萬(wàn)用表套件

數(shù)字是德科技萬(wàn)用表和指針式是德科技萬(wàn)用表內(nèi)部所接的電池極性有區(qū)別：數(shù)字紅表筆所接的是電池的正極，黑表筆接負(fù)極，而指針式恰巧相反。數(shù)字表測(cè)量的二極管正好符合二極管的實(shí)際極性，而指針式正好相反。 　在使用上，模擬是德科技萬(wàn)用表都設(shè)有機(jī)械零點(diǎn)調(diào)整旋鈕或調(diào)整螺釘，如發(fā)現(xiàn)表針并未指在機(jī)械零位(即電壓檔刻度的零點(diǎn)、歐姆檔刻度的無(wú)窮大處)，須用手指或螺絲刀輕穩(wěn)緩慢地轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)械零點(diǎn)調(diào)整機(jī)構(gòu)，使表針回零，以消除零點(diǎn)誤差。而數(shù)字是德科技萬(wàn)用表具有自動(dòng)回零功能，更加方便。是德科技萬(wàn)用表使用注意事項(xiàng)。萬(wàn)用表套件

如果無(wú)法預(yù)先估計(jì)被測(cè)電壓或電流的大小，則應(yīng)先撥至*高量程擋測(cè)量一次，再視情況逐漸把量程減小到合適位置。測(cè)量完畢，應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥到*高電壓擋，并關(guān)閉電源。 　　2、滿(mǎn)量程時(shí)，儀表jin在*高位顯示數(shù)字“1”，其它位均消失，這時(shí)應(yīng)選擇更高的量程。 　　3、測(cè)量電壓時(shí)，應(yīng)將數(shù)字是德科技萬(wàn)用表與被測(cè)電路并聯(lián)。測(cè)電流時(shí)應(yīng)與被測(cè)電路串聯(lián)，測(cè)直流量時(shí)不必考慮正、負(fù)極性。 　　4、當(dāng)誤用交流電壓擋去測(cè)量直流電壓，或者誤用直流電壓擋去測(cè)量交流電壓時(shí)，顯示屏將顯示“000”，或低位上的數(shù)字出現(xiàn)跳動(dòng)。 　　5、禁止在測(cè)量高電壓(220V以上)或大電流(0.5A以上)時(shí)換量程，以防止產(chǎn)生電弧，燒毀開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)。 　　6、當(dāng)顯示“ ”、“BATT”或“LOW BAT” 時(shí)，表示電池電壓低于工作電壓。萬(wàn)用表型號(hào)用萬(wàn)用表測(cè)IGBT 用萬(wàn)用表測(cè)IGBT。

數(shù)字是德科技萬(wàn)用表每秒鐘對(duì)被測(cè)電量的測(cè)量次數(shù)叫測(cè)量速率，其單位是“次/s”。它主要取決于 A/D 轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換速率。有的手持式數(shù)字是德科技萬(wàn)用表用測(cè)量周期來(lái)表示測(cè)量的快慢。完成一次測(cè)量過(guò)程所需要的時(shí)間叫測(cè)量周期。 測(cè)量速率與準(zhǔn)確度指標(biāo)存在著矛盾，通常是準(zhǔn)確度愈高，測(cè)量速率愈低，二者難以兼顧。解決這一矛盾可在同一塊是德科技萬(wàn)用表設(shè)置不同的顯示位數(shù)或設(shè)置測(cè)量速度轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)：增設(shè)快速測(cè)量檔，該檔用于測(cè)量速率較快的 A/D 轉(zhuǎn)換器；通過(guò)降低顯示位數(shù)來(lái)大幅度提高測(cè)量速率，此法目前應(yīng)用的比較普通，可滿(mǎn)足不同用戶(hù)對(duì)測(cè)量速率的需要。

