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鈦白粉中二氧化鈦的晶型種類主要有金紅石型、銳鈦型和板鈦型。由于板鈦型二氧化鈦屬于斜方晶系列,化學(xué)性質(zhì)不穩(wěn)定,在650℃的高溫中可以轉(zhuǎn)化為金紅石型鈦白粉,因此在工業(yè)上沒有多大的實(shí)用價(jià)值。金紅石型的鈦白粉與銳鈦型鈦白粉比較而言,金紅石型鈦白粉的晶體結(jié)構(gòu)很穩(wěn)定的產(chǎn)品,金紅石型鈦白粉與銳鈦型鈦白有更好的硬度、密度、耐候性、介電常數(shù)與折光率等性能。金紅石型和銳鈦型都是屬于四方晶系,但是具有不同的晶格,因此X射線的圖像也有很大的不同,銳鈦型鈦白的衍射角為°,金紅石型鈦白衍射角為°。由于鈦白粉中晶格類型和晶格比例的控制對(duì)涂料、塑料等下游應(yīng)用領(lǐng)域產(chǎn)品的質(zhì)量有非常大的影響,因此對(duì)鈦白粉晶型和晶型比例的測(cè)定有實(shí)際意義。在衍射儀方法中,X射線的強(qiáng)度用脈沖計(jì)數(shù)率表示,單位為每秒脈沖數(shù)(cps)。浙江奧林巴斯XRD價(jià)格是多少
X射線衍射分析的粉末樣品時(shí)的要求是什么?雖然很多固體樣品本身已處于微晶狀態(tài),但通常卻是較粗糙的粉末顆?;蚴禽^大的集結(jié)塊,更多數(shù)的固體樣品則是具有或大或小晶粒的結(jié)晶織構(gòu)或者是可以辨認(rèn)出外形的粗晶粒,因此實(shí)驗(yàn)時(shí)一般需要先加工成合用的細(xì)粉末。因?yàn)榇蠖鄶?shù)固體顆粒是易碎的,所以常用的方法是研磨和過篩,只有當(dāng)樣品是十分細(xì)的粉末,手摸無顆粒感,才可以認(rèn)為晶粒的大小已符合要求。持續(xù)的在研缽或在球磨中研磨至<360 目的粉末,可以有效的得到足夠細(xì)的顆粒。制備粉末需根據(jù)不同的具體情況采用不同的方法。對(duì)于一些軟而不便研磨的物質(zhì)(無機(jī)物或者有機(jī)物),可以用干冰或液態(tài)空氣冷卻至低溫,使之變脆,然后進(jìn)行研磨。若樣品是一些具有不同硬度和晶癖的物質(zhì)的混合物,研磨時(shí)較軟或易于解理的部分容易被粉化而包裹較硬部分的顆粒,因此需要不斷過篩,分出已粉化的部分,后把全部粉末充分混合后再制作實(shí)驗(yàn)用的試樣。浙江奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD哪家比較便宜X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測(cè)試儀器。
X射線衍射儀的用途是什么?當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù),為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。X射線衍射儀使用注意事項(xiàng):固體樣品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必須平整,可以用幾塊粘貼一起。對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向,衍射強(qiáng)度異常,需提供測(cè)試方向。對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力(晶格畸變),測(cè)量殘余奧氏體,要求制備成金相樣品,并進(jìn)行普通拋光或電解拋光,消除表面應(yīng)變層。粉末樣品要求磨成320目的粒度,直徑約40微米,重量大于5g。
X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及保護(hù)電路等組成。這里著重介紹X射線管。X射線管的實(shí)質(zhì)是個(gè)真空二極管,其陰極是鎢絲,陽極為金屬片。在陰極兩端加上電流之后,鎢絲發(fā)熱,產(chǎn)生熱輻射電子。這些電子在高壓電場(chǎng)作用下被加速,轟擊陽極(又稱靶),產(chǎn)生X射線(此過程產(chǎn)生大量熱量,為了保護(hù)靶材,必須確保循環(huán)水系統(tǒng)工作正常)。X射線管發(fā)生出來的不是純凈的單色光,包含多種波長(zhǎng)的射線,很主要的是K系射線。K系射線是指陰極電子碰撞陽極,使陽極電子產(chǎn)生K激發(fā),擊走K層電子后,L層或M層電子填充K層電子而產(chǎn)生的X射線。X射線衍射分析的粉末樣品時(shí)的要求是什么?
X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射,對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長(zhǎng)的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí),X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng),從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格(W.L.Bragg)方程:2dsinθ=nλ式中:λ是X射線的波長(zhǎng);θ是衍射角;d是結(jié)晶面間隔;n是整數(shù)。波長(zhǎng)λ可用已知的X射線衍射角測(cè)定,進(jìn)而求得面間隔,即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。將求出的衍射X射線強(qiáng)度和面間隔與已知的表對(duì)照,即可確定試樣結(jié)晶的物質(zhì)結(jié)構(gòu),此即定性分析。從衍射X射線強(qiáng)度的比較,可進(jìn)行定量分析。衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的,是常規(guī)分析與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。江蘇衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些
XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。浙江奧林巴斯XRD價(jià)格是多少
多晶X射線衍射儀,也稱粉末衍射儀,通常用于測(cè)量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個(gè)部分構(gòu)成:X射線發(fā)生器(產(chǎn)生X射線的裝置);測(cè)角儀(測(cè)量角度2θ的裝置);X射線探測(cè)器(測(cè)量X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)裝置);X射線系統(tǒng)控制裝置(數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和各種電氣系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)等).測(cè)角儀(包括狹縫系統(tǒng))、探測(cè)器等都是X射線衍射儀中非常關(guān)鍵的組成部分,不過原理較為枯燥,而實(shí)際處理數(shù)據(jù)時(shí)基本不會(huì)用到。這里暫時(shí)省略,如果大家確實(shí)對(duì)XRD原理有興趣可以留言,我們可以在下一期補(bǔ)上。浙江奧林巴斯XRD價(jià)格是多少