更換測頭時，因為測針長度是測頭自動校正的重要參數(shù)，如果出現(xiàn)錯誤，會造成測針的非正常碰撞，輕者碰壞測針，重則造成測頭損壞。一定要注意。正確輸入標(biāo)準球直徑。從以上所述的校正測頭的原理中可以得知，標(biāo)準球直徑值直接影響測針寶石球直徑的校正值。雖然這是一個“小概率事件”，但是對初學(xué)者來說，這是可能發(fā)生的。測頭校正是測量過程中的重要環(huán)節(jié)，在校正中產(chǎn)生的誤差將加入到測量結(jié)果中，尤其是使用組合測頭(多測頭角度、位置和測針長度)時，校正的準確性特別重要。當(dāng)發(fā)現(xiàn)問題再重新檢查測頭校正的效果，會浪費寶貴的時間和增加大量的工作量。紅外線測頭是接觸式觸發(fā)測頭。上海雷尼紹測頭生產(chǎn)廠
雷尼紹加長桿測針： 關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括： TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）， TP200測針模塊—選擇固定超程測力：SF（標(biāo)準測力）或LF（低測力）， PI200測頭接口， SCR200測針交換架， 還有一種EO模塊（長超程），超程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。 零復(fù)位誤差， 快速測頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測尖， TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。江蘇RENISHAW三坐標(biāo)測針價位由安裝牢固的測針組成的多測尖測針配置。測球材質(zhì)為紅寶石、氮化硅或氧化鋯。
盤形測針：在球的中心附近截斷做成的盤模樣的測頭；盤形斷面的形象因為是球，所以校正原理和球形測頭相同；利用外側(cè)直徑部分或厚度部分進行測量；適用于測量瓶頸面間的尺寸, 槽的寬或形象等的；利用環(huán)規(guī)校正較便利。星形測針：用于多形態(tài)的多樣工件測量；同時校正并使用多個測頭，所以可以使測頭運動小化，并測量側(cè)面的孔或槽等；使用和球形測頭一樣的方法進行校正。點式測針：一般的XY測量時不使用；用于測量精密度低的螺絲槽,標(biāo)示的點或裂紋劃痕等；比起使用具有半徑的點式測頭的情況，可能精密的進行校正，用于測量非常小的孔的位置等。
三坐標(biāo)測針是三坐標(biāo)測量機的測頭系統(tǒng)的組成部分，主要用來觸測工件表面，通過測頭的機械裝置移位，產(chǎn)生信號觸發(fā)并采集測量數(shù)據(jù)。現(xiàn)在市場上應(yīng)用的是紅寶石材質(zhì)的測針。對于接觸式探測而言，選用正確的三坐標(biāo)測針可以保證測量的準確性，以及測量的效率。對于測針來講，選擇三坐標(biāo)測針時應(yīng)盡可能選擇大測球的測針進行測量。大測球的測針能增大測球大徑到測針桿表面的距離，從而減少碰撞測針引起誤觸發(fā)的概率。由于被測工件的表面光潔度對三坐標(biāo)測量結(jié)果的準確性直接影響，所以，在三坐標(biāo)測量時，測針測球直徑越大，對測工件表面光潔度的要求越低。測針是三坐標(biāo)測量的重要部件，在測量中測針的正確選擇往往會影響整個測量過程。
由5根安裝牢固的測針組成的星形測針：按機器測頭實際配置進行虛擬測頭裝配的過程。通過測頭的裝配，可以確定機器所裝配測頭的相關(guān)參數(shù)。選擇“操作選擇工具條”中的“測頭”（快捷鍵Ctrl+F2）），選擇“構(gòu)建測頭”,進入構(gòu)建測頭界面。在使用探頭測量前，必須進行探頭校驗，以確定探頭補償?shù)拇笮 ５?次校驗需要選中“更新校驗規(guī)”，手動操作機器校準一遍測頭（在標(biāo)準球正上方觸測一點，赤道處觸測三點）。注意事項:（1）使用時，通常使用20mm加長桿；（2）注意：每添加一個角度，5個測尖同時添加此角度，若不采用某測尖的此角度，可刪除之。測針主要用來觸測工件表面，通過測頭的機械裝置移位，產(chǎn)生信號觸發(fā)并采集測量數(shù)據(jù)。江蘇RENISHAW三坐標(biāo)測針價位
