在實(shí)際開展失效分析工作前，通常需要準(zhǔn)備好檢測(cè)樣品，并完成一系列前期驗(yàn)證，以便為后續(xù)分析提供明確方向。通過在早期階段進(jìn)行充分的背景調(diào)查與電...
在電性失效分析領(lǐng)域，微光顯微鏡 EMMI 常用于檢測(cè)擊穿通道、漏電路徑以及器件早期退化區(qū)域。芯片在高壓或大電流應(yīng)力下運(yùn)行時(shí)，這些缺陷部位會(huì)產(chǎn)...
微光紅外顯微儀是一種高靈敏度的失效分析設(shè)備，可在非破壞性條件下，對(duì)封裝器件及芯片的多種失效模式進(jìn)行精細(xì)檢測(cè)與定位。其應(yīng)用范圍涵蓋：芯片封裝打...
EMMI 的技術(shù)基于半導(dǎo)體物理原理，當(dāng)半導(dǎo)體器件內(nèi)部存在缺陷導(dǎo)致異常電學(xué)行為時(shí)，會(huì)引發(fā)電子 - 空穴對(duì)的復(fù)合，進(jìn)而產(chǎn)生光子發(fā)射。設(shè)備中的高靈...
蘇州致晟光電科技有限公司作為光電技術(shù)領(lǐng)域創(chuàng)新先鋒，依托南京理工大學(xué)–光電技術(shù)學(xué)院的科研優(yōu)勢(shì)，構(gòu)建產(chǎn)學(xué)研深度融合的技術(shù)研發(fā)體系。我司專注于微弱信號(hào)處理技術(shù)深度開發(fā)與場(chǎng)景化應(yīng)用，已成功推出多系列光電檢測(cè)設(shè)備及智能化解決方案。 致晟光電秉承著以用戶的實(shí)際需求為錨點(diǎn)，將研發(fā)與需求緊密結(jié)合，致力于為客戶創(chuàng)造實(shí)用、易用且高附加值的產(chǎn)品。我司通過自主創(chuàng)新，追求用戶體驗(yàn)，為企業(yè)提供從生產(chǎn)線到實(shí)驗(yàn)室完備的失效分析解決方案。
