西藏3D測量激光顯微鏡耗材

來源: 發(fā)布時間:2021-11-26

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激光共聚焦掃描顯微鏡的發(fā)展在國外是從80年代末期開始的,目前在日本,已經(jīng)是一種被采用的技術(shù),既用來觀察樣品表面亞μm程度(μm)的三維形態(tài)和形貌,又可以測量多種微小的尺寸,諸如體積、面積、晶粒、膜厚、深度、長寬、線粗糙度、面粗糙度等。LEXTOLS50003D測量激光顯微鏡配備的兩套光學系統(tǒng)(彩色成像光學系統(tǒng)和激光共焦光學系統(tǒng))讓其能夠獲取彩色信息、高度信息和高分辨率圖像。[獲取彩色信息]彩色成像光學系統(tǒng)使用利用白光LED光源和CMOS相機獲取彩色信息。[獲取3D高度信息和高分辨率共焦圖像]激光共焦光學系統(tǒng)采用405納米激光二極管光源和高靈敏度光電倍增管獲得共焦圖像。淺焦深使其能夠用于測量樣品的表面不規(guī)則性。[405納米激光光源]光學顯微鏡的橫向分辨率隨著波長的減小而獲得提升。采用短波長激光的激光顯微鏡相比采用可見光(峰值550納米)的傳統(tǒng)顯微鏡具有更優(yōu)的橫向分辨率。OLS5000顯微鏡利用405納米短波長激光二極管獲得的橫向分辨率。[激光共焦光學系統(tǒng)]激光共焦光學系統(tǒng)接收通過圓形聚焦的光線,并非采集從樣品上反射和散射的所有光線。這樣有助于消除模糊,讓其能夠獲得比普通顯微鏡對比度更高的圖像。西藏3D測量激光顯微鏡耗材上海予羅檢測科技有限公司致力于提供3D測量激光顯微鏡,歡迎您的來電!

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OLS5000激光顯微鏡可準確測量高達°的大角度斜面??焖?、精確的測量——PEAK算法OLS5000顯微鏡采用了用于3D數(shù)據(jù)構(gòu)建的PEAK算法。該算法可獲得從低倍率到高倍率的高精度數(shù)據(jù),并可縮短數(shù)據(jù)采集時間。VLSI標準樣品/80nm臺階(MPLFLN10XLEXT)簡單分析簡單分析功能可在測量范圍內(nèi)測量臺階、線寬、表面粗糙度和體積。自動檢測測量結(jié)果變動的原因(如體積分析中參考平面的邊緣位置和閾值)讓測量結(jié)果保持穩(wěn)定,不受操作員技能水平的影響。擴展架—可檢測大210毫米高度的樣品載物臺上可放置大高度210毫米的樣品。重復性和準確性等測量性能均確保與標準機臺相同。近期激動人心,奧林巴斯LEXTOLS5000獲得了2018年度激光共聚焦世界創(chuàng)新者獎。該獎項由**小組根據(jù)可持續(xù)性、影響和滿足用戶需求等標準進行判斷。下面和小編一起再來領(lǐng)略一下OLS5000的風采。高速清晰成像準確數(shù)據(jù)獲取傳統(tǒng)的光學顯微鏡已經(jīng)可以獲得樣品微小細節(jié)的圖像,但是工業(yè)領(lǐng)域的研究需要更清晰地觀察更微小的各種樣品,并獲得樣品的三維形貌。一般顯微鏡采用散射型光線的場光源,在觀察樣品時,入射光線同時照射焦平面和相鄰的點,并同時成像,因此干擾較多,呈現(xiàn)的圖像不夠清晰。3D測量激光顯微鏡價格優(yōu)惠,請找上海予羅檢測科技有限公司,歡迎新老客戶來電!西藏3D測量激光顯微鏡耗材

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因此可以獲得樣品表面的3D形狀信息。與此類似,通過峰值強度數(shù)據(jù)可以獲得針對樣品表面所有位置焦點的圖像(擴展圖像)。主機規(guī)格:型號OLS5000-SAFOLS5000-SMFOLS5000-LAFOLS5000-EAFOLS5000-EMF總倍率54x-17,280x視場直徑16μm-5,120μm測量原理光學系統(tǒng)反射式共焦激光掃描激光顯微鏡反射式共焦激光掃描激光-DIC顯微鏡彩色彩色DIC光接收元件激光:光電倍增管(2ch)色彩:CMOS彩色相機高度測量顯示分辨率納米動態(tài)范圍16位可重復性n-1*1*2*620x:μm,50x:μm,100x:μm精度*1*3*6測量值+/-*1*4*620x:15+μm,50x:9+μm,100x:7+μm(L:拼接長度[μm])測量噪聲(SQ噪聲)*1*5*61納米寬度測量顯示分辨率1納米可重復性3n-1*1*620x:μm,50x:μm,100x:μm精度*1*3*6測量值+/-*1*3*620x:15+μm,50x:9+μm,100x:7+μm(L:拼接長度[μm])單次測量時測量點的*大數(shù)量4096x4096像素測量點的*大數(shù)量3600萬像素XY載物臺配置長度測量模塊?無無?無工作范圍100x100mm電動100x100mm手動300x300mm電動100x100mm電動100x100mm手動*大樣品高度100mm30mm30mm210mm140mm激光光源波長405nm*大輸出mW激光分類2類(IEC60825-1:2007。西藏3D測量激光顯微鏡耗材