引起超聲波衰減的主要原因是波束擴(kuò)散、晶粒散射和介質(zhì)吸收。1.擴(kuò)散衰減超聲波在傳播過程中,由于波束的擴(kuò)散,使超聲波的能量隨距離增加而逐漸減弱的現(xiàn)象稱為擴(kuò)散衰減。超聲波的擴(kuò)散衰減*取決于波陣面的形狀,與介質(zhì)的性質(zhì)無關(guān)。平面波波陣面為平面,波束不擴(kuò)散,不存在擴(kuò)散衰減。柱面波波陣面為同軸圓柱面。波束向四周擴(kuò)散,存在擴(kuò)散衰減,聲壓與距離的平方根成反比。球面波波陣面為同心球面,波束向四面八方擴(kuò)散,存在擴(kuò)散衰減,聲壓與距離成反比。2.散射衰減超聲波在介質(zhì)中傳播時,遇到聲阻抗不同的界面產(chǎn)生散亂反射引起衰減的現(xiàn)象,稱為散射衰減。散射衰減與材質(zhì)的晶粒密切相關(guān),當(dāng)材質(zhì)晶粒粗大時,散射衰減嚴(yán)重,被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播到探頭,在示波屏上引起草狀回波(又叫草波),使信噪比下降,嚴(yán)重時噪聲會淹沒缺陷波。3.吸收衰減超聲波在介質(zhì)中傳播時,由于介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)間內(nèi)摩擦(即黏滯性)和熱傳導(dǎo)引起超聲波的衰減,稱為吸收衰減或黏滯衰減。除了以上三種衰減外,還有位錯引起的衰減,磁疇壁引起的衰減和殘余應(yīng)力引起的衰減等。通常所說的介質(zhì)衰減是指吸收衰減與散射衰減,不包括擴(kuò)散衰減。繪環(huán)HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷主要應(yīng)用場合。山西超聲波探傷儀品牌排行
對焊風(fēng)險的超聲波橫波探傷中,通常會用到DAC曲線,對缺陷當(dāng)量大小常用DAC±dB或SL±dB的方法來表示。而對鍛、鑄件的超聲波縱波探傷中,通常會用到AVG曲線。AVG曲線是描述規(guī)則反射體的距離、回波高度及當(dāng)量大小之間關(guān)系的曲線。AVG曲線按照通用性分為通用AVG和實(shí)用AVG;按照波形不同分為縱波AVG和橫波AVG;按照反射體不同分為平底孔AVG和橫孔AVG。DAC距離—波幅曲線是描述某一確定反射體回波高度隨距離變化的關(guān)系曲線。AVG曲線采用歸一化距離A和歸一化缺陷當(dāng)量大小G來表示。當(dāng)A<1時,由于波的干涉,使平底孔回波聲壓出現(xiàn)極大值;在A<3的區(qū)域內(nèi),由于理論公式不適用,因此該區(qū)域內(nèi)的曲線一般不繪出或由實(shí)測得到。繪環(huán)電子的HUT-3X0系列超聲波探傷儀對A<3區(qū)域內(nèi)的曲線進(jìn)行了編程存儲于儀器內(nèi)部,用戶只需要設(shè)置好探頭的相關(guān)參數(shù)就可直接調(diào)用。上海便攜式超聲波探傷儀廠家供應(yīng)HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀航空航天行業(yè)的超聲波檢測解決方案。
超聲檢測中,超聲波的發(fā)射和接收都是通過探頭來實(shí)現(xiàn)的。探頭的選擇包括探頭的型式、頻率、帶寬、晶片尺寸和橫波斜探頭K值的選擇等。1.探頭型式的選擇常用的探頭型式有縱波直探頭、橫波斜探頭、縱波斜探頭、雙晶探頭、聚焦探頭等??v波直探頭波束軸線垂直于檢測面,主要用于檢測與檢測面平行或近似平行的缺陷。橫波斜探頭主要用于檢測與檢測面垂直或成一定角度的缺陷。縱波斜探頭主要是利用小角度的縱波進(jìn)行檢測,或在橫波衰減過大的情況下,利用縱波穿透能力強(qiáng)的特點(diǎn)進(jìn)行斜人射縱波檢測。雙晶探頭用于檢測薄壁工件或近表面缺陷。水浸聚焦探頭可用于檢測管材或板材;接觸聚焦探頭可有效提高信噪比,但檢測范圍較小,可用于已發(fā)現(xiàn)缺陷的精確定量等目的。2.探頭頻率的選擇超聲波檢測頻率一般在~10MHz之間,在選擇頻率時應(yīng)明確以下幾點(diǎn):(1)提高頻率,有利于發(fā)現(xiàn)更小的缺陷。(2)頻率越高,脈沖寬度越小,分辨力也就越高,有利于區(qū)分相鄰缺陷且缺陷定位精度高。(3)頻率高,波長越短,聲束指向性也就越好,發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)。(4)頻率高,近場區(qū)長度越大,對檢測不利。(5)頻率越高,衰減越大。信噪比下降,從而導(dǎo)致缺陷檢出困難。
