陜西光學顯微分析

來源: 發(fā)布時間:2021-10-18

二次電子二次電子是指背入射電子轟擊出來的核外電子。由于原子核和外層價電子間的結(jié)合能很小,當原子的核外電子從入射電子獲得了大于相應(yīng)的結(jié)合能的能量后,可脫離原子成為自由電子。如果這種散射過程發(fā)生在比較接近樣品表層處,那些能量大于材料逸出功的自由電子可從樣品表面逸出,變成真空中的自由電子,即二次電子。二次電子來自表面5-10nm的區(qū)域,能量為0-50eV。它對試樣表面狀態(tài)非常敏感,能有效地顯示試樣表面的微觀形貌。由于它發(fā)自試樣表層,入射電子還沒有被多次反射,因此產(chǎn)生二次電子的面積與入射電子的照射面積沒有多大區(qū)別,所以二次電子的分辨率較高,一般可達到5-10nm。掃描電鏡的分辨率一般就是二次電子分辨率。二次電子產(chǎn)額隨原子序數(shù)的變化不大,它主要取決與表面形貌。特征X射線特征X射線試原子的內(nèi)層電子受到激發(fā)以后在能級躍遷過程中直接釋放的具有特征能量和波長的一種電磁波輻射。X射線一般在試樣的500nm-5mm深處發(fā)出。俄歇電子如果原子內(nèi)層電子能級躍遷過程中釋放出來的能量不是以X射線的形式釋放而是用該能量將核外另一電子打出,脫離原子變?yōu)槎坞娮樱@種二次電子叫做俄歇電子。因每一種原子都由自己特定的殼層能量。上海予羅檢測科技有限公司致力于提供顯微分析,有想法的可以來電咨詢!陜西光學顯微分析

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光點成像的順序是從左上方開始到右下方,直到後一行右下方的像元掃描完畢就算完成一幀圖像。這種掃描方式叫做光柵掃描。掃描電子顯微鏡的原理和結(jié)構(gòu)示意圖掃描電子顯微鏡由電子光學系統(tǒng),信號收集及顯示系統(tǒng),真空系統(tǒng)及電源系統(tǒng)組成。主要性能參數(shù)放大率與普通光學顯微鏡不同,在SEM中,是通過控制掃描區(qū)域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。所以,SEM中,透鏡與放大率無關(guān)。場深在SEM中,位于焦平面上下的一小層區(qū)域內(nèi)的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深,通常為幾納米厚,所以,SEM可以用于納米級樣品的三維成像。作用體積電子束不僅與樣品表層原子發(fā)生作用,它實際上與一定厚度范圍內(nèi)的樣品原子發(fā)生作用,所以存在一個作用“體積”。作用體積的厚度因信號的不同而不同:歐革電子:~2納米。次級電子:5λ,對于導體,λ=1納米;對于絕緣體,λ=10納米。背散射電子:10倍于次級電子。特征X射線:微米級。X射線連續(xù)譜:略大于特征X射線,也在微米級。工作距離工作距離指從物鏡到樣品高點的垂直距離。如果增加工作距離。

因此可被用來提高對比度。使用電子顯微鏡觀察金屬前樣本要被切成非常薄的薄片(約),然后使用電解擦亮繼續(xù)使得金屬變薄,后在樣本中心往往形成一個洞,電子可以在這個洞附近穿過那里非常薄的金屬。無法使用電解擦亮的金屬或不導電或?qū)щ娦阅懿缓玫奈镔|(zhì)如硅等一般首先被用機械方式磨薄后使用離子打擊的方法繼續(xù)加工。為防止不導電的樣品在掃描電子顯微鏡中積累靜電它們的表面必須覆蓋一層導電層。折疊編輯本段缺點1.在電子顯微鏡中樣本必須在真空中觀察,因此無法觀察活樣本。隨著技術(shù)的進步,環(huán)境掃描電鏡將逐漸實現(xiàn)直接對活樣本的觀察;2.在處理樣本時可能會產(chǎn)生樣本原來沒有的結(jié)構(gòu),這加劇了此后分析圖像的難度;3.由于電子散射能力極強,容易發(fā)生二次衍射等;4.由于為三維物體的二維平面投影像,有時像不;5.由于透射電子顯微鏡只能觀察非常薄的樣本,而有可能物質(zhì)表面的結(jié)構(gòu)與物質(zhì)內(nèi)部的結(jié)構(gòu)不同;6.超薄樣品(100納米以下),制樣過程復(fù)雜、困難,制樣有損傷;7.電子束可能通過碰撞和加熱破壞樣本;8.此外電子顯微鏡購買和維護的價格都比較高。折疊編輯本段應(yīng)用電子顯微鏡技術(shù)在診斷中的應(yīng)用因此,透射電子顯微鏡突破了光學顯微鏡分辨率低的限制,成為了診斷疑難的一種新的工具。上海予羅檢測科技有限公司是一家專業(yè)提供顯微分析的公司,歡迎您的來電哦!

一般的化學分析方法能得到分析試樣的平均成分,而在電子顯微鏡上卻可實現(xiàn)與微區(qū)形貌相對應(yīng)的微區(qū)分析,因而是研究材料組織結(jié)構(gòu)和元素分布狀態(tài)的極為有用的分析方法。就跟大家一起聊一聊電子探針顯微分析的原理和特點。電子探針的功能主要是進行微區(qū)成分分析。它是在電子光學和x射線光譜學原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種高效率分析儀器。原理用細聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品元素的特征x射線。分析特征x射線的波長(或特征能量)即可知道樣品中所含元素的種類(定性分析)。分析x射線的強度,則可知道樣品中對應(yīng)元素含量的多少(定量分析)。電子探針儀鏡筒部分的構(gòu)造大體上和掃描電子顯微鏡相同,只是在檢測器部分使用的是x射線譜儀,專門用來檢測x射線的特征波長或特征能量,以此來對微區(qū)的化學成分進行分析。因此,除專門的電子探針儀外,有相當一部分電子探針儀是作為附件安裝在掃描電鏡或透射電鏡鏡簡上,以滿足微區(qū)組織形貌、晶體結(jié)構(gòu)及化學成分三位一體同位分析的需要。電子探針的鏡筒及樣品室和掃描電鏡并無本質(zhì)上的差別,因此要使一臺儀器兼有形貌分析和成分分析兩個方面的功能,往往把掃描電子顯微鏡和電子探針組合在一起。電子探針的信號檢測系統(tǒng)是x射線譜儀。上海予羅檢測科技有限公司為您提供顯微分析,有想法的不要錯過哦!湖北電子顯微分析

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