x射線光電子能譜分析：x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測量由此引起的電子動能的分布早在本世紀初就有報道，但當時可達到的分辯率還不足以觀測到光電子能譜上的實際光峰。直到1958年，一個瑞典研究小組觀測到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學狀態(tài)，故而取名“化學分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認為是同義詞而不再加以區(qū)別。X射線粉末衍射儀, 針對于測試樣品為粉末。泰州衍射儀代理收費標準
x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。浙江奧林巴斯XRD可以定制嗎X射線衍射分析法又被稱為粉末X射線衍射分析法。
衍射儀中特征X射線是一種波長很短（20～0.06nm）的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中，包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線，稱為特征（或標識）X射線。考慮到X射線的波長和晶體內(nèi)部原子間的距離相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光，即當一束X射線通過晶體時將發(fā)生衍射，衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。
X射線衍射分析的粉末樣品時的要求是什么? 粉末樣品的制備：雖然很多固體樣品本身已處于微晶狀態(tài)，但通常卻是較粗糙的粉末顆?；蚴禽^大的集結塊，更多數(shù)的固體樣品則是具有或大或小晶粒的結晶織構或者是可以辨認出外形的粗晶粒，因此實驗時一般需要先加工成合用的細粉末。因為大多數(shù)固體顆粒是易碎的，所以常用的方法是研磨和過篩，只有當樣品是十分細的粉末，手摸無顆粒感，才可以認為晶粒的大小已符合要求。持續(xù)的在研缽或在球磨中研磨至<360 目的粉末，可以有效的得到足夠細的顆粒。制備粉末需根據(jù)不同的具體情況采用不同的方法。對于一些軟而不便研磨的物質（無機物或者有機物），可以用干冰或液態(tài)空氣冷卻至低溫，使之變脆，然后進行研磨。若樣品是一些具有不同硬度和晶癖的物質的混合物，研磨時較軟或易于解理的部分容易被粉化而包裹較硬部分的顆粒，因此需要不斷過篩，分出已粉化的部分，后把全部粉末充分混合后再制作實驗用的試樣。一個小晶體衍射X射線，其衍射方向是與晶體的周期性（d）有關的。
X射線衍射儀的基本構造介紹：物質結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是XRD（X射線衍射）是目前研究晶體結構(如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法，而且X射線衍射是人類用來研究物質微觀結構的*種方法。X射線衍射的應用范圍非常普遍，現(xiàn)已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中，成為一種重要的實驗方法和結構分析手段，具有無損試樣的優(yōu)點。粉末衍射也可以分析出空間結構.但是大分子（比如蛋白質等）等復雜的很難分析。泰州衍射儀代理收費標準
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XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線，稱為特征X射線。XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。泰州衍射儀代理收費標準