茂名AOI檢測設(shè)備維保

AOI的種類由于設(shè)計(jì)思路及性能的不同，AOI系統(tǒng)可大致分為以下幾種：1)按圖象拾取設(shè)備分類：①使用黑白CCD攝像頭②使用彩色CCD攝像頭③使用高分辨率掃描儀2）按測試項(xiàng)目分類：①主要檢測焊點(diǎn)②主要檢測元件③元件和焊點(diǎn)都檢測3）按設(shè)備的結(jié)構(gòu)分類①需要?dú)庠垂猗诓恍铓庠垂?）按測試時(shí)的相對運(yùn)動方式分類①電路板固定，攝像頭或掃描儀移動②攝像頭和電路板各往一個(gè)方向運(yùn)動③攝像頭固定，電路板進(jìn)行兩個(gè)方向的運(yùn)動AOI的三種機(jī)型：結(jié)合以上的各種配置，形成了主要的三種機(jī)器類型：回流爐前無氣源，電路板固定，元件檢測為主，連焊檢測為輔?；亓鳡t后使用，需要?dú)庠矗娐钒鍎樱M(jìn)行元件、焊點(diǎn)、連焊檢測?？杉嫒菀陨蟽身?xiàng)的檢測，無氣源，電路板固定不動。AOI在SMT各工序的應(yīng)用?茂名AOI檢測設(shè)備維保

AOI檢測常見故障有哪些？1、字符檢測誤報(bào)較多AOI靠識別元件外形或文字等來判斷元件是否貼錯(cuò)等，字符檢測誤報(bào)主要是由于元器件字符印刷及不同生產(chǎn)批次、不同元器件廠家料品字符印刷方式不同以及字符印刷顏色深淺、模糊或者灰塵等引起的誤判，需要用戶不斷的更改完善元件庫參數(shù)以及減少檢測關(guān)鍵字符數(shù)量的方法來減少誤報(bào)的出現(xiàn)。2、存在屏蔽圈遮蔽點(diǎn)、斜角相機(jī)的檢測盲區(qū)等問題在實(shí)際生產(chǎn)檢測中，事實(shí)證明合理的PCB布局以及料品的選擇可以減少盲區(qū)的存在。在實(shí)際布局過程中盡量采取合理的布局將極大減少檢測盲區(qū)的存在，同時(shí)在有遮擋的元件布局中可以考慮將元件旋轉(zhuǎn)90度以改變斜角相機(jī)的照射角度去避免元件引腳遮擋。同時(shí)元器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm（0.12”）的工藝邊，并采用片式器件優(yōu)先于圓柱形器件的選型方式。3、多錫、少錫、偏移、歪斜等問題工藝要求標(biāo)準(zhǔn)界定不同容易導(dǎo)致的誤判焊點(diǎn)的形狀和接觸角是焊點(diǎn)反射的根源，焊點(diǎn)的形成依賴于焊盤的尺寸、器件的高度、焊錫的數(shù)量和回流工藝參數(shù)等因素。為了防止焊接反射，應(yīng)當(dāng)避免器件對稱排列，同時(shí)合理的焊盤設(shè)計(jì)也將極大減少誤判現(xiàn)象的發(fā)生。詳情歡迎來電咨詢佛山精密AOI檢測設(shè)備在SMT中，AOI主要應(yīng)用于焊膏印刷檢測、元件檢驗(yàn)、焊后組件檢測。

AOI光學(xué)檢測與X-RAY無損檢測兩者之間的區(qū)別事實(shí)上，SMT當(dāng)中的AOI和X-RAY這兩者之間的功能是完全不一樣的，大家一定不要將其混為一談，盡管它們的基本原理都是通過光的反射來對元件的貼裝是否正確、位置是否良好以及有無漏貼等現(xiàn)象進(jìn)行檢查。AOI的原理以及優(yōu)勢AOI實(shí)際上是較近幾年在市場上才出現(xiàn)的新型檢測設(shè)備，它的全稱為“自動光學(xué)檢測”，它是基于光學(xué)的原理來對焊接生產(chǎn)過程當(dāng)中所遇到的一些常見的缺陷進(jìn)行檢測的一種設(shè)備，比如它在用于SMT貼片當(dāng)中，對檢測元件的焊接之前的貼裝不良進(jìn)行檢測，包括電子元件的缺件、反向、偏位等進(jìn)行檢測，還可以對電子元器件經(jīng)回焊爐之后的焊接不良、缺件等進(jìn)行檢測。X-RAY的原理以及行業(yè)優(yōu)勢而作為時(shí)下市面上主流的檢測設(shè)備X-RAY實(shí)際上指的就是X光，它的原理是在不損壞被檢測物體的前提之下，通過X光來對那些非金屬物質(zhì)特性的物質(zhì)進(jìn)行穿透，比如對BGA元件的焊接是否良好以及有沒有短路現(xiàn)象的檢測；如果說的更加直白一些，那就是AOI檢測的是產(chǎn)品的平面，而X-RAY檢測的則是產(chǎn)品的內(nèi)部，比如鋰電池、IC芯片等產(chǎn)品有無短路、空焊、漏焊等缺陷。

