的空間。旋轉耦合技術的原理。大體上來講,旋轉耦合是通過使用線性偏移測量及旋轉移動相結合的方法,將輸出光纖陣列和波導的的第1個及結尾一個通道進行耦合,并作出必要的更正調整。輸出光纖陣列的第1個及結尾一個通道和兩個光探測器相聯(lián)接。浙江光子晶體硅光芯片耦合測試系統(tǒng)哪里有硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片的好處:片內具有快速RAM,通??赏ㄟ^單獨的數(shù)據(jù)總線在兩塊中同時訪問。
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是比較關鍵的,我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性,硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要控制“信號弱”,“易掉話”,“找網(wǎng)慢或不找網(wǎng)”,“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環(huán)境對設備EMC干擾的方法與實際使用環(huán)境存在較大差異,所以“信號類”返修量一直占有較大的比例。可見,硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是一個需要嚴謹?shù)年P鍵崗位,在利用金機調好衰減(即線損)之后,功率無法通過的,必須進行維修,而不能隨意的更改線損使其通過測試,因為比較可能此類機型在開機界面顯示滿格信號而在使用過程中出現(xiàn)“掉話”的現(xiàn)象,給設備質量和信譽帶來負面影響。以上是整機耦合的原理和測試存在的意義,也就是設備主板在FT測試之后,還要進行組裝硅光芯片耦合測試系統(tǒng)的原因。
只要在確認耦合不過的前提下,可依次排除B殼天線、KB板和同軸線的故障進行維修。若以上一一排除,則是主板參數(shù)校準的問題,或者說是主板硬件存在故障。耦合天線的種類比較多,有塔式、平板式、套筒式,常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)。為防止外部環(huán)境的電磁干擾搭載屏蔽箱,來提高耦合直通率。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是比較關鍵的,我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性,硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要控制“信號弱”,“易掉話”,“找網(wǎng)慢或不找網(wǎng)”,“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環(huán)境對設備EMC干擾的方法與實際使用環(huán)境存在較大差異,所以“信號類”返修量一直占有較大的比例??梢?,硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是一個需要嚴謹?shù)年P鍵崗位。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片的好處:支持流水線操作,使取指、譯碼和執(zhí)行等操作可以重疊執(zhí)行。
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)的服務器為完成設備控制及自動測試應包含有自動化硅光芯片耦合測試系統(tǒng)服務端程序,可以使用于根據(jù)測試站請求信息分配測試設備,并自動切換光矩陣進行自動測試。服務器連接N個測試站、測試設備、光矩陣。其中N個測試站連接由于非占用式特性采用網(wǎng)口連接方式;測試設備包括可調激光器、偏振控制器和多通道光功率計,物理連接采用GPIB接口、串口或者USB接口;光矩陣連接采取串口。自動化硅光芯片耦合測試系統(tǒng)服務端程序包含三個功能模塊:多工位搶占式通信、設備自動測試、測試指標運算;設備自動測試過程又包含如下三類:偏振態(tài)校準、存光及指標測試。IC測試架是一種檢測和診斷集成電路的設備,它可以通過模擬信號的方式,檢測集成電路的功能和性能。浙江光子晶體硅光芯片耦合測試系統(tǒng)哪里有
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)優(yōu)點:功耗低。吉林單模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)
在光芯片領域,芯片耦合封裝問題是硅光芯片實用化過程中的關鍵問題,芯片性能的測試也是尤其重要的一個步驟,現(xiàn)有的硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是將光芯片的輸入輸出端光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調架轉軸進行調光,并依靠對輸出光的光功率進行監(jiān)控,再反饋到微調架端進行調試。芯片測試則是將測試設備按照一定的方式串聯(lián)連接在一起,形成一個測試站。具體的,所有的測試設備通過光纖,設備連接線等連接成一個測試站。例如將VOA光芯片的發(fā)射端通過光纖連接到光功率計,就可以測試光芯片的發(fā)端光功率。將光芯片的發(fā)射端通過光線連接到光譜儀,就可以測試光芯片的光譜等。吉林單模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)