通信MIPI測試測試流程

移動產(chǎn)/處理器接口MIPI(mobileindustryprocessorinter-face)是為移動應(yīng)用處理器制定開放標準，旨在為移動設(shè)備內(nèi)部的攝像頭、顯示屏、射頻，基帶等提供標準化接口。它使這些設(shè)備的接口既能增加帶寬，提高性能，同時又能降低成本、復(fù)雜度、功耗以及電磁干擾。MIPI并不是一個單一的接口或協(xié)議，而是包含了一套協(xié)議和標準，以滿足各種子系統(tǒng)獨特的需求。D-PHY提供了主機和從機之間的同步物理連接。一個典型的DPHY配置包含一個時鐘通道模塊和一至四個數(shù)據(jù)通道模塊。D-PHY采用差分信號與另一端的D-PHY連通以高速傳輸圖像數(shù)據(jù)，低速傳輸控制與狀態(tài)信息則采用單端信號進行。數(shù)據(jù)線的LP信號質(zhì)量測試；通信MIPI測試測試流程

終端電阻的校準，需要通過如圖3所示的RTUN模塊來實現(xiàn)。它的原理是利用片外精細電阻對片內(nèi)電阻進行校準?；鶞孰娐樊a(chǎn)生的基準電壓vba(1.2V)經(jīng)過buffer在片外6.04K電阻上產(chǎn)生電流，用同樣大小的電流ires流經(jīng)片內(nèi)電阻產(chǎn)生電壓與rex-tv(1.2V)進行比較，觀察比較器的輸出。通過setrd來控制W這三個開關(guān)，從000到111掃描，再從111到000掃描，改變片內(nèi)電阻大小，觀察比較器輸出cmpout信號的變化，從而得到使得片內(nèi)電阻接近6.04K的控制字。圖2中的比較器終端電阻采用與該模塊相同類型的電阻，以及成比例的電阻關(guān)系。當RTUN模塊完成校準后，得到的控制字setrd同時控制比較器的終端電阻，從而使得比較器終端電阻接近100歐姆。通信MIPI測試測試流程MIPI-DSI接口電路構(gòu)架;

MIPI物理層一致性測試

MIPI物理層一致性測試是一種用于檢測MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測試方法。MIPI物理層包括電氣規(guī)范和信令協(xié)議，這些規(guī)范確保了MIPI接口在不同設(shè)備之間的互通性和穩(wěn)定性。在MIPI物理層一致性測試中，測試設(shè)備會模擬各種情景和條件下的MIPI信號傳輸，并使用示波器等工具進行測量和分析，以確定MIPI接口是否符合MIPI聯(lián)盟制定的物理層標準和規(guī)范。這些測試通常包括以下方面：1.電氣測試：檢驗MIPI信號的電氣參數(shù)是否符合規(guī)范，包括差分阻抗、峰峰電壓等；2.時序測試：測試MIPI接口的信號時序是否符合規(guī)范，包括時鐘頻率、數(shù)據(jù)延遲、數(shù)據(jù)速率等；3.信號完整性測試：檢查MIPI信號傳輸?shù)目煽啃院头€(wěn)定性，包括檢測信號波形的噪聲、抖動、失真等。通過MIPI物理層一致性測試，可以幫助廠商確保其MIPI產(chǎn)品的物理層性能和穩(wěn)定性符合MIPI聯(lián)盟的標準和規(guī)范，從而提高產(chǎn)品的可靠性和互通性。

MIPI聯(lián)盟，即移動產(chǎn)業(yè)處理器接口(MobileIndustryProcessorInterface,簡稱MIPI)聯(lián)盟，是MIPI聯(lián)盟發(fā)起的為移動應(yīng)用處理器制定的開放標準和一個規(guī)范。