AOI為什么會逐漸取代人工目檢？現(xiàn)在的人工越來越貴，并且人員管理也越來越難，人工目檢還會出現(xiàn)漏檢或錯(cuò)檢，因此在線AOI逐漸取代人工目檢，達(dá)到節(jié)約成本、提高生產(chǎn)效率、降低誤判率、提高直通率等等，在現(xiàn)代的EMS加工廠中，大量的AOI逐漸取代人工目檢，效率也更快。AOI檢測設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)1、解決了微型封裝器件的結(jié)構(gòu)性檢查問題，保證生產(chǎn)質(zhì)量；2、提高了后端測試的直通率，降低維修成本；3、隨著技術(shù)的發(fā)展，AOI測試程序快捷簡便，降低了生產(chǎn)所需的大量測試成本；AOI檢測設(shè)備的缺點(diǎn)1.灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方，比較容易出現(xiàn)誤判，2.被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn)，比較容易出現(xiàn)漏檢人工目檢+AOI自動檢測結(jié)合是目前的主流方式，如果放置了AOI自動檢測儀，人工目檢人員崗可以設(shè)置較少人員隨著電子精密化趨勢發(fā)展，越來越多的使用了屏蔽罩，因此有實(shí)力的加工廠還會在多功能機(jī)前加一個(gè)爐前AOI，用來專門檢測屏蔽罩下的元件貼裝品質(zhì)。AOI設(shè)備的原理有哪些呢？

AOI檢測系統(tǒng)的軟件組成結(jié)合光學(xué)感測系統(tǒng)采集到的圖像數(shù)據(jù)，AOI檢測系統(tǒng)的軟件主要包括算法、影像處理軟件和通訊軟件。同樣AOI系統(tǒng)判斷一個(gè)組件是否是合格，也會設(shè)定一個(gè)規(guī)則，滿足規(guī)則的就合格，不滿足規(guī)則就是不良品。這個(gè)規(guī)則標(biāo)準(zhǔn)建模的方法即是算法，算法是整個(gè)軟件系統(tǒng)的重中之重，也是AOI檢測廠商的重要競爭力。AI成為AOI檢測技術(shù)進(jìn)一步發(fā)展的關(guān)鍵因素。以AOI檢測應(yīng)用范圍廣的PCB行業(yè)為例，中低端AOI檢測設(shè)備的誤判過篩率約為70%，即捕捉到的不良品中其實(shí)有70%的成品是合格的。因此目前PCB廠商多采取人工二次篩選，將實(shí)際合格的PCB板再度送回產(chǎn)線，預(yù)估一臺AOI檢測機(jī)常需配置4名人員進(jìn)行二次檢查。伴隨AI技術(shù)的迅速發(fā)展，也給AOI檢測行業(yè)帶來了技術(shù)革新的契機(jī)。傳統(tǒng)AOI檢測與AIAOI辨識的差異，在于是否可針對未知瑕疵進(jìn)行判定，傳統(tǒng)AOI檢測設(shè)備只能以設(shè)定好的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)為基準(zhǔn)進(jìn)行判斷，也就是邏輯性的思考，需要先定義瑕疵的樣本，再透過樣本進(jìn)行檢測。但導(dǎo)入訓(xùn)練成熟的AI技術(shù)后，AIAOI檢測系統(tǒng)能夠自行定義瑕疵范圍，進(jìn)一步有效判別未知的瑕疵圖像，且這個(gè)學(xué)習(xí)的過程是在不斷重復(fù)進(jìn)行積累的。AOI主要特點(diǎn)有哪些呢？廣州精密AOI檢測設(shè)備技術(shù)參數(shù)

在線AOI與離線AOI的區(qū)別是什么呢？茂名AOI檢測設(shè)備維保

AOI的發(fā)展需求集成電路（IC）當(dāng)然是現(xiàn)今人類工業(yè)制造出來結(jié)構(gòu)較為精細(xì)的人造物之一，而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè)，AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測需求。具體有以下幾種示例：①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測，典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等，既需要高精度又需要高效率的大量檢測②精密零件與制程的精密加工與檢測，典型應(yīng)用就是針對工具機(jī)、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測，具有高精度、量測條件多變等特點(diǎn)③生物醫(yī)學(xué)檢測應(yīng)用，典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡，結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷。④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測；詳情歡迎來電咨詢。茂名AOI檢測設(shè)備維保

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