EMI分析整改中有效降低電路EMI的技巧：當(dāng)存在一個(gè)磁場(chǎng)時(shí)，一個(gè)由導(dǎo)電材料形成的環(huán)路充當(dāng)了天線，并且把磁場(chǎng)轉(zhuǎn)換為圍繞環(huán)路流動(dòng)的電流。電流的強(qiáng)度與閉合環(huán)路的面積成正比。較小面積環(huán)路中通過(guò)的磁通量也少，感應(yīng)出的電流也較小，因此環(huán)路面積必須小。保持訊號(hào)路徑和它的地返...

EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來(lái)壓制；3、也可改變整流二極管特性來(lái)處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)—TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場(chǎng)景信號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景信號(hào)、復(fù)雜場(chǎng)景信號(hào)覆蓋測(cè)試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測(cè)試，輻射吞吐量測(cè)試，方向性吞吐量測(cè)試，同頻和鄰頻干擾測(cè)試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方式...

EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問(wèn)題：一次性很難通過(guò)昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來(lái)源；截短PCB線路...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6整體介紹：當(dāng)藍(lán)牙、WiFi無(wú)線產(chǎn)品存在設(shè)計(jì)缺陷時(shí)，很容易導(dǎo)致其在使用過(guò)程中受到外部環(huán)境的電磁干擾。電磁干擾會(huì)影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，從而影響用戶的體驗(yàn)感。在電磁干擾環(huán)境現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試受多方條件制約變得非常困難，通過(guò)將現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6整體介紹：空口性能OTA自動(dòng)化系統(tǒng)主要由雙極化喇叭天線和小型偶極子校準(zhǔn)天線以及全覆膜吸波材料的電波暗室組成，主要用于手機(jī)、智能穿戴、無(wú)人機(jī)、路由器、智能機(jī)器人、小型終端等無(wú)線產(chǎn)品在真實(shí)環(huán)境下使用的性能，如發(fā)射性能（TR...

輻射雜散（RSE）快速測(cè)量系統(tǒng)——小型化無(wú)線終端產(chǎn)品（如手機(jī)、平板智能穿戴產(chǎn)品）輻射雜散(RSE)性能快速測(cè)量系統(tǒng)，主要特點(diǎn)如下：【便捷化】相較于其他多天線微波屏蔽箱，體積更小，重量更輕，帶支架和腳輪，方便測(cè)試工位便捷移動(dòng)；【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線，配合自...

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT產(chǎn)品特點(diǎn)■支持標(biāo)準(zhǔn)EFT波形的抗擾度可視化分析；■支持比較低的干擾電壓，可用于芯片等敏感器件的抗擾度分析；■干擾電壓步進(jìn)任意設(shè)置，兼顧測(cè)試效率及測(cè)試精度；■精確定位PCB板上受擾位置，快速找到敏感源；■自動(dòng)化測(cè)試...

輻射雜散（RSE）快速測(cè)量系統(tǒng)——小型化無(wú)線終端產(chǎn)品（如手機(jī)、平板智能穿戴產(chǎn)品）輻射雜散(RSE)性能快速測(cè)量系統(tǒng)，主要特點(diǎn)如下：【便捷化】相較于其他多天線微波屏蔽箱，體積更小，重量更輕，帶支架和腳輪，方便測(cè)試工位便捷移動(dòng)；【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線，配合自...

EMI認(rèn)證機(jī)構(gòu)通常按照EMI標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波進(jìn)行測(cè)試，而EMI診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI診斷是否還有意義？由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源，并不需要一定精確的測(cè)試，而是需要相對(duì)的重復(fù)性好的測(cè)試。準(zhǔn)峰值檢波用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)加權(quán)后的峰值(準(zhǔn)...

可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-ESD產(chǎn)品特點(diǎn)■支持標(biāo)準(zhǔn)ESD波形的抗擾度可視化分析；■支持比較低的干擾電壓，可用于芯片等敏感器件的抗擾度分析；■干擾電壓步進(jìn)任意設(shè)置，兼顧測(cè)試效率及測(cè)試精度；■精確定位PCB板上受擾位置，快速找到敏感源；■自動(dòng)化測(cè)試...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■吞吐量性能測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高，還原問(wèn)題現(xiàn)象能力強(qiáng)，功能擴(kuò)展能力強(qiáng)；■基于iPerf測(cè)試工具，豐富擴(kuò)展集成相關(guān)便捷自動(dòng)測(cè)試功能項(xiàng)；■支持多類型芯片品牌命令靈活集成，讓測(cè)試更便捷；■支持天線發(fā)射功率衰減量靈活可調(diào)，...

輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室，體積小，設(shè)計(jì)有腳輪，易移動(dòng)搬遷；【省成本】無(wú)復(fù)雜工程安裝，經(jīng)濟(jì)性滿足研發(fā)或生產(chǎn)批量性預(yù)測(cè)試需求；【一致性】?jī)?nèi)置3D轉(zhuǎn)臺(tái)，測(cè)試方式更接近于標(biāo)準(zhǔn)暗室測(cè)試方法，測(cè)試一致性好；【兼容性】自動(dòng)化測(cè)試系...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6整體介紹：當(dāng)藍(lán)牙、WiFi無(wú)線產(chǎn)品存在設(shè)計(jì)缺陷時(shí)，很容易導(dǎo)致其在使用過(guò)程中受到外部環(huán)境的電磁干擾。電磁干擾會(huì)影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，從而影響用戶的體驗(yàn)感。在電磁干擾環(huán)境現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試受多方條件制約變得非常困難，通過(guò)將現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境...

