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取向分析包括測定單晶取向和多晶的結(jié)構(gòu)(如擇優(yōu)取向)。測定硅鋼片的取向就是一例。另外,為研究金屬的范性形變過程,如孿生、滑移、滑移面的轉(zhuǎn)動等,也與取向的測定有關(guān)。晶粒(嵌鑲塊)大小和微觀應(yīng)力的測定由衍射花樣的形狀和強度可計算晶粒和微應(yīng)力的大小。在形變和熱處理過程中這兩者有明顯變化,它直接影響材料的性能。宏觀應(yīng)力的測定宏觀殘留應(yīng)力的方向和大小,直接影響機器零件的使用壽命。利用測定點陣平面在不同方向上的間距的改變,可計算出殘留應(yīng)力的大小和方向。上海澤權(quán)衍射儀誠信經(jīng)營。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)!宿遷衍射儀大概多少錢
由于原子在晶體中是周期排列的,這些散射球波之間存在固定的相位關(guān)系,會導致在某些散射方向的球面波相互加強,而在某些方向上相互抵消,從而出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是的,因此對應(yīng)的衍射花樣是的,類似于人的指紋,因此可以進行物相分析。其中,衍射花樣中衍射線的分布規(guī)律是由晶胞的大小、形狀和位向決定。衍射線的強度是由原子的種類和它們在晶胞中的位置決定。粉末樣品或表面平整的塊狀樣品。粉末樣品要求磨勻,樣品表面要鋪平,減小測量樣品的應(yīng)力影響。溫州衍射儀多少錢衍射儀的選材要求是什么?上海澤權(quán)告訴您。
晶體的X射線衍射圖像實質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細復雜的變換,每種晶體的結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間都有著一一對應(yīng)的關(guān)系,其特征X射線衍射圖譜不會因為它種物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化,這就是X射線衍射物相分析方法的依據(jù)。制備各種標準單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化,將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對照,從而確定物質(zhì)的組成相,就成為物相定性分析的基本方法。鑒定出各個相后,根據(jù)各相花樣的強度正比于改組分存在的量(需要做吸收校正者除外),就可對各種組分進行定量分析。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜,用“粉末衍射標準聯(lián)合會”負責編輯出版的“粉末衍射卡片”進行物相分析。
X射線衍射工作原理: X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射,主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數(shù)目的粒子(原子、離子或分子)所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用,從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量粒子散射波的疊加,互相干涉而產(chǎn)生大強度的光束稱為X射線的衍射線 滿足衍射條件,可應(yīng)用布拉格公式:2dsinθ=nλ 應(yīng)用已知波長的X射線來測量θ角,從而計算出晶面間距d,這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析;另一個是應(yīng)用已知d的晶體來測量θ角,從而計算出特征X射線的波長,進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。 XRD分析常用的軟件有有Pcpdgwin,Search match,High score和Jade,比較常用的是后兩種。x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近。
x射線粉末衍射儀, 針對于測試樣品為粉末;x射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射、高溫衍射儀等等 !x射線衍射儀包含x射線粉末衍射儀!由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù).單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu).粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子(比如蛋白質(zhì)等)等復雜的很難分析.x射線粉末衍射可以:判斷物質(zhì)是否為晶體.判斷是何種晶體物質(zhì).判斷物質(zhì)的晶型.計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力.定量計算混合物質(zhì)的比例.計算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù).7,和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途.衍射又稱為繞射,波遇到障礙物或小孔后通過散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。浙江奧林巴斯XRD報價
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當x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點陣晶格間距為d的晶面上時,在符合上式的條件下,將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線。布拉格方程簡潔直觀地表達了衍射所必須滿足的條件。當 x射線波長λ已知時(選用固定波長的特征x射線),采用細粉末或細粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中,從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測出θ后,利用布拉格方程即可確定點陣晶面間距、晶胞大小和類型;根據(jù)衍射線的強度,還可進一步確定晶胞內(nèi)原子的排布。這便是x射線結(jié)構(gòu)分析中的粉末法或德拜-謝樂(debye—scherrer)法的理論基礎(chǔ)。而在測定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動(即θ不變),以輻射束的波長作為變量來保證晶體中一切晶面都滿足布拉格方程的條件,故選用連續(xù)x射線束。如果利用結(jié)構(gòu)已知的晶體,則在測定出衍射線的方向θ后,便可計算x射線的波長,從而判定產(chǎn)生特征x射線的元素。這便是x射線譜術(shù),可用于分析金屬和合金的成分。宿遷衍射儀大概多少錢