DDR3: DDR3釆用SSTL_15接口,I/O 口工作電壓為1.5V;時(shí)鐘信號(hào)頻率為400? 800MHz;數(shù)據(jù)信號(hào)速率為800?1600Mbps,通過差分選通信號(hào)雙沿釆樣;地址/命令/控制信 號(hào)在1T模式下速率為400?800Mbps,在2T模式下速率為...
信號(hào)完整性是對(duì)于電子信號(hào)質(zhì)量的一系列度量標(biāo)準(zhǔn)。在數(shù)字電路中,一串二進(jìn)制的信號(hào)流是通過電壓(或電流)的波形來表示。然而,自然界的信號(hào)實(shí)際上都是模擬的,而非數(shù)字的,所有的信號(hào)都受噪音、扭曲和損失影響。在短距離、低比特率的情況里,一個(gè)簡(jiǎn)單的導(dǎo)體可以忠實(shí)地傳輸信...
DDR規(guī)范沒有定義模板,這給用眼圖方式分析信號(hào)時(shí)判斷信號(hào)是否滿足規(guī)范要求帶來挑戰(zhàn)。有基于JEDEC規(guī)范定義的,ds、,dh、-H(ac)min和rIL(ac)max參數(shù),得出的DDR2533寫眼圖的模板,中間的區(qū)域就是模板,中間的線是DQS的有效邊沿即有效...
1、什么是信號(hào)完整性“0”、“1”碼是通過電壓或電流波形來傳遞的,盡管信息是數(shù)字的,但承載這些信息的電壓或者電流波形確實(shí)模擬的,噪聲、損耗、供電的不穩(wěn)定等多種因素都會(huì)使電壓或者電流發(fā)生畸變,如果畸變嚴(yán)重到一定程度,接收器就可能錯(cuò)誤判斷發(fā)送器輸出的“0”、“...
電氣完整性(EI)是電路設(shè)計(jì)的基本原則之一,確保信號(hào)傳輸和電源供應(yīng)的穩(wěn)定性和可靠性,從而保證電子產(chǎn)品的良好性能和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。以下是電氣完整性的總結(jié)和常見問題: 1. 電氣完整性原則:電路的信號(hào)完整性和電源完整性必須同時(shí)考慮,全局規(guī)劃與細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)相結(jié)合,...
10GSFP+接口簡(jiǎn)介及測(cè)試方法 10G以太網(wǎng)還有很多標(biāo)準(zhǔn),比如通過背板傳輸?shù)?0GBase-KR(BacKplaneRandomSignaling)標(biāo)準(zhǔn),通過光纖傳輸?shù)?0GBase-SR(ShortReach)、10GBase-LR(LongRe...
信號(hào)完整性是指保證信號(hào)在傳輸路徑中受到少的干擾和失真以及在接收端能夠正確解碼。在高速數(shù)字系統(tǒng)中,信號(hào)完整性是保證系統(tǒng)性能和可靠性的關(guān)鍵因素。本文將介紹信號(hào)完整性的基礎(chǔ)知識(shí)。 1. 信號(hào)完整性相關(guān)參數(shù): -上升時(shí)間:信號(hào)從低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r(shí)...
高速電路測(cè)試是一個(gè)非常重要的領(lǐng)域,主要目的是測(cè)試高速電路的電特性、時(shí)序特性、邏輯特性和功耗等多個(gè)方面,以確保高速電路的性能和可靠性。以下是一些與高速電路測(cè)試相關(guān)的問題和信息: 1.什么是高速電路測(cè)試?高速電路測(cè)試是指應(yīng)用多種測(cè)試技術(shù)對(duì)高速電路的性能和...
DDR 規(guī)范的 DC 和 AC 特性 對(duì)于任何一種接口規(guī)范的設(shè)計(jì),首先要搞清楚系統(tǒng)中傳輸?shù)氖鞘裁礃拥男盘?hào),也就是驅(qū)動(dòng)器能發(fā)出什么樣的信號(hào),接收器能接受和判別什么樣的信號(hào),用術(shù)語講,就是信號(hào)的DC和AC特性要求。 在DDR規(guī)范文件JEDEC79R...
