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（3）X射線強度測量系統(tǒng)。特征X射線，由B系統(tǒng)中的計數(shù)管接收，并轉(zhuǎn)換成電脈沖，通過脈沖高度分析儀、計數(shù)率計、定標器、電子電位計將其強度測量出來。（4）光學顯微鏡目測系統(tǒng)。用以準確選擇需要分析的區(qū)域，并作光學觀察。（5）背散射電子圖像系統(tǒng)。（6）吸收電子圖像系統(tǒng)。（7）特征X射線圖像系統(tǒng)。電子探針的技術(shù)**是利用X射線晶體光學，主要應(yīng)用兩種方法：1）晶體衍射法（X射線光譜法）。利用晶體轉(zhuǎn)到一定角度，來衍射某種波長的X射線，通過讀出晶體不同的衍射角，求出X射線的波長，從而定出樣品所含的元素。這種神秘的Wi-Fi探針,實際是“WiFi信道掃描工具”。黃浦區(qū)標準探針現(xiàn)價

進行分子突變需要大量的探針拷貝，后者一般是通過分子克?。╩olecular cloning）獲得的?？寺∈侵赣脽o性繁殖方法獲得同一個體、細胞或分子的大量復(fù)制品。當制備基因組DNA探針前，應(yīng)先制備基因組文庫，即把基因組DNA打斷，或用限制性酶作不完全水解，得到許多大小不等的隨機片段，將這些片段體外重組到運載體（噬菌體、質(zhì)粒等）中去，再將后者轉(zhuǎn)染適當?shù)乃拗骷毎绱竽c肝菌，這時在固體培養(yǎng)基上可以得到許多攜帶有不同DNA片段的克隆噬菌斑，通過原位雜交，從中可篩出含有目的基因片段的克隆，然后通過細胞擴增，制備出大量的探針。青浦區(qū)特制探針品牌掃描電子探針儀是美國于1960年制成，不僅能對試樣作點或微區(qū)分析，而且能對樣品表面微區(qū)進行掃描。

基因探針，即核酸探針，是一段帶有檢測標記，且順序已知的，與目的基因互補的核酸序列(DNA或RNA)。基因探針通過分子雜交與目的基因結(jié)合，產(chǎn)生雜交信號，能從浩瀚的基因組中把目的基因顯示出來。根據(jù)雜交原理，作為探針的核酸序列至少必須具備以下兩個條件：①應(yīng)是單鏈，若為雙鏈，必須先行變性處理。②應(yīng)帶有容易被檢測的標記。它可以包括整個基因，也可以**是基因的一部分；可以是DNA本身，也可以是由之轉(zhuǎn)錄而來的RNA。DNA探針根據(jù)其來源有3種：一種來自基因組中有關(guān)的基因本身，稱為基因組探針（genomic probe）；另一種是從相應(yīng)的基因轉(zhuǎn)錄獲得了mRNA，再通過逆轉(zhuǎn)錄得到的探針，稱為cDNA探針（cDNA probe）。與基因組探針不同的是，cDNA探針不含有內(nèi)含子序列。此外，還可在體外人工合成堿基數(shù)不多的與基因序列互補的DNA片段，稱為寡核苷酸探針。

2.界面探針(Interface Probes)非標準的探針，一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne）和安捷倫（Agilent）．用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面．3.微型探針（MicroSeries Probes）兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm．4.開關(guān)探針（Switch Probes）開關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流．5.高頻探針（Coaxial Probes）用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes）彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試．X射線譜儀。測量各種元素產(chǎn)生的X射線波長和強度，并以此對微小體積中所含元素進行定性和定量分析。

電子探針可以對試樣中微小區(qū)域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析?？梢赃M行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量（預(yù)置9999測試點）定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡便（相對復(fù)雜的化學分析方法而言）、實驗結(jié)果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優(yōu)點，故在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學、考古以及其它領(lǐng)域中得到日益***地應(yīng)用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具?？梢赃M行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。青浦區(qū)特制探針品牌

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利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數(shù)。分析前要根據(jù)試驗?zāi)康闹苽錁悠?，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。定性分析1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號同時檢測和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特征X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像。可見，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強。黃浦區(qū)標準探針現(xiàn)價

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