DDR 規(guī)范的 DC 和 AC 特性 對(duì)于任何一種接口規(guī)范的設(shè)計(jì)，首先要搞清楚系統(tǒng)中傳輸?shù)氖鞘裁礃拥男盘?hào)，也就是驅(qū)動(dòng)器能發(fā)出什么樣的信號(hào)，接收器能接受和判別什么樣的信號(hào)，用術(shù)語(yǔ)講，就是信號(hào)的DC和AC特性要求。 在DDR規(guī)范文件JEDEC79R...

此外，新能源領(lǐng)域中也涉及到智能電網(wǎng)技術(shù)，包括電力儲(chǔ)能、微電網(wǎng)、可再生能源預(yù)測(cè)等方面。智能電網(wǎng)利用物聯(lián)網(wǎng)、大數(shù)據(jù)、云計(jì)算等技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)新能源發(fā)電、電力儲(chǔ)存、用電需求等進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和調(diào)節(jié)，從而優(yōu)化電力系統(tǒng)的運(yùn)行效率和能源利用效率。另外，新能源材料檢測(cè)也是新能源...

3. 軟件化測(cè)試的興起：軟件化測(cè)試將成為測(cè)試技術(shù)的另一個(gè)發(fā)展趨勢(shì)。傳統(tǒng)的測(cè)試方法主要依賴于硬件設(shè)備，而軟件化測(cè)試則通過(guò)利用虛擬化技術(shù)和仿真技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試，具有靈活性強(qiáng)、成本低的優(yōu)勢(shì)。 4. 多領(lǐng)域協(xié)同發(fā)展：高速電路測(cè)試技術(shù)將與其他領(lǐng)域的測(cè)試技術(shù)進(jìn)行協(xié)...

需要注意的是，由于DDR的總線上存在內(nèi)存控制器和內(nèi)存顆粒兩種主要芯片，所以 DDR的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試?yán)碚撋弦矐?yīng)該同時(shí)涉及這兩類芯片的測(cè)試。但是由于JEDEC只規(guī)定 了對(duì)于內(nèi)存顆粒這一側(cè)的信號(hào)質(zhì)量的要求，因此DDR的自動(dòng)測(cè)試軟件也只對(duì)這一側(cè)的信 號(hào)質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試。對(duì)于...

信號(hào)失真是指信號(hào)在傳輸過(guò)程中出現(xiàn)的幅度變化、頻率響應(yīng)畸變和時(shí)間偏移等失真現(xiàn)象，主要受信號(hào)頻率、傳輸距離和電路中元器件參數(shù)的影響。針對(duì)信號(hào)失真問(wèn)題，常見(jiàn)的測(cè)試方法包括時(shí)域反射測(cè)試、頻率響應(yīng)測(cè)試和脈沖響應(yīng)測(cè)試等。 串?dāng)_是指信號(hào)之間由于電磁作用而產(chǎn)生的相互...

4.測(cè)試過(guò)程：在測(cè)試時(shí)要嚴(yán)格按照測(cè)試要求進(jìn)行，包括連接測(cè)試儀表、操作測(cè)試儀器、調(diào)整測(cè)試參數(shù)等。在測(cè)試過(guò)程中還需要注意安全，避免誤操作導(dǎo)致事故。 5.測(cè)試分析：測(cè)試完成后，需要對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和評(píng)估，判斷測(cè)試結(jié)果是否符合要求。如果有問(wèn)題需要找出原因，...

電路板測(cè)試的方法和步驟 1.貼片式元器件的測(cè)試 a.外觀檢查：用顯微鏡或目測(cè)查看貼片式元器件表面是否有損傷或不一致現(xiàn)象。 b.電學(xué)測(cè)試：通過(guò)自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試儀器對(duì)每個(gè)貼片式元器件的引腳進(jìn)行電學(xué)測(cè)試，確認(rèn)其是否正常工作。 2.焊接結(jié)構(gòu)的...

