面部識別、從圖像的特征提取等)、以及改善機器人及其環(huán)境之間的交互的機器人學(xué)在內(nèi)的很多領(lǐng)域有用。但是，仍然有很多與sli相關(guān)聯(lián)的未解決的問題。技術(shù)實現(xiàn)要素：本申請一方面提供了一種激光源。該激光源包括：襯底；一個或多個***垂直腔面發(fā)射激光器(vcsel)結(jié)構(gòu)，一個或多個***vcsel結(jié)構(gòu)在襯底的表面上，其中每個***vcsel結(jié)構(gòu)具有***孔徑寬度，并且每個***vcsel結(jié)構(gòu)單獨地在襯底的表面上方延伸；以及一個或多個第二vcsel結(jié)構(gòu)，一個或多個第二vcsel結(jié)構(gòu)在襯底的表面上，其中每個第二vcsel結(jié)構(gòu)具有不同于***孔徑寬度的第二孔徑寬度，并且每個第二vcsel結(jié)構(gòu)單獨地在襯底的表面上方延伸。本申請另一方面提供了一種光投影儀系統(tǒng)。該光投影儀系統(tǒng)包括：激光源，被配置為生成向物體發(fā)送的輻射，以及圖像傳感器，被配置為接收從物體反射的輻射。該激光源包括：襯底，一個或多個***vcsel結(jié)構(gòu)，一個或多個***vcsel結(jié)構(gòu)在襯底的表面上，其中每個***vcsel結(jié)構(gòu)具有***孔徑寬度，并且每個***vcsel結(jié)構(gòu)單獨地在襯底的表面上方延伸，以及一個或多個第二vcsel結(jié)構(gòu)，一個或多個第二vcsel結(jié)構(gòu)在襯底的表面上，其中每個第二vcsel結(jié)構(gòu)具有不同于***孔徑寬度的第二孔徑寬度。菲涅爾透鏡投影儀生產(chǎn)廠家電話多少？珠海led菲涅爾透鏡
菲涅爾透鏡使用普通的凸透鏡，會出現(xiàn)邊角變暗、模糊的現(xiàn)象，這是因為光的折射只發(fā)生在介質(zhì)的交界面，凸透鏡片較厚，光在玻璃中直線傳播的部分會使得光線衰減。如果可以去掉直線傳播的部分，只保留發(fā)生折射的曲面，便能省下大量材料同時達到相同的聚光效果。菲涅爾透鏡就是采用這種原理的。菲涅爾透鏡看上去像一片有無數(shù)多個同心圓紋路（即菲涅爾帶)的玻璃，卻能達到凸透鏡的效果，如果投射光源是平行光，匯聚投射后能夠保持圖像各處亮度的一致。東莞紅外 菲涅爾透鏡菲涅爾透鏡玻璃包括哪些構(gòu)件？
b)為高斯聲波經(jīng)過聚焦透鏡的聲壓場測試結(jié)果，(c)為高斯聲波經(jīng)過發(fā)散透鏡的聲壓場測試結(jié)果，(d)為高斯聲波經(jīng)過偏折透鏡的聲壓場測試結(jié)果，(e)為高斯聲波經(jīng)過高透射透鏡的聲壓場測試結(jié)果；圖9是本實用新型實施例中旋轉(zhuǎn)可調(diào)的多功能二維聲學(xué)超材料透鏡在4000hz下的實驗結(jié)果，(a)為高斯聲波在空氣中的聲壓場測試結(jié)果，(b)為高斯聲波經(jīng)過聚焦透鏡的聲壓場測試結(jié)果，(c)為高斯聲波經(jīng)過發(fā)散透鏡的聲壓場測試結(jié)果，(d)為高斯聲波經(jīng)過偏折透鏡的聲壓場測試結(jié)果，(e)為高斯聲波經(jīng)過高透射透鏡的聲壓場測試結(jié)果；圖10是本實用新型實施例中旋轉(zhuǎn)可調(diào)的多功能二維聲學(xué)超材料透鏡在9000hz下的實驗結(jié)果，(a)為高斯聲波在空氣中的聲壓場測試結(jié)果，(b)為高斯聲波經(jīng)過聚焦透鏡的聲壓場測試結(jié)果，(c)為高斯聲波經(jīng)過發(fā)散透鏡的聲壓場測試結(jié)果，(d)為高斯聲波經(jīng)過偏折透鏡的聲壓場測試結(jié)果，(e)為高斯聲波經(jīng)過高透射透鏡的聲壓場測試結(jié)果。具體實施方式下面結(jié)合實施例和說明書附圖對本實用新型作進一步的說明。以下實施例*是本實用新型的推薦實施方式，應(yīng)當(dāng)指出：對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以做出若干改進和等同替換。
