芯片可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)

上海天梯檢測技術(shù)有限公司環(huán)境可靠性檢測：1.其中氣候環(huán)境包含：高低溫試驗,交變溫濕熱（溫變1-2℃/min),快速溫度循環(huán)試驗（溫變較快20℃/min）,溫度沖擊試驗,高溫高濕試驗,恒定濕熱試驗,鹽霧腐蝕試驗(中性鹽霧,醋酸鹽霧,同加速乙酸鹽霧,交變鹽霧）,防塵防水檢測（IP等級測試）（防塵試驗IP1X-6X,防水試驗IPX1-X8）,IK等級測試,低氣壓試驗,高壓蒸煮試驗（HAST）,人工汗液測試,氣體腐蝕試驗,耐焊接熱,沾錫性,UL94阻燃試驗,UV老化試驗（熒光紫外燈）,太陽輻射試驗（氙燈老化,鹵素?zé)簦┑鹊?；電子電氣產(chǎn)品的可靠性測試是怎樣做的?都有什么檢測項目?芯片可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)

可靠性試驗，是指通過試驗測定和驗證產(chǎn)品的可靠性。為了測定、驗證或提高產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗稱為可靠性試驗，它是產(chǎn)品可靠性工作的一個重要環(huán)節(jié) 在研制階段使產(chǎn)品達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)。為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)，在研制階段需要對樣品進(jìn)行可靠性試驗，以便找出產(chǎn)品在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問題，而加以改進(jìn)，經(jīng)過反復(fù)試驗與改進(jìn)，就能不斷地提高產(chǎn)品的各項可靠性指標(biāo)，達(dá)到預(yù)定的要求。 可靠性測試項目一般包含： 氣候環(huán)境測試：高溫測試、低溫測試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測試、冷熱沖擊測試、快速溫變測試、低氣壓測試、光老化測試、腐蝕測試等。機(jī)械環(huán)境測試：振動測試、沖擊測試、碰撞測試、跌落測試。芯片可靠性測試如何確定產(chǎn)品需做哪些可靠性試驗?

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項目及標(biāo)準(zhǔn) 11、傾跌與翻倒： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。 12、砂塵試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定氣壓。 13、鹽霧試驗： 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996； 人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006； 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。 14、溫度沖擊試驗： 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。

上海天梯檢測——輸入瞬態(tài)高壓測試 PFC電路采用平均值電路進(jìn)行過欠壓保護(hù)，因此在輸入瞬態(tài)高壓時，PFC電路可能會很快實(shí)現(xiàn)保護(hù)，從而造成損壞，測試一次電源模塊在瞬態(tài)情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評估可靠性。 測試方法： A、額定電壓輸入，用雙蹤示波器測試輸入電壓波形合過壓保護(hù)信號，輸入電壓從限功率點(diǎn)加5V跳變?yōu)?00V，從示波器上讀出過壓保護(hù)**00V的周期數(shù)N，作為以下試驗的依據(jù)。 B、額定輸入電壓，電源模塊帶滿載運(yùn)行，在輸入上疊加300V的電壓跳變，疊加的周期數(shù)為（N－1），疊加頻率為1次/30s，共運(yùn)行3小時。可靠性測試哪里可以做?

HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速壽命試驗)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品可靠性的測試手段，HALT/HASS 是由美國軍方所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗證方法。它將原需花費(fèi)6 個月甚至1 年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT/HASS 的試驗方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗證。在美國之外，許多國際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產(chǎn)品質(zhì)量。 HALT 是一種通過讓被測物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計上的缺限，以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動，高低溫，溫度循環(huán)，電力開關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)?？煽啃詼y試需要使用什么設(shè)備？跌落可靠性測試服務(wù)

一般什么產(chǎn)品要做可靠性測試?芯片可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)

上海天梯檢測技術(shù)有限公司可靠性試驗?zāi)康模?可靠性已經(jīng)列為產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)加以考核和檢驗。長期以來，人們只用產(chǎn)品的技術(shù)性能指標(biāo)作為衡量電子元器件質(zhì)量好壞的標(biāo)志，這只反映了產(chǎn)品質(zhì)量好壞的一個方面，還不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全貌。因為，如果產(chǎn)品不可靠，即使其技術(shù)性能再好也得不到發(fā)揮。從某種意義上說，可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。 可靠性工程是一個綜合的學(xué)科，它的發(fā)展可以帶動和促進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計、制造、使用、材料、工藝、設(shè)備和管理的發(fā)展，把電子元器件和其它電子產(chǎn)品提高到一個新的水平。正因為這樣，可靠性已形成一個專門的學(xué)科，作為一個專門的技術(shù)進(jìn)行研究。芯片可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)

上海天梯檢測技術(shù)有限公司成立于2013年，總部設(shè)在上海交大金橋國家科技園，是中國合格評定國家認(rèn)可委員會(CNAS)認(rèn)可實(shí)驗室(No. CNAS L7352)，計量認(rèn)證(CMA)認(rèn)可實(shí)驗室(170921341417)，上海交大金橋科技園檢測公共服務(wù)平臺，上海市研發(fā)公共服務(wù)平臺服務(wù)企業(yè)，上海市浦東新區(qū)科技服務(wù)機(jī)構(gòu)發(fā)展促進(jìn)會會員單位，上海市****。我們有前列的測試設(shè)備，專業(yè)的工程師及**團(tuán)隊。公司成立以來著重于產(chǎn)品的環(huán)境可靠性實(shí)驗，材料性能實(shí)驗，在汽車，造船，醫(yī)療，運(yùn)輸?shù)刃袠I(yè)為企業(yè)提供了專業(yè)的測試技術(shù)服務(wù)，堅持‘準(zhǔn)確，及時，真實(shí)，有效，提升’的質(zhì)量方針，憑過硬的檢測技術(shù)和工作質(zhì)量，向廣大客戶提供準(zhǔn)確，高效的檢測服務(wù)，我們的檢測報告具有國際公信力，得到了23個經(jīng)濟(jì)體的37個國家和地區(qū)的客戶認(rèn)可。