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在混合使用不同類型DDR內(nèi)存的系統(tǒng)中,能否有效測(cè)試兼容性呢?

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深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-04-05

在混合使用不同類型DDR內(nèi)存的系統(tǒng)中,DDR測(cè)試座可以通過分別對(duì)不同類型的內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試,來評(píng)估其兼容性。測(cè)試座可以模擬不同內(nèi)存之間的交互情況,檢測(cè)是否存在兼容性問題。同時(shí),還可以通過調(diào)整系統(tǒng)參數(shù),如內(nèi)存頻率、時(shí)序等,來優(yōu)化內(nèi)存的兼容性。

深圳市欣同達(dá)科技有限公司
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簡介:研發(fā)、生產(chǎn)和銷售半導(dǎo)體芯片測(cè)試插座。提供定制化的測(cè)試插座方案
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