圖3示出了根據(jù)實施例的光源202或者光源202的至少一部分的自頂向下的視圖。光源202包括襯底302，該襯底具有布置在襯底302的表面上的多個vcsel結(jié)構(gòu)304。在一些實施例中，襯底302可以是：包括第iv族半導(dǎo)體材料(例如，si、ge、sige)、第iii-v族半導(dǎo)體材料(例如，gaas、gaassb、gaasin)、和/或根據(jù)本公開將明白的任何一種或多種其他適當(dāng)材料的大塊襯底；絕緣體上的x(xoi)結(jié)構(gòu)，其中，x是前述材料(例如，第iv和/或iii-v族半導(dǎo)體材料)之一，絕緣體材料是氧化物材料或介電材料或者一些其他電絕緣材料，從而xoi結(jié)構(gòu)包括兩個半導(dǎo)體層之間的電絕緣材料層；或者一些其他適當(dāng)?shù)亩鄬咏Y(jié)構(gòu)，其中，頂層包括前述半導(dǎo)體材料(例如，第iv和/或iii-v族半導(dǎo)體材料)之一。這里使用的“第iv族半導(dǎo)體材料”(或“第iv族材料”或統(tǒng)稱“iv”)在包括至少一種第iv族元素(例如，硅、鍺、碳、錫)，例如，硅(si)、鍺(ge)、硅鍺(sige)等。這里使用的“第iii-v族半導(dǎo)體材料”(或“第iii-v族材料”或統(tǒng)稱“ii-v”)包括至少一種第iii族元素(例如，鋁、鎵、銦)和至少一種第v族元素(例如，氮、磷、砷、銻、鉍)，例如，砷化鎵(gaas)、砷化鎵銦(ingaas)、砷化鋁銦(inalas)、磷化鎵(gap)、銻化鎵(gasb)、磷化銦。菲涅爾透鏡常見問題有哪些？
適當(dāng)?shù)慕Y(jié)構(gòu)化光投影儀通常包括激光設(shè)備，該激光設(shè)備采用衍射圖案實現(xiàn)期望的結(jié)構(gòu)化光圖案。一個示例激光設(shè)備是結(jié)合激光條紋使用的垂直腔面發(fā)射激光器(vcsel)。但是，存在與這種配置相關(guān)聯(lián)的局限。例如，使用激光條紋獲取精確的剖面信息的局限主要歸因于與激光相關(guān)聯(lián)的噪聲和采樣誤差，因為激光條紋的中心可能不是在相機的像素中心成像并且可能不是檢測到的強度峰值。當(dāng)在圖像上定位激光條紋的中心時出現(xiàn)采樣誤差。存在嘗試從激光條紋提取相關(guān)信息的諸如，比較大強度、強度中心、高斯擬合、以及過零點之類的圖像處理技術(shù)。與這些技術(shù)中的若干技術(shù)相關(guān)聯(lián)的問題在于，其給出了比較高峰值的位置，但是該位置不是條紋的真實中心。與激光相關(guān)聯(lián)的噪聲主要采取激光斑點的形式，該激光斑點當(dāng)從該部分的表面被反射出來時是激光的強度剖面的振蕩并且是由激光的相干導(dǎo)致的。可以使用對接收的圖像的數(shù)字后處理來補償激光斑點。但是，這會是計算密集的并且導(dǎo)致相對較高的功率消耗，并且進一步導(dǎo)致3d圖像的創(chuàng)建的延遲。因此，根據(jù)本公開的實施例，結(jié)構(gòu)化光投影儀采用新型激光源設(shè)計，該激光源設(shè)計在相對于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)不增加計算負(fù)擔(dān)的條件下減少或基本消除了激光斑點。另外。菲涅爾透鏡歷史檢測技術(shù)。應(yīng)用菲涅爾透鏡供應(yīng)
菲涅爾透鏡作用發(fā)展現(xiàn)狀。珠海led菲涅爾透鏡
本申請大體涉及成像領(lǐng)域，具體地涉及高計算效率的結(jié)構(gòu)化光成像系統(tǒng)。背景技術(shù)：創(chuàng)建3d圖像的一種途徑被稱為結(jié)構(gòu)化光照明(sli)技術(shù)。在sli技術(shù)中，光圖案被投射到3d物體表面上。sli系統(tǒng)包括相機和投影儀(照明器)。3d物體被放置在與投影儀和相機相距預(yù)定距離的參考平面上。在使用中，投影儀將結(jié)構(gòu)化光圖案投射到3d物體表面上。結(jié)構(gòu)化光圖案可以是一系列條紋線或網(wǎng)格或任何其他圖案。當(dāng)結(jié)構(gòu)化光圖案被投射到3d物體表面上時，其被3d物體表面扭曲。相機捕捉在結(jié)構(gòu)化光圖案中具有的扭曲的3d物體表面的圖像。然后，圖像被存儲在圖像文件中，以供圖像處理設(shè)備處理。在一些情況下，多個結(jié)構(gòu)化光圖案被投影儀(照明器)投射到3d物體表面上，并且具有結(jié)構(gòu)化光圖案的3d物體的多個圖像被相機捕捉。在圖像文件的處理期間，對結(jié)構(gòu)化光圖案中的扭曲進行分析，并且執(zhí)行計算以確定3d物體表面上的各個點相對于參考表面的參考測量結(jié)果。這種圖像處理使用標(biāo)準(zhǔn)測距或三角測量方法。相機和投影圖案之間的三角測量角導(dǎo)致與表面的深度直接相關(guān)的扭曲。一旦這些測距技術(shù)被用來確定3d物體表面上的多個點的位置，則3d物體的3d數(shù)據(jù)表示即可被創(chuàng)建。3d物體的數(shù)字再造在包括圖像識別(例如。珠海led菲涅爾透鏡
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