眼圖測試DDR一致性測試維修價格

DDR的信號探測技術

在DDR的信號測試中，還有 一 個要解決的問題是怎么找到相應的測試點進行信號探 測。由于DDR的信號不像PCle、SATA、USB等總線 一 樣有標準的連接器，通常都是直接 的BGA顆粒焊接，而且JEDEC對信號規(guī)范的定義也都是在內(nèi)存顆粒的BGA引腳上，這就 使得信號探測成為一個復雜的問題。

比如對于DIMM條的DDR信號質(zhì)量測試來說，雖然在金手指上測試是方便的找到 測試點的方法，但是測得的信號通常不太準確。原因是DDR總線的速率比較高，而且可能 經(jīng)過金手指后還有信號的分叉，這就造成金手指上的信號和內(nèi)存顆粒引腳上的信號形狀差異很大。 DDR5 接收機一致性和表征測試應用軟件。眼圖測試DDR一致性測試維修價格

相關器件的應用手冊，ApplicationNote:在這個文檔中，廠家一般會提出一些設計建議，甚至參考設計，有時該文檔也會作為器件手冊的一部分出現(xiàn)在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準備中，要注意這些信息是否齊備。

參考設計，ReferenceDesiqn:對于比較復雜的器件，廠商一般會提供一些參考設計，以幫助使用者盡快實現(xiàn)解決方案。有些廠商甚至會直接提供原理圖，用戶可以根據(jù)自己的需求進行更改。

IBIS 文件:這個對高速設計而言是必需的，獲得的方法前面已經(jīng)講過。 重慶解決方案DDR一致性測試用于 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗證的總線解碼器。

DDR-致性測試探測和夾具

DDR的信號速率都比較高，要進行可靠的測量，通常推薦的探頭連接方式是使用焊接式 探頭。還有許多很難在PCB板上找到相應的測試焊盤的情況（比如釆用盲埋孔或雙面BGA 焊接的情況），所以Agilent還提供了不同種類的BGA探頭，通過對板子做重新焊接將BGA 的Adapter焊接在DDR的memory chip和PCB板中間，并將信號引出。DDR3的 BGA探頭的焊接例子。

DDR是需要進行信號完整性測試的總線中復雜的總線，不僅走線多、探測困難，而且 時序復雜，各種操作交織在一起。本文分別從時鐘、地址、命令、數(shù)據(jù)總線方面介紹信號完 整性一致性測試的一些要點和方法，也介紹了自動化測試軟件和測試夾具,但是真正測試DDR 總線仍然是一件比較有挑戰(zhàn)的事情。

如果PCB的密度較高，有可能期望測量的引腳附近根本找不到合適的過孔(比如采用雙面BGA貼裝或采用盲埋孔的PCB設計時),這時就需要有合適的手段把關心的BGA引腳上的信號盡可能無失真地引出來。為了解決這種探測的難題，可以使用一種專門的BGAInterposer(BGA芯片轉(zhuǎn)接板，有時也稱為BGA探頭)。這是一個專門設計的適配器，使用時要把適配器焊接在DDR的內(nèi)存顆粒和PCB板中間，并通過轉(zhuǎn)接板周邊的焊盤把被測信號引出。BGA轉(zhuǎn)接板內(nèi)部有專門的埋阻電路設計，以盡可能減小信號分叉對信號的影響。一個DDR的BGA探頭的典型使用場景。DDR4存儲器設計的信號完整性。

在進行接收容限測試時，需要用到多通道的誤碼儀產(chǎn)生帶壓力的DQ、DQS等信號。測 試 中 被 測 件 工 作 在 環(huán) 回 模 式 ， D Q 引 腳 接 收 的 數(shù) 據(jù) 經(jīng) 被 測 件 轉(zhuǎn) 發(fā) 并 通 過 L B D 引 腳 輸 出 到 誤碼儀的誤碼檢測端口。在測試前需要用示波器對誤碼儀輸出的信號進行校準，如DQS與 DQ的時延校準、信號幅度校準、DCD與RJ抖動校準、壓力眼校準、均衡校準等。圖5.21 展示了一整套DDR5接收端容限測試的環(huán)境。

DDR4/5的協(xié)議測試

除了信號質(zhì)量測試以外，有些用戶還會關心DDR總線上真實讀/寫的數(shù)據(jù)是否正確， 以及總線上是否有協(xié)議的違規(guī)等，這時就需要進行相關的協(xié)議測試。DDR的總線寬度很  寬，即使數(shù)據(jù)線只有16位，加上地址、時鐘、控制信號等也有30多根線，更寬位數(shù)的總線甚  至會用到上百根線。為了能夠?qū)@么多根線上的數(shù)據(jù)進行同時捕獲并進行協(xié)議分析，適  合的工具就是邏輯分析儀。DDR協(xié)議測試的基本方法是通過相應的探頭把被測信號引到  邏輯分析儀，在邏輯分析儀中運行解碼軟件進行協(xié)議驗證和分析。 DDR讀寫眼圖分離的InfiniiScan方法？湖南DDR一致性測試銷售價格

DDR-致性測試探測和夾具；眼圖測試DDR一致性測試維修價格

D D R 5 的 接 收 端 容 限 評 估 需 要 通 過 接 收 容 限 的 一 致 性 測 試 來 進 行 ， 主 要 測 試 的 項 目 有 D Q 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 的 抖 動 容 限 、 D Q 與 D Q S 的 時 序 容 限、DQ的壓力眼測試、DQ的均衡器特性等。

在DDR5的接收端容限測試中，也需要通過御用的測試夾具對被測件進行測試以及測試前的校準。展示了一套DDR5的DIMM條的測試夾具，包括了CTC2夾具(ChannelTestCard)和DIMM板(DIMMTestCard)等。CTC2夾具上有微控制器和RCD芯片等，可以通過SMBus/I2C總線配置電路板的RCD輸出CA信號以及讓被測件進入環(huán)回模式。測試夾具還提供了CK/CA/DQS/DQ/LBD/LBS等信號的引出。 眼圖測試DDR一致性測試維修價格