熱像儀計(jì)量校準(zhǔn)的具體的校準(zhǔn)方法和步驟
校準(zhǔn)前準(zhǔn)備
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設(shè)備準(zhǔn)備:標(biāo)準(zhǔn)器采用鉑電阻溫度計(jì)或輻射溫度計(jì),準(zhǔn)備滿足校準(zhǔn)規(guī)范的輻射源,如高精度的黑體輻射源。
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環(huán)境條件:校準(zhǔn)時(shí)的溫度應(yīng)為 23℃±5℃,相對(duì)濕度應(yīng)不大于 85%(無(wú)結(jié)露),外界無(wú)較大干擾源。
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人員要求:校準(zhǔn)人員應(yīng)熟悉校準(zhǔn)規(guī)程和待測(cè)設(shè)備的性能參數(shù),會(huì)規(guī)范使用設(shè)備,比較好是通過(guò)培訓(xùn)或有同種校準(zhǔn)經(jīng)驗(yàn)的人員。
校準(zhǔn)流程
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外觀檢查:檢查待校準(zhǔn)熱像儀外觀是否潔凈,有無(wú)形變、破損,數(shù)字顯示是否清晰,各部件是否齊全、連接是否緊固,設(shè)備的名稱、型號(hào)、性能參數(shù)、使用說(shuō)明等資料是否齊全。
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基本功能檢測(cè):確認(rèn)待校準(zhǔn)設(shè)備部件齊全,按鍵、電源等正常,正常工作。
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性能檢測(cè)
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準(zhǔn)備校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室:在校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室中,使用高精度的熱像儀參考源,將參考源均勻排列,以便熱像儀進(jìn)行測(cè)量。
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執(zhí)行校準(zhǔn):熱像儀依次指向每個(gè)參考源,并記錄每個(gè)溫度下的信號(hào)值。校準(zhǔn)軟件捕獲這些信號(hào)值和參考源的溫度值,并用于繪制曲線。
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數(shù)據(jù)分析:校準(zhǔn)完成后,將熱像儀的數(shù)據(jù)載入校準(zhǔn)軟件中進(jìn)行分析,確定熱像儀的準(zhǔn)確性和精度。
校準(zhǔn)結(jié)果處理
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判定:根據(jù)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)判定被測(cè)儀器,如所有校準(zhǔn)項(xiàng)目均合格則出具檢測(cè)證書,如有不合格項(xiàng)目,要做好標(biāo)注,出具檢測(cè)結(jié)果通知。
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溫度開關(guān)校準(zhǔn)前準(zhǔn)備
1. 標(biāo)準(zhǔn)器及配套設(shè)備
1.標(biāo)準(zhǔn)溫度源:選用干井爐或恒溫槽,溫度波動(dòng)度≤±0.3℃,均勻性≤±0.5℃,確保溫場(chǎng)穩(wěn)定。
2.溫度測(cè)量設(shè)備:配備二等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)或高精度數(shù)字溫度表(最大允許誤差≤±0.1℃),用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)溫度源實(shí)際值。
3.開關(guān)狀態(tài)檢測(cè):準(zhǔn)備數(shù)字多用表或通斷測(cè)試儀(響應(yīng)時(shí)間≤10ms),用于檢測(cè)溫度開關(guān)觸點(diǎn)通斷狀態(tài)及動(dòng)作響應(yīng)時(shí)間。
4.輔助工具:絕緣耐高溫夾具(固定溫度開關(guān)探頭)、計(jì)時(shí)器(記錄動(dòng)作時(shí)間偏差)、高溫防護(hù)手套。
2. 環(huán)境條件
1.實(shí)驗(yàn)室溫度(20±5)℃,相對(duì)濕度≤70%,避免氣流擾動(dòng)影響溫場(chǎng)均勻性。
2.遠(yuǎn)離振動(dòng)源及強(qiáng)電磁干擾設(shè)備,工作臺(tái)穩(wěn)固防振,電氣接地良好。
3.高溫校準(zhǔn)時(shí)需設(shè)置安全防護(hù)區(qū),防止人員接觸高溫部件。
3. 被校儀器檢查
1.外觀檢查:外殼無(wú)變形、破損,接線端子無(wú)氧化,標(biāo)簽(型號(hào)、動(dòng)作溫度值)清晰。
2.機(jī)械性能檢查:開關(guān)動(dòng)作機(jī)構(gòu)靈活無(wú)卡滯,復(fù)位彈簧無(wú)銹蝕或疲勞,觸點(diǎn)無(wú)燒蝕或污漬。
3.功能預(yù)測(cè)試:常溫下手動(dòng)觸發(fā)開關(guān),通斷狀態(tài)正常,觸點(diǎn)電阻≤0.1Ω(通過(guò)多用表測(cè)量)。
