奧林巴斯金相顯微鏡加裝

BX53M系列采用了模塊化設(shè)計(jì)，為的材料學(xué)和工業(yè)應(yīng)用提供了多樣化的解決方案。BX53M根據(jù)工業(yè)和材料學(xué)的不同應(yīng)用，可以組合成反射顯微鏡、透反射顯微鏡、紅外顯微鏡、偏光顯微鏡等多種應(yīng)用的顯微鏡。特點(diǎn)：簡單的、向?qū)降娘@微鏡操作設(shè)置，使用戶更容易進(jìn)行調(diào)節(jié)，并復(fù)制系統(tǒng)設(shè)置。直觀的顯微鏡控制舒適而便于使用編碼硬件：很容易恢復(fù)顯微鏡設(shè)置方便而人性化的操作MIX組合式觀察：讓以往看不見的圖像顯示出來即時(shí)拼圖（MIA）：輕松移動(dòng)載物臺(tái)，可進(jìn)行全景攝影產(chǎn)品參數(shù)BX53MTRF-SBX53MRF-SBXFM光學(xué)系統(tǒng)UIS2光學(xué)系統(tǒng)（無限遠(yuǎn)校正）顯微鏡機(jī)架照明反射/透射反射對焦行程：25mm每轉(zhuǎn)的微調(diào)行程：100μm小刻度：1μm配有上限限位器，用于粗調(diào)手柄的扭力調(diào)節(jié)行程：30mm每轉(zhuǎn)的微調(diào)行程：200μm小刻度：2μm配有用于粗調(diào)手柄的扭力調(diào)節(jié)大樣品高度35mm(不含高度適配器)75mm(帶BX3M-ARMAD)65mm(不含高度適配器)105mm(帶BX3M-ARMAD)取決于安裝配置觀察筒寬視野FN22倒像：雙目、三目、傾斜式雙目正像：三目、傾斜式雙目超寬視野：三目正像：三目、傾斜式三目反射光照明常規(guī)觀察技術(shù)BX3M-RLAS-S編碼，白光LED，BF/DF/DIC/POL/MIXFS，AS（帶對中裝置）BX3M-KMA-S白光LED，BF/DIC/POL/MIXFS。上海予羅檢測科技有限公司是一家專業(yè)提供金相顯微鏡的公司，有想法的不要錯(cuò)過哦！奧林巴斯金相顯微鏡加裝

所謂金相分析是指通過對金屬顯微鏡組織的分析,來研究金屬中合金生成、冶煉、澆鑄以及加工工藝等信息。奧林巴斯金相顯微鏡采用模塊化設(shè)計(jì),具備適用于多種材料科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用的多功能性。來看看其在文物保護(hù)行業(yè)的應(yīng)用。在考古學(xué)中,主要對古代金屬文物的冶煉鑄造工藝和加工工藝進(jìn)行研究?？梢酝ㄟ^奧林巴斯金相顯微鏡獲取金屬文物的鑄造工藝信息,如了解金屬文物是鑄造態(tài)樹枝晶組織的形貌,還是退火態(tài)的等軸晶組織形貌,晶間腐蝕現(xiàn)象等,還可以觀測到金屬文物腐蝕產(chǎn)物的生成狀態(tài)。金相組織分析是研究古代金屬文物的基本內(nèi)容和方法之一。利用奧林巴斯金相顯微鏡對我國不同時(shí)期的鐵器作了分析及古冶鐵遺址進(jìn)行考察,結(jié)果表明中國古代鋼鐵業(yè)方面,鑄鐵和生鐵制鋼一直是主要加工方法。中國的冶金技術(shù)在明代中葉以前一直居于水平。奧林巴斯金相顯微鏡還可與圖像分析軟件結(jié)合使用,通過與奧林巴斯Stream軟件更加出色的集成能力,可為圖像采集、定量測量和圖像分析、報(bào)告以及高級材料科學(xué)檢測任務(wù)的全過程操作提供快速、高效的檢驗(yàn)工作流程。BX53M為標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡和數(shù)字成像用戶提供了從觀察到報(bào)告創(chuàng)建的無縫工作流程。免責(zé)聲明：本文為企業(yè)宣傳商業(yè)資訊，供用戶參考。奧林巴斯金相顯微鏡加裝金相顯微鏡價(jià)格優(yōu)惠，請找上海予羅檢測科技有限公司，歡迎新老客戶來電！

