實驗室輪廓儀國內(nèi)代理

來源: 發(fā)布時間:2022-05-10

輪廓儀的性能測量模式移相干涉(PSI),白光垂直掃描干涉(VSI),單色光垂直掃描干涉(CSI)樣品臺150mm/200mm/300mm樣品臺(可選配)XY平移:±25mm/150mm/200mm/300mm,傾斜:±5°可選手動/電動樣品臺CCD相機像素標配:1280×960視場范圍560×750um(10×物鏡)具體視場范圍取決于所配物鏡及CCD相機光學系統(tǒng)同軸照明無限遠干涉成像系統(tǒng)光源高效LEDZ方向聚焦80mm手動聚焦(可選電動聚焦)Z方向掃描范圍精密PZT掃描(可選擇高精密機械掃描,拓展達10mm)縱向分辨率<0.1nmRMS重復性*0.005nm,1σ臺階測量**準確度≤0.75%;重復性≤0.1%,1σ橫向分辨率≥0.35um(100倍物鏡)檢測速度≤35um/sec,與所選的CCD輪廓儀可用于:散熱材料表面粗糙度分析(粗糙度控制),生物、醫(yī)藥新技術,微流控器件。實驗室輪廓儀國內(nèi)代理

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NanoX-8000系統(tǒng)主要性能?菜單式系統(tǒng)設置,一鍵式操作,自動數(shù)據(jù)存儲?一鍵式系統(tǒng)校準?支持連接MES系統(tǒng),數(shù)據(jù)可導入SPC?具備異常報警,急停等功能,報警信息可儲存?MTBF≥1500hrs?產(chǎn)能:45s/點(移動+聚焦+測量)(掃描范圍50um)?具備Globalalignment&Unitalignment?自動聚焦范圍:±0.3mm?XY運動速度蕞快表面三維微觀形貌測量的意義在生產(chǎn)中,表面三維微觀形貌對工程零件的許多技術性能的評家具有蕞直接的影響,而且表面三維評定參數(shù)由于能更權(quán)面,更真實的反應零件表面的特征及衡量表面的質(zhì)量而越來越受到重視,因此表面三維微觀形貌的測量就越顯重要。通過兌三維形貌的測量可以比較權(quán)面的評定表面質(zhì)量的優(yōu)劣,進而確認加工方法的好壞以及設計要求的合理性,這樣就可以反過來通過知道加工,優(yōu)化加工工藝以及加工出高質(zhì)量的表面,確保零件使用功能的實現(xiàn)。表面三位微觀形貌的此類昂方法非常豐富,通??煞譃榻佑|時和非接觸時兩種,其中以非接觸式測量方法為主。江蘇輪廓儀值得買輪廓儀可用于:微結(jié)構(gòu)均勻性 缺 陷,表面粗糙度。

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超納輪廓儀的主設計簡介:中組部第十一批“****”****,美國KLA-Tencor(集成電路行業(yè)檢測設備市場的籠頭企業(yè))資申研發(fā)總監(jiān),干涉測量技術**美國上市公司ADE-Phaseift的總研發(fā)工程師,創(chuàng)造多項干涉測量數(shù)字化所需的關鍵算法,在光測領域發(fā)表23個美國專利和35篇學術論文3個研發(fā)的產(chǎn)品獲得大獎,國家教育部弟一批公派研究生,83年留學美國。光學輪廓儀可廣泛應用于各類精密工件表面質(zhì)量要求極高的如:半導體、微機電、納米材料、生物醫(yī)療、精密涂層、科研院所、航空航天等領域??梢哉f只要是微型范圍內(nèi)重點部位的納米級粗糙度、輪廓等參數(shù)的測量,除了三維光學輪廓儀,沒有其它的儀器設備可以達到其精度要求。(網(wǎng)絡)。

NanoX-8000輪廓儀的自動化系統(tǒng)主要配置:?XY最大行程650*650mm?支持415*510mm/510*610mm兩種尺寸?XY光柵分辨率0.1um,定位精度5um,重復精度1um?XY平臺蕞大移動速度:200mm/s?Z軸聚焦:100mm行程自動聚焦,0.1um移動步進?隔振系統(tǒng):集成氣浮隔振+大理石基石?配置真空臺面?配置Barcode掃描板邊二維碼,可自動識別產(chǎn)品信息?主設備尺寸:1290(W)x1390(D)x2190(H)mm如果想要了解更加詳細的產(chǎn)品信息,請聯(lián)系我們岱美儀器技術服務有限公司。反射光通過MPD的珍孔減小到聚焦的部分落在CCD相機上。

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一、從根源保障物件成品的準確性:通過光學表面三維輪廓儀的掃描檢測,得出物件的誤差和超差參數(shù),積大提高物件在生產(chǎn)加工時的精確度。杜絕因上游的微小誤差形成“蝴蝶效應”,造成下游生產(chǎn)加工的更大偏離,蕞終導致整個生產(chǎn)鏈更大的損失。二、提高效率:智能化檢測,全自動測量,檢測時只需將物件放置在載物臺,然后在檢定軟件上選擇相關參數(shù),即可一鍵分析批量測量。擯棄傳統(tǒng)檢測方法耗時耗力,精確度低的缺點,積大提高加工效率。輪廓儀可用于高精密材料表面缺 陷超精密表面缺 陷分析,核探測。四川輪廓儀應用

測量模式:移相干涉(PSI),白光垂直掃描干涉(VSI),單色光垂直掃描干涉(CSI)。實驗室輪廓儀國內(nèi)代理

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