DDR地址、命令總線的一致性測試
DDR的地址、命令總線的信號完整性測試主要測試其波形和時序參數(shù)。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測試的信號品質(zhì)主要包括:Vmax (最大電壓值);Vmin (小電壓值);Overshoot (過沖)和Undershoot (下沖)的持續(xù)時間的大值;Slew Rate (斜率);Ringback (回溝)等。還需要測試相對于時鐘邊沿的Setup Time (建立時間)和Hold Time (保持時間)。建立時間和保持時間的定義如圖7.134所示,其中加為建立時間,如為 保持時間,針對DDR400,加和如為0.7ns。
DDR4 和 LPDDR4 一致性測試軟件。重慶設備DDR一致性測試
克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室
DDR SDRAM即我們通常所說的DDR內(nèi)存,DDR內(nèi)存的發(fā)展已經(jīng)經(jīng)歷了五代,目前 DDR4已經(jīng)成為市場的主流,DDR5也開始進入市場。對于DDR總線來說,我們通常說的 速率是指其數(shù)據(jù)線上信號的快跳變速率。比如3200MT/s,對應的工作時鐘速率是 1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數(shù)據(jù)線上比較高傳輸速率,由于在DDR總線 上會有讀寫間的狀態(tài)轉(zhuǎn)換時間、高阻態(tài)時間、總線刷新時間等,因此其實際的總線傳輸速率 達不到這個理想值。 測量DDR一致性測試價格優(yōu)惠82496 DDR信號質(zhì)量的測試方法、測試裝置與測試設備與流程;
對于嵌入式應用的DDR的協(xié)議測試, 一般是DDR顆粒直接焊接在PCB板上,測試可 以選擇針對邏輯分析儀設計的BGA探頭。也可以設計時事先在板上留測試點,把被測信 號引到一些按一定規(guī)則排列的焊盤上,再通過相應探頭的排針頂在焊盤上進行測試。
協(xié)議測試也可以和信號質(zhì)量測試、電源測試結(jié)合起來,以定位由于信號質(zhì)量或電源問題 造成的數(shù)據(jù)錯誤。圖5.23是一個LPDDR4的調(diào)試環(huán)境,測試中用邏輯分析儀觀察總線上 的數(shù)據(jù),同時用示波器檢測電源上的紋波和瞬態(tài)變化,通過把總線解碼的數(shù)據(jù)和電源瞬態(tài)變 化波形做時間上的相關(guān)和同步觸發(fā),可以定位由于電源變化造成的總線讀/寫錯誤問題。
DDR時鐘總線的一致性測試
DDR總線參考時鐘或時鐘總線的測試變得越來越復雜,主要測試內(nèi)容可以分為兩方面:波形參數(shù)和抖動。波形參數(shù)主要包括:Overshoot(過沖);Undershoot(下沖);SlewRate(斜率);RiseTime(上升時間)和FallTime(下降時間);高低時間;DutyCycle(占空比失真)等,測試較簡單,在此不再贅述。抖動測試則越來越復雜,以前一般只是測試Cycle-CycleJitter(周期到周期抖動),但是當速率超過533MT/S的DDR2&3時,測試內(nèi)容相當多,不可忽略。表7-15是DDR2667的規(guī)范參數(shù)。對這些抖動參數(shù)的測試需要用軟件實現(xiàn),比如Agilent的N5413ADDR2時鐘表征工具。測試建議用系統(tǒng)帶寬4GHz以上的差分探頭和示波器,測試點在DIMM上靠近DRAM芯片的位置,被測系統(tǒng)建議運行MemoryTest類的總線加壓軟件。 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗證的總線解碼器。
測試軟件運行后,示波器會自動設置時基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進行測量并匯總成一 個測試報告,測試報告中列出了測試的項目、是否通過、spec的要求、實測值、margin等。 自動測試軟件進行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子。信號質(zhì)量的測試還可以 輔 助 用 戶 進 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 , 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能,用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,并分析對信號質(zhì) 量的影響。
除了一致性測試以外,DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個關(guān)鍵參數(shù)測試 失敗后,可以針對這個參數(shù)進行Debug。此時,測試軟件會捕獲、存儲一段時間的波形并進 行參數(shù)統(tǒng)計,根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時對應的波形位置, DDR地址、命令總線的一致性測試。湖南DDR一致性測試聯(lián)系人
4代DDR之間有什么區(qū)別?重慶設備DDR一致性測試
(2)根據(jù)讀/寫信號的幅度不同進行分離。如果PCB走線長度比較 長,在不同位置測試時可能讀/寫信號的幅度不太一樣,可以基于幅度進行觸發(fā)分離。但是 這種方法對于走線長度不長或者讀/寫信號幅度差別不大的場合不太適用。
(3)根據(jù)RAS、CAS、CS、WE等控制信號進行分離。這種方法使用控制信號的讀/寫 來判決當前的讀寫指令,是可靠的方法。但是由于要同時連接多個控制信號以及Clk、 DQS、DQ等信號,要求示波器的通道數(shù)多于4個,只有帶數(shù)字通道的混合信號示波器才能 滿足要求,而且數(shù)字通道的采樣率也要比較高。圖5.11是用帶高速數(shù)字通道的示波器觸發(fā) 并采集到的DDR信號波形。 重慶設備DDR一致性測試
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