    直觀的顯微鏡控制舒適而便于使用顯微檢查任務(wù)常常需要用很長的時(shí)間來調(diào)節(jié)顯微鏡設(shè)置、獲取圖像，以及進(jìn)行必要的測量，從而得到令人滿意的報(bào)告。BX53M通過其優(yōu)良的設(shè)計(jì)和便捷的控制功能，簡化了復(fù)雜的顯微檢查任務(wù)。用戶不需要長時(shí)間的培訓(xùn)即可掌握顯微鏡的大多數(shù)功能。BX53M方便而舒適的操作還改善了圖像的再現(xiàn)性，大程度減少了人為錯(cuò)誤。BX53M結(jié)構(gòu)圖奧林巴斯金相顯微鏡BX53M結(jié)構(gòu)圖三、產(chǎn)品特點(diǎn)Infocation1、友好的用戶設(shè)計(jì)照明器的設(shè)計(jì)大程度減少了顯微鏡操作過程中所必須的復(fù)雜操作。照明器前端的旋鈕使用戶能夠輕松地改變觀察方法。操作者可以在反射光顯微鏡檢查時(shí)快速切換常用的觀察方法，比如從明場觀察到暗場觀察，到偏光觀察，以隨時(shí)改變不同類型的分析。此外，可以旋轉(zhuǎn)檢偏鏡來實(shí)現(xiàn)簡單偏光觀察的調(diào)節(jié)。2、精密光學(xué)元件物鏡和滑塊的附件。選擇所需的物鏡數(shù)量和類型；以及是否帶滑塊附件。3、豐富的功能及擴(kuò)展附件BX53M保留了常規(guī)顯微鏡檢查的傳統(tǒng)襯度對比法，比如明場、暗場、偏光和微分干涉。隨著新材料的發(fā)展，現(xiàn)在可以使用先進(jìn)的顯微鏡檢查技術(shù)來進(jìn)行更精確和更可靠的檢查，從而解決了以往很多使用傳統(tǒng)襯度對比法檢查時(shí)遇到的缺陷檢測方面的困難。

    簡單的照明器：傳統(tǒng)技術(shù)易于操作照明器的設(shè)計(jì)*大程度減少了顯微鏡操作過程中通常所必須的復(fù)雜操作。照明器前端的旋鈕使用戶能夠輕松地改變觀察方法。操作者可以在反射光顯微鏡檢查時(shí)快速切換*常用的觀察方法，比如從明場觀察到暗場觀察，到偏光觀察，以隨時(shí)改變不同類型的分析。此外，旋轉(zhuǎn)檢偏鏡即可調(diào)節(jié)簡單的偏光觀察。直觀的顯微鏡控制使用正確的孔徑光闌和視場光闌設(shè)置能夠獲得良好的圖像對比度，還可以充分利用物鏡的數(shù)值孔徑。指示標(biāo)志可引導(dǎo)用戶根據(jù)觀察方法和所用物鏡進(jìn)行正確的設(shè)置。對焦刻度標(biāo)尺：快速找到焦點(diǎn)機(jī)架上的對焦刻度標(biāo)尺支持快速鎖定焦點(diǎn)。操作者可以大致地對準(zhǔn)焦點(diǎn)，而不用通過目鏡查看樣品，從而在檢查具有不同高度的樣品時(shí)節(jié)省了時(shí)間。針對各種檢查和分析任務(wù)的功能保留了常規(guī)顯微鏡檢查的傳統(tǒng)襯度對比法，比如明場、暗場、偏光和微分干涉。隨著新材料的發(fā)展，現(xiàn)在可以使用先進(jìn)的顯微鏡檢查技術(shù)來進(jìn)行更精確和更可靠的檢查，從而解決了以往很多使用傳統(tǒng)襯度對比法檢查時(shí)遇到的缺陷檢測方面的困難。新的照明技術(shù)和奧林巴斯Stream圖像分析軟件內(nèi)的圖像獲取選項(xiàng)為用戶提供了評估樣品、文檔記錄的更多選擇。此外。上海予羅檢測科技有限公司為您提供金相顯微鏡，歡迎您的來電！