主要是手機內(nèi)部的接口（攝像頭、顯示屏接口、射頻/基帶接口）等標準化，從而減少手機內(nèi)部接口的復(fù)雜程度及增加設(shè)計的靈活性。MIPI聯(lián)盟下面有不同的工作組，分別定義的一系列手機內(nèi)部接口標準，比如攝像頭接口CSI、顯示器接口DSI、射頻接口DigRF、麥克風/喇叭接口SLIMBUS等，優(yōu)點：更低功耗，更高數(shù)據(jù)傳輸數(shù)量和更小的PCB占位空間，并且專為移動設(shè)備進行的優(yōu)化，因而更加適合移動設(shè)備的使用。工作組：MIPI聯(lián)盟下的工作組，負責具體事務(wù)；Camera工作組；DeviceDescriptorBlock工作組；DigRF工作組Display工作組高速同步接口工作組；接口管理框架工作組；低速多點鏈接工作組；NAND軟件工作組；軟件工作組；系統(tǒng)電源管理工作組；檢測與調(diào)試工作組；統(tǒng)一協(xié)議工作組； 什么是MIPI物理層一致性測試；

MIPI是一個比較新的標準，其規(guī)范也在不斷修改和改進，目前比較成熟的接口應(yīng)用有DSI(顯示接口)和CSI（攝像頭接口）。CSI/DSI分別是指其承載的是針對Camera或Display應(yīng)用，都有復(fù)雜的協(xié)議結(jié)構(gòu)。以DSI為例，其協(xié)議層結(jié)構(gòu)如下:

CSI/DSI的物理層（PhyLayer）由專門的WorkGroup負責制定，其目前的標準是D-PHY。D-PHY采用1對源同步的差分時鐘和1～4對差分數(shù)據(jù)線來進行數(shù)據(jù)傳輸。數(shù)據(jù)傳輸采用DDR方式，即在時鐘的上下邊沿都有數(shù)據(jù)傳輸。

D-PHY的物理層支持HS(HighSpeed)和LP(LowPower)兩種工作模式。HS模式下采用低壓差分信號，功耗較大，但是可以傳輸很高的數(shù)據(jù)速率（數(shù)據(jù)速率為80M～1Gbps）；LP模式下采用單端信號，數(shù)據(jù)速率很低（<10Mbps），但是相應(yīng)的功耗也很低。兩種模式的結(jié)合保證了MIPI總線在需要傳輸大量數(shù)據(jù)（如圖像）時可以高速傳輸，而在不需要大數(shù)據(jù)量傳輸時又能夠減少功耗。

CSI接口

CSI-2是一個單或雙向差分串行界面，包含時鐘和數(shù)據(jù)信號。CSI-2的層次結(jié)構(gòu)：CSI-2由應(yīng)用層、協(xié)議層、物理層組成。

協(xié)議層包含三層：

像素/字節(jié)打包/解包層，

LLP(LowLevelProtocol)層， MIPI-DSI接口IP設(shè)計模擬部分采用定制方法;通信MIPI測試測試流程

時序測試：測試MIPI接口的信號時序是否符合規(guī)范，包括時鐘頻率、數(shù)據(jù)延遲、數(shù)據(jù)速率等；通信MIPI測試測試流程

(3)HS信號電平判決和建立/保持時間容限(GROUP3:HS-RXVOLTAGEANDSETUP/HOLDREQUIREMENTS):其中包含了被測件對于HS信號共模電壓、差分電壓、單端電壓、共模噪聲、建立/保持時間的容限測試等。(TestIDs:2.3.1，2.3.2,2.3.3,2.3.4，2.3.5，2.3.6，2.3.7.2.3.8)

(4)HS信號時序容限測試(GROUP4:HS-RXTIMERREQUIREMENTS):其中包含了對于HS和LP間狀態(tài)切換時的一系列時序參數(shù)的容限測試。(TestIDs;2.4.1，2.4.22.4.3，2.4.4，2.4.5，2.4.6,2.4.7,2.4.8,2.4.9,2.4.10,2.4.11)

D-PHY的接收端測試中，需要用到多通道的碼型發(fā)生以產(chǎn)生多通道的D-PHY的信號，碼型發(fā)生器需要在軟件的控制下改變HS/LP信號的電平、偏置、注入噪聲、改變時序關(guān)系等。圖13.13是以Agilent公司的81250并行誤碼儀平臺構(gòu)建的一套D-PHY信號的接收容限測試系統(tǒng)。 通信MIPI測試測試流程