2.眼圖測(cè)試 眼圖測(cè)試是一種有效的高速數(shù)字信號(hào)的時(shí)域分析技術(shù)，它通過(guò)記錄信號(hào)的眼圖來(lái)評(píng)估數(shù)字信號(hào)的傳輸性能。測(cè)試時(shí)需要將數(shù)字信號(hào)輸入到系統(tǒng)中，并用示波器記錄輸入和輸出信號(hào)的波形。然后，將波形進(jìn)行疊加，形成一個(gè)開(kāi)口像眼睛的圖案，即眼圖。眼圖可以通過(guò)測(cè)量...

由于讀/寫(xiě)時(shí)序不一樣造成的另一個(gè)問(wèn)題是眼圖的測(cè)量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒(méi) 有要求進(jìn)行眼圖測(cè)試，但是很多時(shí)候眼圖測(cè)試是一種快速、直觀衡量信號(hào)質(zhì)量的方法，所以 許多用戶希望通過(guò)眼圖來(lái)評(píng)估信號(hào)質(zhì)量。而對(duì)于DDR4的信號(hào)來(lái)說(shuō)，由于時(shí)間和幅度的余量更小，必須考慮隨機(jī)...

1.合理的信號(hào)引腳布局:確定信號(hào)引腳的布局方案，使信號(hào)傳輸盡可能短、直、相鄰交互作用少，減少信號(hào)的干擾和串?dāng)_； 2.阻抗匹配:確保輸入輸出端口的阻抗符合標(biāo)準(zhǔn)，減少信號(hào)反射，從而減少信號(hào)與干擾之間的耦合； 3.地面規(guī)劃:確定合適的地面規(guī)劃方案，以...

信號(hào)完整性分析的傳輸線理論 傳輸線的定義 傳輸線可定義為傳輸電流的有信號(hào)回流的信號(hào)線，所以，電路板上的走線、同軸電纜、 雙絞線等有信號(hào)回流的信號(hào)傳輸路徑都可以看作傳輸線。前面我們說(shuō)過(guò)，當(dāng)信號(hào)互連的電路 尺寸接近信號(hào)中設(shè)計(jì)者所關(guān)心的比較高頻率的波...

2. 設(shè)備選型：為了測(cè)試各種組件，我們需要使用一系列專的設(shè)備和工具，例如多用途測(cè)試儀器 (DMM)、可編程電源、信號(hào)發(fā)生器、示波器、測(cè)試架等，因?yàn)槊總€(gè)設(shè)備和工具在測(cè)試各個(gè)階段中都具有不同功能和特定的適用范圍。設(shè)備選型決策應(yīng)該基于在規(guī)格要求的基礎(chǔ)上。 制作測(cè)...

電氣完整性（Electrical Integrity，EI）是指電路的信號(hào)傳輸和電源供應(yīng)在各種工作條件下都能夠正常運(yùn)行。電路的EI與信號(hào)的完整性（Signal Integrity，SI）和電源的完整性（Power Integrity，PI）密切相關(guān). ...

電路板測(cè)試的流程電路板測(cè)試的流程主要包括以下步驟： 1.設(shè)計(jì)測(cè)試計(jì)劃 測(cè)試計(jì)劃應(yīng)根據(jù)電路板的規(guī)格和應(yīng)用程序設(shè)計(jì)。它應(yīng)包括哪些測(cè)試類型、測(cè)試參數(shù)和測(cè)試設(shè)備、特定的測(cè)試步驟等信息。 2.準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備和夾具 為了進(jìn)行電路板測(cè)試，需要準(zhǔn)備相...

3. 時(shí)鐘分配問(wèn)題 時(shí)鐘分配問(wèn)題會(huì)導(dǎo)致時(shí)鐘信號(hào)變形和漂移，從而導(dǎo)致符號(hào)邊界錯(cuò)誤和時(shí)序問(wèn)題。檢測(cè)時(shí)鐘信號(hào)的完整性，以及時(shí)脈信號(hào)的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性，是確保系統(tǒng)正常工作的必要步驟。 4. 電源完整性問(wèn)題 電源完整性與電路中的信號(hào)完整性密切相關(guān)，它...