4.校準(zhǔn)點(diǎn)設(shè)置:根據(jù)規(guī)格書預(yù)設(shè)至少3個(gè)動(dòng)作溫度點(diǎn),升溫/降溫速率≤1℃/min,避免過(guò)沖。
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熱像儀主要由以下部分構(gòu)成:
(1) 紅外光學(xué)系統(tǒng)
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透鏡材料:使用鍺(Germanium)、硒化鋅(ZnSe)等特殊材料制成透鏡,因普通玻璃會(huì)阻擋紅外線。
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聚焦紅外輻射:將目標(biāo)物體發(fā)出的紅外輻射聚焦到紅外探測(cè)器上。
(2) 紅外探測(cè)器
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類型:分為制冷型(需液氮或斯特林制冷器降溫,靈敏度高)和非制冷型(基于微測(cè)輻射熱計(jì),成本低、體積?。?。
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功能:將紅外輻射轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。探測(cè)器由大量微小像素單元(如氧化釩或非晶硅材料)組成,每個(gè)像素對(duì)應(yīng)圖像中的一個(gè)點(diǎn)。
(3) 信號(hào)處理系統(tǒng)
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電信號(hào)轉(zhuǎn)換:探測(cè)器輸出的微弱電信號(hào)被放大和數(shù)字化。
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溫度標(biāo)定:通過(guò)算法將電信號(hào)轉(zhuǎn)換為溫度值,考慮環(huán)境溫度、物體發(fā)射率等因素修正。
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圖像生成:將溫度數(shù)據(jù)映射為偽彩色圖像(如高溫顯示為紅色/白色,低溫顯示為藍(lán)色/黑色)。
(4) 顯示輸出
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可視化顯示:通過(guò)屏幕輸出熱圖像,疊加溫度數(shù)值、等溫線等功能輔助分析。
溫濕度記錄儀校準(zhǔn)前準(zhǔn)備
1. 標(biāo)準(zhǔn)器及配套設(shè)備
1.主標(biāo)準(zhǔn)器:選用二等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)及標(biāo)準(zhǔn)濕度發(fā)生器,其不確定度需優(yōu)于被校記錄儀的1/3。
2.恒溫恒濕箱:溫度波動(dòng)度≤±0.3℃,濕度波動(dòng)度≤±1.5%RH,均勻性分別≤±0.5℃和±2.0%RH,確保校準(zhǔn)環(huán)境穩(wěn)定。
3.數(shù)據(jù)比對(duì)設(shè)備:配置多通道高精度測(cè)溫儀及濕度傳感器,同步記錄標(biāo)準(zhǔn)值與記錄儀輸出數(shù)據(jù)。
4.輔助工具:探頭固定支架、屏蔽線纜、計(jì)時(shí)器、校準(zhǔn)軟件。
2. 環(huán)境條件
1.實(shí)驗(yàn)室溫濕度穩(wěn)定在(20±3)℃、(50±10)%RH,避免氣流擾動(dòng)或人員頻繁出入導(dǎo)致環(huán)境波動(dòng)。
2.校準(zhǔn)區(qū)域遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)、振動(dòng)源及熱輻射設(shè)備,電源單獨(dú)接地,電壓波動(dòng)≤±5%。
3.恒溫恒濕箱提前2小時(shí)預(yù)熱至校準(zhǔn)點(diǎn),并穩(wěn)定運(yùn)行30分鐘以上。
3. 被校儀器檢查
1.外觀檢查:記錄儀外殼無(wú)破損,探頭無(wú)污染或結(jié)露,顯示屏無(wú)斷碼,按鍵及接口功能正常。
2.功能驗(yàn)證:開機(jī)自檢無(wú)報(bào)錯(cuò),溫濕度示值穩(wěn)定無(wú)跳變。測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)周期、報(bào)警閾值觸發(fā)、數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能正常。
3.校準(zhǔn)設(shè)置:禁用內(nèi)部溫濕度補(bǔ)償功能,恢復(fù)出廠參數(shù)設(shè)置。確認(rèn)記錄間隔與校準(zhǔn)軟件同步,清理歷史數(shù)據(jù)避免干擾。
4.預(yù)熱處理:記錄儀在恒溫恒濕環(huán)境中靜置1小時(shí),確保探頭與環(huán)境充分熱平衡。
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壓力式溫度計(jì)校準(zhǔn)步驟
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外觀檢查:查看壓力式溫度計(jì)的表盤是否清晰、有無(wú)破損,指針是否能靈活轉(zhuǎn)動(dòng),感溫包、毛細(xì)管和指示表頭之間的連接是否牢固,有無(wú)泄漏等情況。
