浙江美臺半導體晶圓

來源: 發(fā)布時間:2022-08-09

    圖9a至圖9d揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。圖10a至圖10c揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。圖11a至圖11b揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。圖12a至圖12b揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。圖13a至圖13b揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。圖14a至圖14b揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。圖15a至圖15c揭示了在聲波清洗晶圓過程中穩(wěn)定的氣穴振蕩損傷晶圓的圖案結構。圖15d揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的晶圓清洗的流程圖。圖16a至圖16c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的晶圓清洗工藝。圖17揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的晶圓清洗工藝。圖18a至圖18j揭示了氣泡氣穴振蕩控制增強新鮮清洗液在晶圓上的通孔或槽內的循環(huán)。圖19a至圖19d揭示了對應于聲能的氣泡體積變化。圖20a至圖20d揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的有效清洗具有高深寬比的通孔或槽的特征的聲波晶圓清洗工藝。圖21a至圖21c揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的清洗工藝。圖22a至圖22b揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的使用聲能清洗晶圓的工藝。天津12英寸半導體晶圓代工。浙江美臺半導體晶圓

    為了盡可能地利用晶圓的面積來制作不同芯片,其中該半導體晶圓當中預定切割出一第二芯片區(qū)域,包含如該***芯片區(qū)域相同的該基板結構,該***芯片區(qū)域與該第二芯片區(qū)域的形狀不同。在一實施例中,為了使用晶圓級芯片制造技術來加速具有上述基板結構的芯片制作,其中該半導體晶圓當中預定切割出多個芯片區(qū)域,該多個芯片區(qū)域當中的每一個都包含如該***芯片區(qū)域相同的該基板結構,該多個芯片區(qū)域當中的每一個芯片區(qū)域和該***芯片區(qū)域的形狀都相同。根據(jù)本申請的一實施例,提供一種晶圓制造方法,其特征在于,包含:據(jù)所欲切割的多個芯片區(qū)域的大小與圖樣,在一晶圓層的一第二表面上涂布屏蔽層,在該多個芯片區(qū)域其中的一***芯片區(qū)域,包含該屏蔽層未覆蓋的一中心凹陷區(qū)域與該屏蔽層覆蓋的一邊框結構區(qū)域,該中心凹陷區(qū)域位于該邊框結構區(qū)域當中,該邊框結構區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周圍;蝕刻該中心凹陷區(qū)域的該晶圓層;去除該屏蔽層;以及在該第二表面上制造金屬層。在一實施例中,為了彌補較薄晶圓層的結構強度,其中該***芯片區(qū)域更包含該屏蔽層未覆蓋的一***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該屏蔽層覆蓋的一***內框結構區(qū)域,該***環(huán)狀凹陷區(qū)域包圍該***內框結構區(qū)域。重慶半導體晶圓半導體行業(yè),晶圓制造和晶圓加工。

    之后為f3,**后為f4,且f4小于f3,f3小于f1。仍與圖9c所示的清洗工藝相似,在一個實施例中,在時間段τ1內,電源的頻率先設置為f4,之后為f3,**后為f1,且f4小于f3,f3小于f1。仍與圖9c所示的清洗工藝相似,在一個實施例中,在時間段τ1內,電源的頻率先設置為f1,之后為f4,**后為f3,且f4小于f3,f3小于f1。仍與圖9c所示的清洗工藝相似,在一個實施例中,在時間段τ1內,電源的頻率先設置為f3,之后為f4,**后為f1,且f4小于f3,f3小于f1。仍與圖9c所示的清洗工藝相似,在一個實施例中,在時間段τ1內,電源的頻率先設置為f3,之后為f1,**后為f4,且f4小于f3,f3小于f1。仍與圖9c所示的清洗工藝相似,在一個實施例中,在時間段τ1內,電源的頻率先設置為f4,之后為f1,**后為f3,且f4小于f3,f3小于f1。圖10a至圖10c揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。參考圖10a所示,與圖7a所示的清洗工藝相類似,在時間段τ1內,將具有功率水平p1及頻率f1的電源應用至聲波裝置。然而,在時間段τ2內,電源的功率水平降至p2而不是如圖7a所示降到零。結果,如圖10b所示,氣泡內氣體和/或蒸汽的溫度降至t0+δt2。圖10c揭示了圖10a及圖10b所示的晶圓清洗工藝步驟的流程圖。