4.復(fù)雜電路板測(cè)試： 隨著電路板設(shè)計(jì)日益復(fù)雜，包含數(shù)百個(gè)甚至上千個(gè)元器件，如何對(duì)這樣的大規(guī)模電路板進(jìn)行測(cè)試是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。 5.多層電路板測(cè)試： 多層電路板的測(cè)試需要對(duì)每層電路進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試，并保證各層之間的連接正常，這需要復(fù)雜的測(cè)試手段和技術(shù)...

識(shí)別不同類型的抖動(dòng)來(lái)源，可以減少設(shè)計(jì)層次的問(wèn)題，因?yàn)椴煌钠骷圆煌姆绞缴啥秳?dòng)。例如，發(fā)射機(jī)主要生成RJ。外部調(diào)制的激光發(fā)射機(jī)生成的大多數(shù)抖動(dòng)是由激光器和主參考時(shí)鐘的隨機(jī)抖動(dòng)導(dǎo)致的。相反，接收機(jī)生成的絕大部分抖動(dòng)是DJ，這源于導(dǎo)致ISI的前置放大器和后置放...

3.交叉諧波測(cè)試（Xtalk） 交叉諧波測(cè)試是一種檢測(cè)電路板上信號(hào)線是否交叉耦合的方法。在測(cè)試過(guò)程中，會(huì)向一個(gè)信號(hào)線注入一個(gè)測(cè)試信號(hào)，然后測(cè)量它在高頻上的干擾程度，以確定相鄰信號(hào)線之間可能存在的干擾。 4.電源噪聲測(cè)試 電源噪聲測(cè)試是一種...

信號(hào)失真是指信號(hào)在傳輸過(guò)程中出現(xiàn)的幅度變化、頻率響應(yīng)畸變和時(shí)間偏移等失真現(xiàn)象，主要是由于傳輸線、電路中元器件和環(huán)境等因素引起的。失真現(xiàn)象會(huì)嚴(yán)重影響信號(hào)的準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性和傳輸距離，甚至直接影響到高速電路的性能和設(shè)計(jì)。 因此信號(hào)失真的測(cè)試也是高速電路測(cè)試中的重...

2.測(cè)試精度和速度 在選擇測(cè)試設(shè)備時(shí)，需要考慮測(cè)試設(shè)備的精度和速度。測(cè)試精度表示測(cè)試設(shè)備的測(cè)量精度和測(cè)試信噪比，測(cè)試速度表示測(cè)試設(shè)備的測(cè)試速度和抽樣率。在選擇測(cè)試設(shè)備時(shí)，需要根據(jù)測(cè)試需求和測(cè)試對(duì)象的特性來(lái)確定是否需要高精度或高速度的測(cè)試設(shè)備。 ...

2.絕緣測(cè)試:絕緣測(cè)試主要包括直流電阻測(cè)試、介質(zhì)損耗測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試等。這些測(cè)試旨在驗(yàn)證設(shè)備的絕緣性能。 3.頻率測(cè)試:這些測(cè)試包括定頻測(cè)試和變頻測(cè)試，其目的在于驗(yàn)證設(shè)備在不同工作頻率下的電氣性能。 4.功率測(cè)試:這些測(cè)試包括有功功率、無(wú)功功...

3.電路板上出現(xiàn)信號(hào)干擾問(wèn)題信號(hào)干擾通常是由周?chē)姶鸥蓴_、信號(hào)反饋、電壓波動(dòng)引起的。解決方法是對(duì)測(cè)試場(chǎng)所和測(cè)試設(shè)備進(jìn)行屏蔽和隔離，加裝濾波器或調(diào)整電路設(shè)計(jì)。 4.電路板性能測(cè)試結(jié)果不穩(wěn)定這種情況可能是由測(cè)試設(shè)備不穩(wěn)定、零部件老化或溫度波動(dòng)引起的。解決...