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安裝固定:將壓力式溫度計(jì)的感溫包與標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)一起放入恒溫槽中,確保感溫包與標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)的感溫元件處于同一水平位置,且與恒溫槽內(nèi)的介質(zhì)充分接觸,并用夾具固定好,防止溫度計(jì)晃動(dòng)。
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零點(diǎn)校準(zhǔn):將恒溫槽溫度設(shè)定為 0℃,待溫度穩(wěn)定后,觀察壓力式溫度計(jì)的指針是否指在 0 刻度位置。若有偏差,可通過(guò)調(diào)整溫度計(jì)的調(diào)零旋鈕使其指針指向 0 刻度。
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多點(diǎn)校準(zhǔn):在壓力式溫度計(jì)的測(cè)量范圍內(nèi),均勻選取至少 3 個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn),如測(cè)量范圍為 0℃~100℃,可選取 25℃、50℃、75℃這三個(gè)溫度點(diǎn)。將恒溫槽分別設(shè)定到選定的溫度點(diǎn),每個(gè)溫度點(diǎn)穩(wěn)定后,記錄標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)的示值和壓力式溫度計(jì)的示值。
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偏差計(jì)算:計(jì)算壓力式溫度計(jì)在各校準(zhǔn)點(diǎn)的偏差,偏差 = 壓力式溫度計(jì)示值 - 標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)示值。根據(jù)偏差情況判斷壓力式溫度計(jì)是否符合精度要求。
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重復(fù)性測(cè)試:對(duì)每個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)進(jìn)行多次測(cè)量,一般不少于 3 次,計(jì)算每次測(cè)量的偏差,觀察偏差的變化情況,評(píng)估壓力式溫度計(jì)的重復(fù)性。重復(fù)性應(yīng)滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)要求,通常要求重復(fù)性誤差不超過(guò)其允許誤差
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工作用輻射溫度計(jì)**結(jié)構(gòu)與工作流程
(1) 光學(xué)系統(tǒng)
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紅外透鏡/反射鏡:聚焦目標(biāo)物體發(fā)出的紅外輻射至探測(cè)器。透鏡材料需透紅外光(如鍺、硒化鋅),避免普通玻璃對(duì)紅外線的吸收。
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視場(chǎng)角與距離系數(shù)(D:S):決定測(cè)量區(qū)域大小,例如D:S=12:1表示在12cm距離下測(cè)量1cm直徑區(qū)域。
(2) 探測(cè)器
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熱電堆(Thermopile):利用溫差電效應(yīng)將紅外輻射轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),無(wú)需制冷,成本低(常用類型)。
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光電導(dǎo)型探測(cè)器(如InGaAs、HgCdTe):對(duì)特定波長(zhǎng)敏感,需制冷以提高靈敏度,用于高精度場(chǎng)合。
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熱釋電探測(cè)器:響應(yīng)速度快,適合動(dòng)態(tài)測(cè)溫。
(3) 信號(hào)處理與溫度計(jì)算
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信號(hào)放大與濾波:探測(cè)器輸出的微弱電信號(hào)經(jīng)放大和濾波(抑制環(huán)境干擾)。
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發(fā)射率(ε)校正:實(shí)際物體非理想黑體(ε<1),需根據(jù)材料設(shè)置發(fā)射率(如拋光金屬ε≈0.1,氧化金屬ε≈0.8,人體皮膚ε≈0.98)。
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溫度反演算法:通過(guò)斯特藩-玻爾茲曼公式或分波長(zhǎng)亮度法計(jì)算溫度值。
(4) 顯示與輸出
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溫度顯示:LCD屏幕直接顯示溫度值(℃/℉可切換)。
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數(shù)據(jù)接口:RS-232、USB或無(wú)線傳輸至計(jì)算機(jī)或PLC系統(tǒng)。
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