奧林巴斯合金分析儀采用X射線熒光(XRF)技術(shù),這是一種獲得材料元素組成的技術(shù)。只需少量的樣品制備,您就可以在1秒鐘內(nèi)獲得某些合金的結(jié)果,或在60秒鐘內(nèi)獲得某些地質(zhì)樣品的結(jié)果。并且XRF是無(wú)損的。那么什么奧林巴斯合金分析儀更好用?該款合金分析儀是一個(gè)堅(jiān)固的工具,它必須經(jīng)受住在惡劣環(huán)境中正常工作的嚴(yán)酷考驗(yàn)。分析儀經(jīng)受住了4英尺跌落試驗(yàn),可在-10°C至50°C(14°F至122°F)的溫度范圍內(nèi)連續(xù)運(yùn)行。我們對(duì)分析儀的堅(jiān)固性很有信心,每臺(tái)都有標(biāo)準(zhǔn)的3年保修期。另外三個(gè)重要的進(jìn)步是:1、為分析儀供電的Axon技術(shù);2、開(kāi)發(fā)了一個(gè)新的“類(lèi)似智能手機(jī)”的用戶界面;3、可選的無(wú)線連接。在XRF分析儀的分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來(lái)的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。北京DE-2000合金分析儀生產(chǎn)
不同的物質(zhì)結(jié)果不一致，那是肯定的就算同是合金材料也分鐵、鋁、鎂等不同元素組成。被檢測(cè)的樣品越小越好，樣品大小和儀器的顯示屏差距不大是較好，如果檢測(cè)樣品過(guò)于龐大，比較容易出現(xiàn)樣品元素組成不一樣，導(dǎo)致元素的含量與成分結(jié)果就不一樣。XRF分析儀，有個(gè)很明顯的特點(diǎn)，就是對(duì)樣品的厚度有一定限制，特別是很多合金樣品可能會(huì)在材料商涂層銅、金屬、塑膠，這個(gè)時(shí)候檢測(cè)材質(zhì)需要對(duì)樣品的表層進(jìn)行處理，才能保證檢測(cè)結(jié)果的精確。工業(yè)產(chǎn)品普遍使用涂層，因?yàn)榇蠖鄶?shù)涂層都起到了非常重要的作用。鎳具有堅(jiān)韌、耐用、延展性好的特性，因而成為一種廣受歡迎的涂料。根據(jù)ASTM針對(duì)鋼材料產(chǎn)品的較好表面處理所推薦的標(biāo)準(zhǔn)，烤面包機(jī)、華夫餅機(jī)、烤肉機(jī)，以及類(lèi)似的電器用品都應(yīng)該使用約10微米的鎳涂層。鎳還具有防潮的性能，因此爐灶的上表面、家具、浴室配件和廚柜也會(huì)使用鎳涂層。另一種廣受歡迎的涂料是鉻，鉻與鎳的性能相似，而且，具有更強(qiáng)的抗腐蝕和抗磨損的性能。河南光譜分析儀銷(xiāo)售若您是在廢品堆場(chǎng)中分揀合金和金屬，您所需要的基本工具都會(huì)是一款手持式X射線熒光（XRF）分析儀。
合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于**、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和***制造領(lǐng)域必不可少的快速成份鑒定工具。手持式合金分析儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成。手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。
在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來(lái)的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將較里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中，它們會(huì)釋放出能量，我們稱(chēng)之為二次X射線光子。而整個(gè)過(guò)程則稱(chēng)為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來(lái)的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。XRF分析儀作為精密元素分析儀器之一，功能十分強(qiáng)大。
當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí)，如果其能量大于或等于原子某軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，對(duì)應(yīng)的形成一個(gè)空穴，使原子處于激發(fā)狀態(tài)。K層電子被擊出稱(chēng)為K激發(fā)態(tài)，同樣L層電子被擊出稱(chēng)為L(zhǎng)激發(fā)態(tài)。此后在很短時(shí)間內(nèi)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，以降低原子能級(jí)。當(dāng)空穴產(chǎn)生在K層，不同外層的電子(L、M、N...層)向空穴躍遷時(shí)放出的能量各不相同，產(chǎn)生的一-系列輻射統(tǒng)稱(chēng)為K系輻射。同樣，當(dāng)空穴產(chǎn)生在L層，所產(chǎn)生一系列輻射則統(tǒng)稱(chēng)為L(zhǎng)系輻射。當(dāng)較外層的電子躍遷(符合量子力學(xué)理論)至內(nèi)層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產(chǎn)生了X熒光。X熒光的能量與入射的能量無(wú)關(guān)，它只等于原子兩能級(jí)之間的能量差。由于能量差完全由該元素原子的殼層電子能級(jí)決定；故稱(chēng)之為該元素的特征X射線，也稱(chēng)熒光X射線或X熒光。合金分析儀可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)（λ）及能量（E）確定具體元素。江西分析儀廠家
配備了涂層方式的Vanta分析儀可以測(cè)量金屬等，甚至木材表面的涂層厚度，且可測(cè)量多層涂層的厚度。北京DE-2000合金分析儀生產(chǎn)
分析儀可以在-10 °C到50 °C的溫度范圍內(nèi)連續(xù)正常工作，因此操作人員只需很短的時(shí)間等待分析儀冷卻。** C系列和M系列型號(hào)分析儀配備有探測(cè)器快門(mén)閘保護(hù)，可避免分析儀受到穿孔損傷，因此用戶可以對(duì)粗糙的表面進(jìn)行分析，而絲毫不用擔(dān)心分析儀會(huì)損壞。 M系列分析儀符合IP64評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。 帶有可選風(fēng)扇。 風(fēng)扇裝配件符合IP56評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。 在33 °C沒(méi)有風(fēng)扇的情況下，可以連續(xù)工作。 改進(jìn)創(chuàng)新 從一次檢測(cè)開(kāi)始直到一百次檢測(cè)，Vanta分析儀每次都能為用戶提供相同的精確結(jié)果。 Vanta系列分析儀所特有的Axon技術(shù)，使用**噪聲電子設(shè)備，在每秒鐘之內(nèi)可達(dá)到更高的X射線計(jì)數(shù)率，從而可以更快的速度獲得精確的、重復(fù)性非常高的結(jié)果。 由于Vanta分析儀將Axon技術(shù)與新款四核處理器結(jié)合在一起使用，因而這款分析儀具有非同尋常的響應(yīng)能力，在操作性能上達(dá)到新的突破，可使用戶在短時(shí)間內(nèi)獲得更值得信賴的分析結(jié)果。 Axon技術(shù)可使不同Vanta儀器的各次檢測(cè)都具有非同一般的高重復(fù)性能，因此無(wú)論用戶使用的是哪臺(tái)儀器，其一次檢測(cè)與其較后一次檢測(cè)都會(huì)是相同的。北京DE-2000合金分析儀生產(chǎn)