從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)...

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32產(chǎn)品特點(diǎn)：【高復(fù)現(xiàn)】模擬實(shí)際失效場(chǎng)景，采用射頻干擾耦合注入方式，極大的提高實(shí)際問(wèn)題的復(fù)現(xiàn)幾率，方便問(wèn)題分析；【高精度】視覺(jué)定位和機(jī)械手臂聯(lián)動(dòng)運(yùn)行，高精度的定位敏感源位置，方便分析問(wèn)題源頭和失效機(jī)理；【可量化】準(zhǔn)確模擬干擾距...

EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦，其實(shí)我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后，也逐漸有了一些體會(huì)。首先，對(duì)于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對(duì)于一般的EMI中的空間輻射來(lái)說(shuō)，是由于信號(hào)的回路到了可以和空間...

EMI分析整改方法：在晶片電源接腳、I/O接口、重要訊號(hào)介面等位置增加旁路電容，有助于濾除積體電路的開(kāi)關(guān)雜訊。晶片電源接腳增加旁路電容(0.1μF)處理，電容要靠近接腳擺放。訊號(hào)線下方的地要完整，要有完整的參考面。訊號(hào)電流經(jīng)過(guò)一個(gè)低阻抗的路徑返還其驅(qū)動(dòng)源，能夠...

可視化近場(chǎng)輻射診斷分析系統(tǒng)—ES67——整體介紹：電子產(chǎn)品在電磁兼容設(shè)計(jì)時(shí)，比較大的難點(diǎn)在于不能提前識(shí)別各芯片、組件、器件、走線等的電磁輻射特性。在整機(jī)的架構(gòu)堆疊和布局 布線設(shè)計(jì)中，輻射干擾較強(qiáng)的器件與輻射抗擾度較差的器件之前沒(méi)有 充足的隔離度，是導(dǎo)致產(chǎn)品內(nèi)部...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場(chǎng)景信號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景信號(hào)、復(fù)雜場(chǎng)景信號(hào)覆蓋測(cè)試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測(cè)試，輻射吞吐量測(cè)試，方向性吞吐量測(cè)試，同頻和鄰頻干擾測(cè)試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方...

近場(chǎng)探頭在受測(cè)設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微鏡的協(xié)助下完成，掃描支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)，在電腦上通過(guò)ChipScan-Scanner軟件可以控制FLS106PCB型掃描儀。這款軟件同時(shí)可以從頻譜分析儀中讀取測(cè)量數(shù)據(jù)（2D或...

EMC、RF診斷分析系統(tǒng)：用較少的資金達(dá)到我們想要的目標(biāo)，研發(fā)實(shí)驗(yàn)室能力整體規(guī)劃步驟如下：1.確定研發(fā)產(chǎn)品類型，了解產(chǎn)品電氣參數(shù)及所需的測(cè)試項(xiàng)目；2.選擇合適的診斷分析方法；3.選擇診斷分析工具的類型、儀器設(shè)備、測(cè)試環(huán)境以及對(duì)策器件4.實(shí)驗(yàn)室日常運(yùn)營(yíng)及資料庫(kù)建...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：■自帶無(wú)線多制式測(cè)量濾波器開(kāi)關(guān)陣列單元，自動(dòng)控制，頻率覆蓋600MHz-13GHz;■覆蓋無(wú)線產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)階段RSE快速預(yù)驗(yàn)證測(cè)試需求；■多測(cè)量天線布局設(shè)計(jì)，一次性高效方方面面的比較大RSE干擾掃描，3分鐘即可完成一...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：■自帶無(wú)線多制式測(cè)量濾波器開(kāi)關(guān)陣列單元，自動(dòng)控制，頻率覆蓋600MHz-13GHz;■覆蓋無(wú)線產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)階段RSE快速預(yù)驗(yàn)證測(cè)試需求；■多測(cè)量天線布局設(shè)計(jì)，一次性高效方方面面的比較大RSE干擾掃描，3分鐘即可完成一...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■OTA測(cè)試軟件參考CITA及ETSITS137544等相關(guān)測(cè)量要求；■測(cè)試軟件同樣適用于基于傳統(tǒng)全電波暗室的OTA測(cè)量需求；■自定義功能定制擴(kuò)展靈活；■自動(dòng)化測(cè)試，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)報(bào)表和方向圖曲線及3D圖。關(guān)鍵...

輻射抗擾度（RS）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，采用近場(chǎng)電磁耦合的方式，將10kHz-6GHz的輻射抗擾度(RS)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，解決輻...

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測(cè)試時(shí)，通過(guò)電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會(huì)引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常，甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問(wèn)題時(shí)，比較大的困難在于注入到產(chǎn)...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■吞吐量性能測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高，還原問(wèn)題現(xiàn)象能力強(qiáng)，功能擴(kuò)展能力強(qiáng)；■基于iPerf測(cè)試工具，豐富擴(kuò)展集成相關(guān)便捷自動(dòng)測(cè)試功能項(xiàng)；■支持多類型芯片品牌命令靈活集成，讓測(cè)試更便捷；■支持天線發(fā)射功率衰減量靈活可調(diào)，...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場(chǎng)景信號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景信號(hào)、復(fù)雜場(chǎng)景信號(hào)覆蓋測(cè)試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測(cè)試，輻射吞吐量測(cè)試，方向性吞吐量測(cè)試，同頻和鄰頻干擾測(cè)試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方...

從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)...