    本發(fā)明涉及半導體晶圓清洗領域,更具體地,涉及采用可控聲能的濕法清洗方法和裝置。背景技術:半導體器件是在半導體晶圓上采用一系列的處理步驟來制造晶體管和互連元件。近來,晶體管的建立由兩維到三維,例如鰭型場效應晶體管?;ミB元件包括導電的(例如金屬)槽、通孔等形成在介質材料中。為了形成這些晶體管和互連元件,半導體晶圓經(jīng)過多次掩膜、蝕刻和沉積工藝以形成半導體器件所需的結構。例如,多層掩膜和等離子體刻蝕步驟可以在半導體晶圓上的電介質層中形成作為鰭型場效應晶體管的鰭的凹進區(qū)域和互連元件的槽和通孔。為了去除刻蝕或光刻膠灰化后在鰭結構和/或槽和通孔內的顆粒和污染物,必須進行濕法清洗。然而,濕法過程中使用的化學液可能會導致側壁損失。當器件制造節(jié)點不斷接近或小于14或16nm,鰭和/或槽和通孔的側壁損失是維護臨界尺寸的關鍵。為了減少或消除側壁損失,應當使用溫和的或稀釋的化學液,有時甚至只使用去離子水。然而,溫和的或稀釋的化學液或去離子水通常不能有效去除鰭結構和/或槽和通孔內的微粒,因此,需要使用機械力來有效去除這些微粒,例如超聲波/兆聲波。超聲波/兆聲波會產生氣穴振蕩來為晶圓結構的清洗提供機械力。然而。怎么選擇質量好的半導體晶圓?

    因此晶圓1010須旋轉以在整個晶圓1010上接收均勻的聲波能量。雖然在圖1a及圖1b中*示意了一個聲波裝置1003,但是在其他實施例中,也可以同時或間歇使用兩個或多個聲波裝置。同理,也可以使用兩個或多個噴頭1012以更均勻的輸送清洗液1032。參考圖2a至圖2g所示的不同形狀的超聲波或兆聲波換能器。圖2a示意了三角形或餅形的傳感器;圖2b示意了矩形的傳感器;圖2c示意了八邊形的傳感器;圖2d示意了橢圓形的傳感器;圖2e示意了半圓形的傳感器;圖2f示意了1/4圓形的傳感器;圖2g示意了圓形的傳感器。這些形狀中的每一個聲波換能器可以用于代替圖1所示的聲波裝置1003中的壓電式傳感器1004。參考圖3揭示了在晶圓清洗過程中的氣泡內爆。當聲能作用于氣泡3012上時,氣泡3012的形狀逐漸從球形a壓縮至蘋果形g。**終氣泡3012到達內爆狀態(tài)i并形成微噴射。如圖4a至圖4b所示,微噴射很猛烈(可達到上千個大氣壓和上千攝氏度),會損傷晶圓4010上的精細圖案結構4034,尤其是當特征尺寸t縮小到70nm或更小時。圖4a至圖4b揭示了在晶圓清洗過程中不穩(wěn)定的氣穴振蕩損傷晶圓上的圖案結構。參考圖4a所示,由于聲波空化在半導體晶圓4010的圖案結構4034上方形成氣泡4040,4042,4044。半導體封裝晶圓切割膠帶品牌有哪些?大連半導體晶圓誠信互利

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    在其他區(qū)域利用較厚的樹酯層540替換部分的金屬層510的金屬,以便適應不同的半導體元器件所需要的基板結構電阻值。在制作方面,雖然樹酯層540的深度、形狀與位置有所變化,但由于制作樹酯層540的工序都是一樣,所以成本只和金屬用量的多少有關而已。請參考圖8a所示,其為根據(jù)本申請一實施例的半導體基板的結構800的一剖面示意圖。該結構800依序包含半導體組件層130、晶圓層820與金屬層810。和圖3所示的結構300相比,除了晶圓層820外緣的邊框之外,在晶圓層820的**,也有加強用的內框結構。在圖8a當中,可以看到兩個內框結構821與822。本領域普通技術人員可以理解到,內框結構可以增進晶圓層820的結構強度。但需要注意的是,安排在內框結構上方的半導體元器件,其所適用基板結構的電阻值就會比其他區(qū)域的電阻值來得高。因此,可以盡量不要安排需要較低基板結構電阻值的半導體元器件在這些內框結構的上方。雖然在圖8a所示的實施例當中,只示出兩個內框結構821與822,且該內框結構821與822相對于邊框的距離是相同的。但本申請并不限定內框結構的數(shù)量、位置、形狀等配置的參數(shù)。請參考圖8b所示,其為根據(jù)本申請一實施例的半導體基板的結構800的一剖面示意圖。浙江美臺半導體晶圓

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