圖3為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備的剖視圖。具體實(shí)施方式以下將以附圖公開(kāi)本發(fā)明的多個(gè)實(shí)施方式。為明確說(shuō)明起見(jiàn)，許多實(shí)務(wù)上的細(xì)節(jié)將在以下敘述中一并說(shuō)明。然而，應(yīng)了解到，這些實(shí)務(wù)上的細(xì)節(jié)不應(yīng)用以限制本發(fā)明。也就是說(shuō)，在本發(fā)明的部分實(shí)施方式中，這些實(shí)務(wù)上的細(xì)節(jié)是非必要的。此外，為簡(jiǎn)化附圖起見(jiàn)，一些公知慣用的結(jié)構(gòu)與元件在附圖中將以簡(jiǎn)單示意的方式繪示。附圖與說(shuō)明書(shū)中盡可能使用相同的元件符號(hào)表示相同或相似的部分。除非另外定義，否則本文使用的所有術(shù)語(yǔ)(包含技術(shù)以及科學(xué)術(shù)語(yǔ))對(duì)于所屬領(lǐng)域中的技術(shù)人員通常理解的涵義。還應(yīng)理解到，諸如常用的字典中定義的術(shù)語(yǔ)的解讀，應(yīng)使其在相關(guān)領(lǐng)域與本發(fā)明中具有一致的涵義，且將不以理想化或過(guò)度正式的意義解釋?zhuān)敲鞔_如此定義。請(qǐng)參照?qǐng)D1，其為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備100的剖視圖。半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備100是用以干燥半導(dǎo)體晶圓200，半導(dǎo)體晶圓200為包含半導(dǎo)體材料的圓形薄片，其常用于集成電路的制造。在本實(shí)施方式中，如圖1所示，半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備100包含基座110、殼體120以及微波產(chǎn)生器130。基座110被配置成承載半導(dǎo)體晶圓200。殼體120以金屬制成。半導(dǎo)體晶圓定制價(jià)格。天津建設(shè)項(xiàng)目半導(dǎo)體晶圓
并且不同規(guī)格的花籃無(wú)法同時(shí)進(jìn)行作業(yè)，**降低了生產(chǎn)的效率。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于克服現(xiàn)有技術(shù)不足，提供一種半導(dǎo)體晶圓濕法清洗治具，可適用于不同尺寸不同形狀晶圓，且可實(shí)現(xiàn)多層同時(shí)清洗。本實(shí)用新型具體采用以下技術(shù)方案解決上述技術(shù)問(wèn)題：一種半導(dǎo)體晶圓濕法清洗治具，該治具包括提把和一組平放花籃；所述提把沿豎直方向均勻設(shè)置有一組連接端口；所述平放花籃由圓形底盤(pán)和設(shè)置在圓形底盤(pán)邊緣的一圈鏤空側(cè)壁組成，圓形底盤(pán)上設(shè)置有一組通孔，在所述鏤空側(cè)壁的外緣設(shè)置有至少一個(gè)連接端子，所述連接端子與提把上的任一連接端口相配合可使得平放花籃可拆卸地固定于提把上對(duì)應(yīng)于該連接端口的位置。推薦地，圓形底盤(pán)上的所述通孔均勻分布。推薦地，該治具還包括一組豎直擋板；所述平放花籃的鏤空側(cè)壁內(nèi)緣及相應(yīng)位置的圓形底盤(pán)上設(shè)置有一系列用于固定所述豎直擋板的卡槽，豎直擋板與相應(yīng)的卡槽配合可將平放花籃內(nèi)的空間劃分為不同角度的扇形空間。進(jìn)一步推薦地，所述豎直擋板上設(shè)置有一組通孔。推薦地，所述一組平放花籃中包括多個(gè)具有不同半徑圓形底盤(pán)的平放花籃。推薦地，所述提把的上端帶有掛鉤。相比現(xiàn)有技術(shù)。河北半導(dǎo)體晶圓市價(jià)成都8寸半導(dǎo)體晶圓厚度多少？
則可達(dá)到切割效果，通過(guò)接收腔29內(nèi)的清水，可使切割掉落的產(chǎn)品能夠受到緩沖作用，通過(guò)手動(dòng)向前拉動(dòng)手拉桿67，可使接收箱28向前滑動(dòng)，進(jìn)而可取出產(chǎn)品，通過(guò)第三電機(jī)25的運(yùn)轉(zhuǎn)，可使電機(jī)軸24帶動(dòng)***轉(zhuǎn)盤(pán)23轉(zhuǎn)動(dòng)，進(jìn)而可使第二輪盤(pán)21帶動(dòng)***螺桿17間歇性往返轉(zhuǎn)動(dòng)，則可使升降塊15間歇性升降，繼而可使切割片50能夠連續(xù)切割硅錠48，通過(guò)第三電機(jī)25的運(yùn)轉(zhuǎn)，可使***螺桿17帶動(dòng)豎軸12往返轉(zhuǎn)動(dòng)，進(jìn)而可使皮帶傳動(dòng)裝置59傳動(dòng)來(lái)動(dòng)第二螺桿57往返轉(zhuǎn)動(dòng)，通過(guò)第二螺桿57的間歇性正反轉(zhuǎn)動(dòng)，可使螺套58間歇性升降移動(dòng)，進(jìn)而可使第五連桿56帶動(dòng)第四連桿54間歇性往返左右移動(dòng)，從而可使移動(dòng)塊53帶動(dòng)海綿52間歇性往返左右移動(dòng)，則可使海綿52在切割片50上升時(shí)向切割片50移動(dòng)并抵接，以及在切割片50下降時(shí)向移動(dòng)腔13方向打開(kāi)，通過(guò)冷卻水腔14內(nèi)的冷卻水，可保證海綿52處于吸水狀態(tài)。本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明可有效降低半導(dǎo)體制作原料晶圓在切割時(shí)所產(chǎn)生的發(fā)熱變形問(wèn)題，并且也能降低硅錠在移動(dòng)送料切割過(guò)程中，由于長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作導(dǎo)致主軸位置偏移導(dǎo)致切割不準(zhǔn)的問(wèn)題，其中，步進(jìn)機(jī)構(gòu)能夠通過(guò)旋轉(zhuǎn)聯(lián)動(dòng)水平步進(jìn)移動(dòng)的傳動(dòng)方式，使硅錠在連續(xù)切割時(shí)能夠穩(wěn)定送料。