8.功率測(cè)量方法 在測(cè)量功率時(shí)，需要使用功率測(cè)量?jī)x器。測(cè)試時(shí)需要注意選用合適的儀器，以及正確設(shè)置儀器的測(cè)量范圍和采樣時(shí)間等參數(shù)。 9.功率因數(shù)測(cè)量方法 在測(cè)量功率因數(shù)時(shí)，可以使用功率因數(shù)計(jì)等儀器。測(cè)試時(shí)需要注意選擇合適的測(cè)量方法和儀器，以...

7.自動(dòng)測(cè)試：自動(dòng)化測(cè)試是比較高效的測(cè)試方法，可以自動(dòng)對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試。這種測(cè)試需要使用自動(dòng)測(cè)試機(jī)等測(cè)試儀器設(shè)備。自動(dòng)測(cè)試可以提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性，降低測(cè)試時(shí)間和成本。 8.測(cè)試報(bào)告：測(cè)試完成后，將測(cè)試結(jié)果整理成測(cè)試報(bào)告，包括測(cè)試過(guò)程、測(cè)試結(jié)果、測(cè)試...

對(duì)于眼圖的概念，有以下幾點(diǎn)比較重要： 眼圖是波形的疊加：眼圖的測(cè)量方法不是對(duì)單一波形或特定比特位置的波形參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，而是把盡可能多的波形或比特疊加在一起，這樣可以看到信號(hào)的統(tǒng)計(jì)分布情況。只有差的信號(hào)都滿足我們對(duì)于信號(hào)的基本要求，才說(shuō)明信號(hào)質(zhì)量是可以...

2.測(cè)試環(huán)境 測(cè)試環(huán)境包括測(cè)試設(shè)備、測(cè)試程序和測(cè)試環(huán)境等因素，如計(jì)算機(jī)、測(cè)試儀器、測(cè)試夾具、故障診斷工具等，以及測(cè)試室的溫濕度、電磁輻射等特殊要求。測(cè)試環(huán)境的保護(hù)和安排有助于提高測(cè)試的可靠性和準(zhǔn)確性，能夠克服測(cè)試過(guò)程中環(huán)境因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，減少測(cè)...

4.測(cè)試方法 測(cè)試方法包括硬件測(cè)試、半自動(dòng)測(cè)試和全自動(dòng)測(cè)試等方法。硬件測(cè)試較為簡(jiǎn)單，通常只需要使用一些測(cè)試儀器和測(cè)試設(shè)備，手動(dòng)進(jìn)行電路板測(cè)試和診斷。半自動(dòng)測(cè)試和全自動(dòng)測(cè)試則需要使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和測(cè)試程序，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制和診斷。 5.測(cè)試數(shù)據(jù)分析 ...

進(jìn)行串?dāng)_分析和調(diào)整的方法，可以根據(jù)具體情況進(jìn)行選擇，一般可以采取以下幾種方法： 1.EMI擾動(dòng)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試：在現(xiàn)場(chǎng)使用專業(yè)的測(cè)試儀器對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)量，記錄串?dāng)_信號(hào)的種類、幅度、波形等參數(shù)，分析出串?dāng)_的來(lái)源和路徑，從而找出合適的解決方法。 2.數(shù)值仿...

電路板測(cè)試技術(shù)及其應(yīng)用隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電路板在電子產(chǎn)品中的作用越來(lái)越大。它是各種電子設(shè)備中的重點(diǎn)部件，支撐著整個(gè)電子設(shè)備的正常運(yùn)行。然而，在制造電路板過(guò)程中，易受環(huán)境影響、操作不當(dāng)以及其他因素的影響，難免會(huì)導(dǎo)致一些質(zhì)量問(wèn)題的出現(xiàn)。因此，在電路板制造...

眼圖的形成 眼圖中包含的信息 對(duì)于一幅真實(shí)的眼圖，首先我們可以看出數(shù)字波形的平均上升時(shí)間(Rise Time)、下降時(shí)間(Fall Time)、上沖(Overshoot)、下沖(Undershoot)、門(mén)限電平(Threshold/Crossi...