盤形測針在球的中間鄰近截斷做成的盤容貌的測頭。上海雷尼紹測頭生產(chǎn)廠
大多數(shù)測針的測尖是一個球頭，常見的材料是人造紅寶石。 此類測尖球度（圓度）的任何誤差都可能成為坐標(biāo)機測量不確定度的一個影響因素，這很可能造成坐標(biāo)機精度降低10%之多。紅寶石測球有各種定義為“等級”的精度級別，指的是測球與理想球面的大偏移量。 兩種常用的測球指標(biāo)是5級和10級（等級越低測球越好）。 測球等級由5級“降”到10級，測針可能會節(jié)約些許成本，但極有可能影響到所謂5:1比率的理論。問題是，測球等級無法用肉眼識別，在測量結(jié)果中所起的作用并不明顯，因此難以估計它是否重要。 一種辦法是，將5級測球指定為標(biāo)準配置： 這種測球成本也許略高了一點，但如嚴重到讓合格零件變成廢品，與不合格品的高風(fēng)險相比，這點成本是微不足道的。 毋庸置疑，坐標(biāo)測量機精度越高，測球等級的重要性就越大。 在高規(guī)格的坐標(biāo)測量機上，由于測針選擇不當(dāng)測量精度多會損失10%。上海雷尼紹測頭生產(chǎn)廠
上海永慈機電科技有限公司是一家?guī)缀螠y試設(shè)備：輪廓儀、圓柱度儀、粗糙度儀、測長儀、軸類測量儀、3D形貌儀、投影儀、影像儀、 機床校準設(shè)備（激光干涉儀、球桿儀）三坐標(biāo)測量儀、三坐標(biāo)配件（測針、傳感器、測頭）、比對儀 3D打印機、光柵尺、三維掃描儀（GOM）、工業(yè)CT & X-Ray 、光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、掃描電鏡、量具 材料測試設(shè)備：萬能試驗機、扭轉(zhuǎn)試驗機、疲勞試驗機、金相切割機、鑲嵌、磨拋、耗材、金相顯微鏡、硬度儀 理化分析儀器：直讀光譜儀、手持光譜儀、紅外光譜儀、CS分析儀、ONH分析儀、氣相色譜儀、液相色譜儀、 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、熱分析裝置、分光分度計（紫外、熒光、原子吸收）、總有機碳分析儀 非標(biāo)定制設(shè)備：接骨螺釘篩選儀、標(biāo)簽識別系統(tǒng)、UDI視覺檢測、非標(biāo)自動包裝流水線、接骨螺釘F543測試設(shè)備 加工設(shè)備：機械手拋光系統(tǒng)、五軸加工中心（立式、臥式） 的公司，是一家集研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司。上海永慈作為幾何測試設(shè)備：輪廓儀、圓柱度儀、粗糙度儀、測長儀、軸類測量儀、3D形貌儀、投影儀、影像儀、 機床校準設(shè)備（激光干涉儀、球桿儀）三坐標(biāo)測量儀、三坐標(biāo)配件（測針、傳感器、測頭）、比對儀 3D打印機、光柵尺、三維掃描儀（GOM）、工業(yè)CT & X-Ray 、光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、掃描電鏡、量具 材料測試設(shè)備：萬能試驗機、扭轉(zhuǎn)試驗機、疲勞試驗機、金相切割機、鑲嵌、磨拋、耗材、金相顯微鏡、硬度儀 理化分析儀器：直讀光譜儀、手持光譜儀、紅外光譜儀、CS分析儀、ONH分析儀、氣相色譜儀、液相色譜儀、 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、熱分析裝置、分光分度計（紫外、熒光、原子吸收）、總有機碳分析儀 非標(biāo)定制設(shè)備：接骨螺釘篩選儀、標(biāo)簽識別系統(tǒng)、UDI視覺檢測、非標(biāo)自動包裝流水線、接骨螺釘F543測試設(shè)備 加工設(shè)備：機械手拋光系統(tǒng)、五軸加工中心（立式、臥式） 的企業(yè)之一，為客戶提供良好的輪廓儀，粗糙度儀，圓度儀，三坐標(biāo)測量儀。上海永慈繼續(xù)堅定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。上海永慈創(chuàng)始人唐軍，始終關(guān)注客戶，創(chuàng)新科技，竭誠為客戶提供良好的服務(wù)。