海南好的測試探針卡哪家好

    IC測試主要分為晶圓探針卡測以及廢品測試，其主要功用為檢測出IC在制造過程中所發(fā)作的瑕疵并找出其中基本緣由，以確保產(chǎn)品良率正常及提供測試材料作為IC設(shè)計(jì)及IC制造剖析之用。晶圓探針卡測是針對整個(gè)芯片上的完好晶粒，以探針的方式扎在每顆晶粒上的焊墊停止檢測，用來挑選芯片上晶粒之良品與不良品，另外在內(nèi)存晶圓測試時(shí)，可針對可修護(hù)之晶粒予以雷射修補(bǔ)，以進(jìn)步芯片的良率；但是，如何減少測試時(shí)間與降低測試時(shí)所發(fā)作的誤宰，則是晶圓針測中的瓶頸。在測試消費(fèi)線上，昂貴的測試機(jī)臺(tái)為主要的消費(fèi)設(shè)備，機(jī)臺(tái)折舊為主要的營運(yùn)本錢，也就是說機(jī)臺(tái)閑置一個(gè)小時(shí)就有一個(gè)小時(shí)的折舊損失，因而，機(jī)臺(tái)的產(chǎn)能應(yīng)用率就關(guān)系到一個(gè)測試廠的營運(yùn)情況。機(jī)臺(tái)若能不時(shí)地正常消費(fèi),這也表率著機(jī)臺(tái)以及產(chǎn)能應(yīng)用率的提升;因而,要是在消費(fèi)過程當(dāng)中有不正常的異常情況發(fā)作時(shí)，如何能有效地剖析問題并即時(shí)找到相對應(yīng)的預(yù)防措施是十分重要的。在晶圓探針測試當(dāng)中，常會(huì)由于測試環(huán)境或是針測機(jī)臺(tái)參數(shù)的改動(dòng)，使得針痕不正常偏移并打出開窗區(qū)，形成測試時(shí)的誤宰,因此形成公司的損失，本文湊合晶圓針測中，由于不正常針痕偏移問題討論停止剖析與研討。 矽利康測試探針卡銷售。海南好的測試探針卡哪家好

    鍵合焊區(qū)的損壞與共面性有關(guān)，共面性差將導(dǎo)致探針卡的過度深入更加嚴(yán)重，會(huì)產(chǎn)生更大的力并在器件鍵合焊區(qū)位置造成更大的劃痕。共面性由兩部分決定：彈簧探針的自然共面性（受與晶圓距離的影響）以及探針卡和客戶系統(tǒng)的相關(guān)性。傾斜造成斜率X、距離Y。當(dāng)測試300mm晶圓時(shí)，傾斜程度不變但距離卻加倍了，就會(huì)產(chǎn)生共面性問題。由于傾斜造成探針卡部分更靠近晶圓，而隨著每個(gè)彈簧向系統(tǒng)中引入了更多的力，造成的過量行程將更大，產(chǎn)生更大的劃痕，與此同時(shí)部分由于傾斜而遠(yuǎn)離的部分還會(huì)有接觸不良的問題，留下的劃痕也幾乎不可見?？紤]到大面積的300mm晶圓，以及需要進(jìn)行可重復(fù)的接觸測試，將探針卡向系統(tǒng)傾斜便相當(dāng)有吸引力。自動(dòng)調(diào)節(jié)的共面系統(tǒng)降低了較大力造成損壞的可能，并允許測試設(shè)備與不同系統(tǒng)之間的兼容。根據(jù)測試探針制作流程不同可分成傳統(tǒng)機(jī)械加工與微機(jī)電制造工藝兩部分，后者具有更大優(yōu)勢，可以改善測試探針微細(xì)化、共面度、精度等問題。目前市售垂直式探針卡，均無法達(dá)到偵測每根測試探針力量的功能，測試探針垂直式排列，無法由上而下觀測測試探針接觸情形，改善的方法可借助探針力量回饋或改良影像辨識(shí)系統(tǒng)，以確保所有探針的接觸狀況都是理想的。

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    晶圓探針卡又稱探針卡，英文名稱“Probecard”。較廣的用于內(nèi)存、邏輯、消費(fèi)、驅(qū)動(dòng)、通訊IC等科技產(chǎn)品的晶圓測試，屬半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中相當(dāng)細(xì)微的一環(huán)。當(dāng)IC設(shè)計(jì)完成后，會(huì)下單給晶圓代工廠制作，晶圓制作完成后而尚未切割封裝之際，為確保晶圓良率及避免封裝的浪費(fèi)，須執(zhí)行晶圓電性測試及分析制成測試回路，于IC封裝前，以探針針測晶粒，篩選出電性功能不良的芯片，避免不良品造成后段制造成本的浪費(fèi)。隨著半導(dǎo)體制成的快速發(fā)展，傳統(tǒng)探針卡已面臨測試極限，為滿足高級密度測試，探針卡類型不斷發(fā)展，本文就介紹探針卡分類記住要設(shè)計(jì)參數(shù)。探針卡發(fā)展概括及種類：隨著晶圓技術(shù)的不斷提升，探針卡的種類不斷地更新。較早的探針卡發(fā)展于1969年。主要分為epoxyring水平式探針卡；垂直式探針卡；橋接支持構(gòu)件；SOI形式探針卡。目前晶圓測試廠較廣的用于晶圓測試的探針卡為懸臂及垂直探針卡2種類型。無錫普羅卡科技是一家專業(yè)從事測試解決方案的公司。公司擁有一批在半導(dǎo)體測試行業(yè)數(shù)十年的員工組成，從事探針卡設(shè)計(jì)，制造，研發(fā)；目前主要生產(chǎn)和銷售的產(chǎn)品有晶圓測試探針卡，IC成品測試爪，以及測試系統(tǒng)解決方案。探針卡是一種測試接口，主要對裸芯進(jìn)行測試，通過連接測試機(jī)和芯片。