舒適且便于使用讓傳統(tǒng)技術(shù)易于操作：簡單的照明器奧林巴斯BX53M金相顯微鏡工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡照明器的設(shè)計(jì)*大程度減少了顯微鏡操作過程中所必須的復(fù)雜操作。照明器前端的旋鈕使用戶能夠輕松地改變觀察方法。操作者可以在反射光顯微鏡檢查時(shí)快速切換*常用的觀察方法，比如從明場觀察到暗場觀察，到偏光觀察，以隨時(shí)改變不同類型的分析。此外，可以旋轉(zhuǎn)檢偏鏡來實(shí)現(xiàn)簡單偏光觀察的調(diào)節(jié)。操作者能夠在經(jīng)常使用的觀察方法之間快速切換（AlSi的拋光態(tài)樣品）直觀的顯微鏡控制：視場光闌和孔徑光闌的簡單設(shè)置使用正確的孔徑光闌和視場光闌設(shè)置能夠獲得良好的圖像對比度，還可以充分利用物鏡的數(shù)值孔徑。指示標(biāo)志可引導(dǎo)用戶根據(jù)觀察方法和所用物鏡進(jìn)行正確的設(shè)置?？焖僬业浇裹c(diǎn)：對焦刻度標(biāo)尺奧林巴斯BX53M金相顯微鏡工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡機(jī)架上的對焦刻度標(biāo)尺可以讓操作者快速鎖定焦點(diǎn)。操作者不用通過目鏡查看樣品就可以大致地對準(zhǔn)焦點(diǎn)，從而在檢查具有不同高度的樣品時(shí)節(jié)省了時(shí)間。一致的照明：智能光強(qiáng)管理在初始設(shè)定時(shí)，可以調(diào)節(jié)照明強(qiáng)度，使其與編碼照明器和/或編碼物鏡轉(zhuǎn)換器的特定硬件配置匹配。金相顯微鏡，請選擇上海予羅檢測科技有限公司，歡迎客戶來電！奧林巴斯金相顯微鏡加裝

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兩種機(jī)架都可配置手動(dòng)、編碼或電動(dòng)部件，并且都配備有ESD防靜電功能。IR物鏡可用于透過硅材料成像，進(jìn)行半導(dǎo)體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡，提供了從可見光波長到近紅外的像差校正。對于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡，校正由樣品厚度導(dǎo)致的像差。使用一個(gè)物鏡即可獲取清晰的圖像。物鏡放大倍率.(mm)蓋玻片厚度（mm）硅厚度（mm）分辨率*1(μm)LMPLN-IR5X——*3*3LCPLN-IR*220X50X*3*3*3*1孔徑光闌全開時(shí)計(jì)算的分辨率*2高到FN22，不適用于*3使用1100nm波長IR物鏡無校正環(huán)有校正環(huán)BX53M偏光觀察BX53M偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究，都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng)。BX53M正像鏡檢偏光配置BX53M錐光鏡檢偏光配置用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡單而快捷?？梢郧逦貙购蠼蛊矫娴母缮鎴D樣。勃氏鏡的視場光闌使其能夠始終獲取銳利而清晰的錐光圖像。偏光附件無應(yīng)力光學(xué)元件UPLFLN-P無應(yīng)力物鏡得益于奧林巴斯前列的設(shè)計(jì)和制造技術(shù)，將內(nèi)部應(yīng)力降到了低。這就意味著更高的EF值。奧林巴斯金相顯微鏡加裝