X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。作為X射線衍射儀（XRD）家族中一款顛覆性的產(chǎn)品，與傳統(tǒng)臺式XRD相比較，X射線衍射儀（XRD）具有以下優(yōu)勢: 1.便攜式機體小，2.自動化使用樣品振動裝置，使用簡單3.集成性使用透射幾何衍射技術(shù)及高靈敏度CCD探測器4. 微量化檢測檢測樣品只需15mg,尤其適合刑偵、環(huán)境、管道腐蝕等難于收集樣品的檢測分析。5.無線傳輸采用WIFI無線連接，可遠程操控及傳輸采集的數(shù)據(jù)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集的現(xiàn)場性和數(shù)據(jù)處理的及時性。 衍射儀法以其方便、快捷、準確和可以自動進行數(shù)據(jù)處理等特點在許多領(lǐng)域中取代了照相法，現(xiàn)在已成為晶體結(jié)構(gòu)分析等工作的主要方法。x射線粉末衍射可以計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。銅陵衍射儀生產(chǎn)廠家
X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質(zhì)上都屬于電磁波,只是彼此之間占據(jù)不同的波長范圍而已，X射線的波長較短,大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管,這是一種裝有陰陽極的真空封閉管,在管子兩極間加上高電壓,陰極就會發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶,從而產(chǎn)生X射線。當X射線照射到晶體物質(zhì)上,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)不同的晶體物質(zhì)具有自己獨特的衍射樣,這就是X射線衍射的基本原理。蚌埠衍射儀定制x衍射定量分析中的樣品要求中，粒度325目是什么意思？
X射線是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力。對物質(zhì)進行物相分析、定性分析、定量分析。X射線單晶體衍射儀(X-raysinglecrystaldiffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì)。
X射線衍射的一般實驗過程：樣品制備：對于粉末樣品，通常要求其顆粒的平均粒徑控制在5mm左右即過320目的篩子，還要求試樣無擇優(yōu)取向。因此，通常應(yīng)用瑪瑙研缽對待測樣品進行充分研磨后使用。對于塊狀樣品應(yīng)切割出合適的大小，即不超過鋁制樣品架的矩形孔洞的尺寸，另外還要用砂輪和砂紙將其測試面磨得平整光滑。充填試樣：將適量研磨好的試樣粉末填入樣品架的凹槽中，使粉末試樣在凹槽里均勻分布，并用平整光滑的玻片將其壓緊；將槽外或高出樣品架的多余粉末刮去，然后重新將樣品壓平實，使樣品表面與樣品架邊緣在同一水平面上。塊狀樣品直接用橡皮泥或石蠟粘在鋁制樣品架的矩形孔洞中，要求樣品表面與鋁制樣品架表面平齊。上海澤權(quán)的衍射儀怎么樣？歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！
用x射線照射固體時，由于光電效應(yīng)，原子的某一能級的電子被擊出物體之外，此電子稱為光電子。 如果x射線光子的能量為hν，電子在該能級上的結(jié)合能為eb，射出固體后的動能為ec，則它們之間的關(guān)系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數(shù)，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對它的吸引外，還必須克服整個晶體對它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見，當入射x射線能量一定后，若測出功函數(shù)和電子的動能，即可求出電子的結(jié)合能。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測得的電子結(jié)合能必然反應(yīng)了表面化學(xué)成份的情況。這正是光電子能譜儀的基本測試原理。通常X射線粉末衍射儀配用的是閃爍檢測器。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀代理哪家專業(yè)
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結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強。 從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長；θ是衍射角；d是結(jié)晶面間隔；n是整數(shù)。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。物質(zhì)受X射線照射時，可使核外電子脫離原子軌道產(chǎn)生電離。利用電離電荷的多少可測定X射線的照射量，根據(jù)這個原理制成了X射線測量儀器。在電離作用下，氣體能夠?qū)щ姡荒承┪镔|(zhì)可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng)；在有機體內(nèi)可以誘發(fā)各種生物效應(yīng)。銅陵衍射儀生產(chǎn)廠家