    本公司是專業(yè)提供FLASH晶圓（晶粒）測試、分類、各類IC成品測試以及其它與測試相關(guān)的加工服務(wù)型工廠。我們擁有專業(yè)的晶圓測試設(shè)備，及專業(yè)的工程技術(shù)人員,可隨時(shí)為您提供質(zhì)量的產(chǎn)品服務(wù)。在晶圓制造完成之后，是一步非常重要的測試。這步測試是晶圓生產(chǎn)過程的成績單。在測試過程中，每一個(gè)芯片的電性能力和電路機(jī)能都被檢測到。晶圓測試也就是芯片測試（diesort）或晶圓電測（wafersort）。在測試時(shí)，晶圓被固定在真空吸力的卡盤上，并與很薄的探針電測器對準(zhǔn)，同時(shí)探針與芯片的每一個(gè)焊接墊相接觸,電測器在電源的驅(qū)動(dòng)下測試電路并記錄下結(jié)果。測試的數(shù)量、順序和類型由計(jì)算機(jī)程序控制。測試機(jī)是自動(dòng)化的，所以在探針電測器與前面的片晶圓對準(zhǔn)后（人工對準(zhǔn)或使用自動(dòng)視覺系統(tǒng)）的測試工作無須操作員的輔助。測試是為了以下三個(gè)目標(biāo)。前面的，在晶圓送到封裝工廠之前，鑒別出合格的芯片。第二，器件/電路的電性參數(shù)進(jìn)行特性評估。工程師們需要監(jiān)測參數(shù)的分布狀態(tài)來保持工藝的質(zhì)量水平。第三，芯片的合格品與不良品的核算會(huì)給晶圓生產(chǎn)人員提供較全業(yè)績的反饋。合格芯片與不良品在晶圓上的位置在計(jì)算機(jī)上以晶圓圖的形式記錄下來。從前的舊式技術(shù)在不良品芯片上涂下一墨點(diǎn)。 蘇州矽利康測試探針卡公司。

    探針卡保管環(huán)境要求：1.探針卡的保管環(huán)境對針卡的壽命起到很大的作用，可以延長針卡的使用周期；2.在無塵室里面提供專門的針卡保管架；3.潔凈室的溫濕度控制可根據(jù)貴公司的溫濕度標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。探針卡注意事項(xiàng)：1.嚴(yán)禁在濕度較大的地方存放；2.嚴(yán)禁在潔凈房以外的地方存放.3注意輕拿輕放，防止大震動(dòng)改變針卡的平坦度和排列。探針卡使用中出現(xiàn)的問題和處理方法1.在較長時(shí)間不使用后容易出現(xiàn)針前列面氧化，在檢測時(shí)會(huì)出現(xiàn)探針和ITO或PAD接觸不良的現(xiàn)象。處理方法：出現(xiàn)此現(xiàn)象時(shí)請不要連續(xù)加大OD，從探針臺(tái)上取下針卡利用sanding砂紙對針前列進(jìn)行輕微的打磨，避免搭理使針的平坦度和排列變形。2.如果潔凈房的濕度相對較大時(shí)，水份會(huì)侵入EPOXY的內(nèi)部而且不易散發(fā)出去，再生產(chǎn)測試前會(huì)出現(xiàn)空測短路現(xiàn)象。處理方法：出現(xiàn)此現(xiàn)象時(shí)，請吧針卡放入OVEN里面溫度設(shè)為80°時(shí)間設(shè)為15分鐘，結(jié)束后用顯微鏡檢查針尖部分是否有異物或灰塵附著，如沒有異常就可以進(jìn)行作業(yè)了。 專業(yè)提供測試探針卡那些廠家。河北矽利康測試探針卡廠家

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“互聯(lián)網(wǎng)＋”、大數(shù)據(jù)、020、萬物互聯(lián)網(wǎng)、P2P、分享經(jīng)濟(jì)等熱門詞匯的出現(xiàn)，各個(gè)行業(yè)制定相應(yīng)的措施來順應(yīng)時(shí)代的經(jīng)濟(jì)發(fā)展，以爭取更大的發(fā)展市場。而互聯(lián)網(wǎng)的出現(xiàn)也為儀器儀表行業(yè)參與國際競爭提供了機(jī)會(huì)，有利于銷售企業(yè)實(shí)現(xiàn)技術(shù)創(chuàng)新升級。由于在重大工程、工業(yè)裝備和質(zhì)量保證、基礎(chǔ)科研中，儀器儀表都是必不可少的基礎(chǔ)技術(shù)和裝備重點(diǎn)，除傳統(tǒng)領(lǐng)域的需求外，新興的智能制造、離散自動(dòng)化、生命科學(xué)、新能源、海洋工程、軌道交通等領(lǐng)域也會(huì)產(chǎn)生巨大需求。中國的新型工業(yè)化進(jìn)程，信息化和工業(yè)化融合的進(jìn)一步加深，帶動(dòng)各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域?qū)τ谔结樋?，探針，設(shè)備等產(chǎn)品的需求。儀器儀表是用以檢測、測量、觀察、計(jì)算各種物理量、物質(zhì)成分、物性參數(shù)等的器具或設(shè)備。真空檢漏儀、壓力表、測長儀、顯微鏡、乘法器等均屬于儀器儀表。近年來，得益于機(jī)械、冶金、石化行業(yè)等儀器儀表服務(wù)領(lǐng)域經(jīng)營狀況的好轉(zhuǎn)，我國儀器儀表制造業(yè)發(fā)展一路向好。海南好的測試探針卡哪家好

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