IIW2試塊IIW2試塊也是荷蘭**提出來的國際焊接學(xué)會標(biāo)準(zhǔn)試塊,由于外形類似牛角,故又稱牛角試塊。與IIW試塊相比,IIW2試塊質(zhì)量輕、尺寸小、形狀簡單、容易加工和便于攜帶,但功能不及IIW試塊。IIW2試塊的材質(zhì)同IIW。當(dāng)斜探頭對準(zhǔn)R25時,R25反射回波一部分被探頭接收,顯示B1另一部分反射至R50,然后又返回探頭,但這時不能被接收因此無回波。當(dāng)此反射波再次經(jīng)R25反射回到探頭時才能被接收,這時顯示B2,它與B的間距為R25+R50。以后各次回波間距均為R25+R50。IIW2試塊的主要用途如下:1)測定超聲波斜探頭的入射點(diǎn):利用R25與R50圓弧反射面測。2)測定超聲波斜探頭的折射角:利用φ5mm橫通孔測。3)測定超聲波探傷儀器水平、垂直線性和動態(tài)范圍:利用厚度12.5測。4)調(diào)整檢測范圍和掃描速度:超聲波縱波直探頭利用12.5底面的多次反射波調(diào)整,超聲波橫波斜探頭利用R25和R50調(diào)整。5)測定超聲波探傷儀器和超聲波探頭的組合靈敏度:利用φ5mm或R50圓弧面測。HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀船舶制造行業(yè)超聲波檢測解決方案。
一、可測定儀器及探頭的性能參考試塊可用來測定掃描線性、盲區(qū)、分辨力、波束特性等。同時也可測定儀器的“距離--振幅”特性及“面積--振幅”特性。所謂“距離一振幅”特性,即試塊中人工缺陷(一般為平底孔)的面積相同,但距離不同時.探測人工缺陷,反射波高度的變化情況?!懊娣e--振幅”特性則相反,即探測試塊中人工缺陷面積相同,但距離不同時,反射波高度的變化情況。二、調(diào)整和控制探傷靈敏度根據(jù)探傷的要求,在規(guī)定的參考試塊上調(diào)整儀器靈敏度,使缺陷波達(dá)到規(guī)定的高度,在探傷過程中或間隔一段時間后,仍用該試塊調(diào)整,以保證靈敏度恒定不變。三、確定缺陷的大小在與缺陷距離相同,但人工缺陷直徑不同的試塊上探測,當(dāng)某一人工缺陷的反射波高度與實(shí)際缺陷反射波高度相等或接近時,該人工缺陷的尺寸即為實(shí)際缺陷的當(dāng)量尺寸。HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀耦合劑的選用技巧。煙臺陶瓷檢測探傷儀怎么用
HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀檢測范圍。山西超聲波探傷儀品牌排行
在橫波檢測中,探頭的K值對缺陷檢出率、檢測靈敏度、聲束軸線的方向,一次波的聲程(入射點(diǎn)至底面反射點(diǎn)的距離)有較大的影響。由K=tanβs可知,K越值大,βs也越大,一次波的聲程也就越大。因此在實(shí)際檢測中,當(dāng)工件厚度較小時,應(yīng)選用較大的K值,以便增加一次波的聲程,避免近場區(qū)檢測。當(dāng)工件厚度較大時,應(yīng)選用較小的K值,以減少聲程過大引起的衰減,便于發(fā)現(xiàn)深度較大處的缺陷。在焊縫檢測中,K值的選擇既要考慮到可能產(chǎn)生的缺陷與檢測面形成的角度,還要保證主聲束能掃查整個焊縫截面。為了檢測單面焊根部是否焊透,還應(yīng)考慮端角反射問題,使K=0.7~1.5,因?yàn)镵<0.7或K>1.5,端角反射率很低,容易引起漏檢。山西超聲波探傷儀品牌排行
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