X射線衍射照相法的原理是什么? 照相法以光源發(fā)出的特征X射線照射多晶樣品,并用底片記錄衍射花樣。根據(jù)樣品與底片的相對位置,照相法可以分為德拜法、聚焦法其中德拜法應(yīng)用為普遍。 當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有 X射線衍射分析相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。這就是X射線衍射的基本原理。單晶射線衍射儀主要用于單晶樣品晶胞參數(shù),單晶結(jié)構(gòu)測定 ,包括孿晶的有機。金華衍射儀供應(yīng)商有哪些
X射線衍射擴展資料: 1、晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象,即入射光束出射時光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長保持不變的現(xiàn)象,這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì),都能產(chǎn)生X射線衍射。 2、晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場景的一種物理變換,包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。 3、因此,通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定;通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算,可以完成樣品物相組成的定量分析。江蘇奧林巴斯BTX小型臺式XRD哪個品牌好X射線衍射儀自動化使用樣品振動裝置,使用簡單。
晶體的X射線衍射圖像實質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細(xì)復(fù)雜的變換,每種晶體的結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間都有著一一對應(yīng)的關(guān)系,其特征X射線衍射圖譜不會因為它種物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化,這就是X射線衍射物相分析方法的依據(jù)。 制備各種標(biāo)準(zhǔn)單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化,將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對照,從而確定物質(zhì)的組成相,就成為物相定性分析的基本方法。 鑒定出各個相后,根據(jù)各相花樣的強度正比于改組分存在的量(需要做吸收校正者除外),就可對各種組分進(jìn)行定量分析。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜,用“粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)合會(JCPDS)”負(fù)責(zé)編輯出版的“粉末衍射卡片(PDF卡片)”進(jìn)行物相分析。
分析電子衍射與x射線衍射有何異同: 相同點是兩者都是可以把晶體看做一個三維的光柵,對不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和,反映的晶格的對稱性信息;不同點是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢場的散射,電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強烈一些,往往不止發(fā)生一次散射,即要考慮動力學(xué)效應(yīng)(多次散射),x射線是與核外電子發(fā)生作用,與核外的電子分布情況相關(guān)。實用角度的答案,在確定晶體對稱性上,通常是用x射線來定的,因為動力學(xué)效應(yīng)很弱,不會出現(xiàn)本來消光的斑點位置因為多次散射的原因又出現(xiàn)亮斑的情況,因此便于分析,另外很重要的一個原因是x射線的制樣更加容易。組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀普遍應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域。
XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質(zhì)量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同?;诰w結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。 X射線對于晶體的衍射強度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數(shù)目及其排列方式?jīng)Q定的。 X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質(zhì)進(jìn)行非破壞性分析的儀器,由X射線發(fā)生器、測角儀、X射線強度測量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)四大部分組成。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子(比如蛋白質(zhì)等)等復(fù)雜的很難分析。金華衍射儀供應(yīng)商有哪些
X射線衍射儀衍射線形分析,如晶粒度和嵌鑲塊尺度的測定。金華衍射儀供應(yīng)商有哪些
X射線衍射法,對樣品測試收費要遠(yuǎn)高于紅外光譜的。如果你是單純想測量薄膜的精確厚度,可以用紅外光譜法(IR),精確度可達(dá)cm^(-1)量級。在紅外光譜范圍內(nèi),1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內(nèi)外層表面的反射光達(dá)到一定相位差時會引起干涉,通過薄膜兩個表面對紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋。干涉條紋有三四十個波峰-波谷之多,分布在一定的波長范圍內(nèi);根據(jù)測定結(jié)果,利用公式計算出薄膜的厚度。該方法操作簡便,測定速度快,應(yīng)用于實際樣品的無損測定,結(jié)果滿意。 金華衍射儀供應(yīng)商有哪些
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