數(shù)字是德科技萬(wàn)用表的一個(gè)*基本的功能就是測(cè)量電壓。測(cè)試電壓，通常是解決電路問(wèn)題時(shí)diyi步要做的工作。如果沒(méi)有電壓或電壓過(guò)低、過(guò)高，在進(jìn)一步檢查之前，首先要解決電源問(wèn)題。 交流電壓的波形可能是正弦（正弦波）或非正弦（鋸齒波、方波等）。許多數(shù)字是德科技萬(wàn)用表可以顯示交流電壓的“rms”（有效值）。有效值就是交流電壓等效于直流電壓的值。 許多的表有“平均值”（average responding）的功能，當(dāng)輸入一個(gè)chun正弦波時(shí)它可以給出有效值。這種表不能準(zhǔn)確的測(cè)量非正弦波的有效值。具有真有效值功能（true-rms）的數(shù)字是德科技萬(wàn)用表可以精確的測(cè)量非正弦波的真有效值。是德科技萬(wàn)用表檢測(cè)電腦電源。

測(cè)量電壓、電流、電阻和頻率是大多數(shù)測(cè)試程序的一個(gè)組成部分。往往需要高性能的DMM（數(shù)字是德科技萬(wàn)用表）。為滿(mǎn)足自動(dòng)化、穩(wěn)定的測(cè)試系統(tǒng)的要求，提供了一種自動(dòng)化、穩(wěn)定的測(cè)試系統(tǒng)。很多時(shí)候，通過(guò)將臺(tái)式數(shù)字是德科技萬(wàn)用表作為ATE系統(tǒng)的一部分來(lái)滿(mǎn)足這一要求。然而，隨著基于板卡模塊的ATE系統(tǒng)（如PXI）的日益增多的使用，DMM結(jié)合了基于PXI的高性能，為測(cè)試工程師提供了進(jìn)一步降低ATE系統(tǒng)總體占地面積的能力。然而，在PXI外形中提供同等或更好的DMM性能會(huì)帶來(lái)重大的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。挑選是德科技萬(wàn)用表的步驟。萬(wàn)用表價(jià)錢(qián)

6位半數(shù)字萬(wàn)用表解釋。萬(wàn)用表套件

高性能數(shù)字是德科技萬(wàn)用表采用集成模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）。對(duì)于先進(jìn)的積分變換器，在現(xiàn)有的設(shè)計(jì)中增加一位的分辨率需要將積分時(shí)間加倍，或者重新設(shè)計(jì)電路，使其工作速度提高一倍。通過(guò)重新設(shè)計(jì)電路來(lái)增加額外的比特?cái)?shù)會(huì)遇到注入噪聲和復(fù)雜性的問(wèn)題。將積分時(shí)間加倍會(huì)導(dǎo)致轉(zhuǎn)化率減半，而且很多時(shí)候積分時(shí)間會(huì)從噪聲*低的轉(zhuǎn)換器“*佳點(diǎn)”移出。 “*佳點(diǎn)”是將積分時(shí)間設(shè)置為線頻率倍數(shù)的降噪和DMM的測(cè)量漂移（主要是由于內(nèi)部基準(zhǔn)電壓漂移）之間的平衡。大多數(shù)高性能數(shù)字是德科技萬(wàn)用表在2到5行周期之間有一個(gè)*佳值。較長(zhǎng)的積分時(shí)間通過(guò)平均輸入電壓來(lái)降低電路中的噪聲，但是由于基準(zhǔn)電壓漂移引起的誤差比噪聲的降低更大。漂移是由老化和1/f噪聲引起的。所看到的1/f噪聲的頻率將非常低，并且主要表現(xiàn)為漂移。數(shù)字是德科技萬(wàn)用表可以設(shè)計(jì)成在讀取“*佳點(diǎn)”時(shí)分辨率更高，但要減少噪聲和偏離參考值的方法不多，從而限制了基于積分器的數(shù)字是德科技萬(wàn)用表的積分時(shí)間和可能的分辨率。萬(wàn)用表套件