該金屬層凹陷區(qū)域在該第二表面的投影區(qū)域位于該中心凹陷區(qū)域當(dāng)中。在一實(shí)施例中，為了設(shè)計(jì)與制作的方便，其中該金屬層凹陷區(qū)域與該中心凹陷區(qū)域的形狀相應(yīng)，該金屬層凹陷區(qū)域的面積小于該中心凹陷區(qū)域的面積。總上所述，本申請(qǐng)?zhí)峁┝司哂袕?qiáng)度較大的基板結(jié)構(gòu)的芯片，其具有晶圓層的邊框結(jié)構(gòu)，也可以具有晶圓層的內(nèi)框結(jié)構(gòu)，以便減低芯片在進(jìn)行熱處理、加工與焊貼等工序時(shí)，因?yàn)閼?yīng)力或熱應(yīng)力而導(dǎo)致失效的機(jī)率。在此同時(shí)，還要降低上述基板結(jié)構(gòu)的電阻值，以便減少消耗功率，降低熱耗損，增進(jìn)芯片的使用壽命。以上所述，*是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明,任何熟悉本專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi),當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容作出些許更動(dòng)或修飾為等同變化的等效實(shí)施例,但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。半導(dǎo)體晶圓研磨設(shè)備。
該中心凹陷區(qū)域位于該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域當(dāng)中，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域位于該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域當(dāng)中。進(jìn)一步的，為了更彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該***芯片區(qū)域更包含該屏蔽層未覆蓋的一第二環(huán)狀凹陷區(qū)域與該屏蔽層覆蓋的一第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域完全包圍該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域，該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域包圍該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域包圍該中心凹陷區(qū)域。進(jìn)一步的，為了保護(hù)該金屬層，并且降低物理應(yīng)力與熱應(yīng)力的影響，該晶圓制造方法更包含：在該金屬層上涂布樹(shù)酯層。進(jìn)一步的，為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作，上述的各步驟是針對(duì)該晶圓層的該多個(gè)芯片區(qū)域同時(shí)施作。進(jìn)一步的，為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作，該晶圓制造方法更包含：進(jìn)行該多個(gè)芯片區(qū)域的切割。進(jìn)一步的，為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作，該晶圓制造方法更包含：在該涂布樹(shù)酯層的步驟之后，進(jìn)行該多個(gè)芯片區(qū)域的切割。進(jìn)一步的，為了讓基板結(jié)構(gòu)所承載的半導(dǎo)體組件的設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化，其中該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域依序包含***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域。半導(dǎo)體晶圓定制價(jià)格？棗莊半導(dǎo)體晶圓歡迎選購(gòu)
晶圓的基本工藝有哪些？天津建設(shè)項(xiàng)目半導(dǎo)體晶圓
圖18b是圖18a所示通孔的頂視圖。圖18c揭示了形成在晶圓18010上的多個(gè)槽18036的剖視圖。同樣的，槽18036中由聲波能量產(chǎn)生的氣泡18012增強(qiáng)了對(duì)雜質(zhì)的去除，如殘留物和顆粒。圖18d是圖18c所示槽18036的頂視圖。飽和點(diǎn)rs被定義為通孔18034、槽18036或其他凹進(jìn)區(qū)域內(nèi)可容納的**大氣泡量。當(dāng)氣泡的數(shù)量超過(guò)飽和點(diǎn)rs時(shí)，清洗液將受圖案結(jié)構(gòu)內(nèi)的氣泡阻擋且很難到達(dá)通孔18034或槽18036側(cè)壁的底部，因此，清洗液的清洗效果會(huì)受到影響。當(dāng)氣泡的數(shù)量低于飽和點(diǎn)時(shí)，清洗液在通孔18034或槽18036內(nèi)有足夠的活動(dòng)路徑，從而獲得良好的清洗效果。低于飽和點(diǎn)時(shí)，氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進(jìn)區(qū)域的總體積vvtr的比值r為：r＝vb/vvtr當(dāng)處于飽和點(diǎn)rs時(shí)，比值r為：r＝vb/vvtr＝rs通孔18034，槽18036或其他凹進(jìn)區(qū)域內(nèi)氣泡總體積為：vb＝n*vb其中，n為通孔、槽或凹進(jìn)區(qū)域內(nèi)的氣泡總數(shù)，vb為單個(gè)氣泡的平均體積。如圖18e至圖18h所示，當(dāng)超聲波或兆聲波能量被應(yīng)用于清洗液中時(shí)，氣泡18012的尺寸逐漸膨脹到一定體積，從而導(dǎo)致氣泡總體積vb和通孔、槽或其他凹進(jìn)區(qū)域的體積vvtr的比值r接近或超過(guò)飽和點(diǎn)rs。膨脹的氣泡18012堵塞了清洗液體交換和***通孔或槽中雜質(zhì)的路徑。在這種情況下。天津建設(shè)項(xiàng)目半導(dǎo)體晶圓
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