USB 3.0測(cè)試解決方案通常包括以下幾個(gè)方面的內(nèi)容: 功能性測(cè)試:USB 3.0設(shè)備的功能性測(cè)試涉及到數(shù)據(jù)傳輸、設(shè)備識(shí)別、兼容性等方面。為了確保設(shè)備在功能上正常運(yùn)作,可以使用測(cè)試軟件或自動(dòng)化測(cè)試工具來進(jìn)行功能測(cè)試,并根據(jù)USB 3.0規(guī)范要求對(duì)設(shè)備...
USB 3.0數(shù)據(jù)生成器/分析器:USB 3.0數(shù)據(jù)生成器/分析器用于生成和捕獲USB 3.0數(shù)據(jù)流,以進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸性能、延遲和穩(wěn)定性測(cè)試。它可以模擬各種數(shù)據(jù)場(chǎng)景和條件,以驗(yàn)證設(shè)備的數(shù)據(jù)處理和傳輸能力。常見的USB 3.0數(shù)據(jù)生成器/分析器有Teledyn...
功耗:USB 3.0設(shè)備在運(yùn)行時(shí)的功耗也是需要測(cè)試和驗(yàn)證的。使用功耗測(cè)試儀表或?qū)I(yè)的USB功耗測(cè)試軟件,可以測(cè)量設(shè)備在不同操作模式下的功耗消耗情況,以確保設(shè)備的功耗符合預(yù)期并在合理范圍內(nèi)。兼容性:USB 3.0設(shè)備應(yīng)能夠與不同的USB 3.0接口和操作系統(tǒng)進(jìn)行...
USB 3.0傳輸器測(cè)試(USB 3.0 transmitter testing)是對(duì)USB 3.0設(shè)備發(fā)送端的性能和合規(guī)性進(jìn)行評(píng)估的過程。以下是USB 3.0傳輸器測(cè)試中常見的一些方面和方法: 波形質(zhì)量測(cè)試(Waveform Quality Tes...
眼圖測(cè)試(Eye Diagram Testing):眼圖測(cè)試用于評(píng)估接收端對(duì)USB 3.0傳輸信號(hào)的衰減和畸變的抵抗能力。該測(cè)試分析接收到的信號(hào)的眼圖形狀,并檢查信號(hào)質(zhì)量、抖動(dòng)和時(shí)鐘恢復(fù)等參數(shù)。通常需要使用眼圖儀或相應(yīng)的測(cè)試設(shè)備來執(zhí)行。 均衡性能測(cè)試...
4.執(zhí)行測(cè)試:運(yùn)行所選擇的性能測(cè)試工具,并選擇進(jìn)行傳輸速率測(cè)試的功能。在性能測(cè)試工具中,選擇相應(yīng)的設(shè)備和測(cè)試文件,并啟動(dòng)測(cè)試過程。 5.記錄測(cè)試結(jié)果:測(cè)試工具會(huì)顯示USB3.0設(shè)備的傳輸速率。記錄測(cè)得的讀取和寫入速度,并與USB3.0規(guī)范中所定義的比...
向后兼容性:USB 3.0接口與舊版USB接口是向后兼容的,這意味著可以使用USB 3.0設(shè)備與USB 2.0或USB 1.1接口實(shí)現(xiàn)連接。這種兼容性確保了用戶可以繼續(xù)使用舊設(shè)備,并逐漸過渡到新的USB 3.0設(shè)備。 通常的應(yīng)用領(lǐng)域:由于其高速傳輸和...
信號(hào)完整性測(cè)試: 發(fā)射信號(hào)質(zhì)量測(cè)試(Transmitter Signal Quality Test):測(cè)試USB 3.0發(fā)送端的波形質(zhì)量和幅度是否符合規(guī)范要求。接收器靈敏度測(cè)試(Receiver Sensitivity Test):驗(yàn)證USB 3.0...
傳輸速率測(cè)試在USB 3.0測(cè)試中具有重要的必要性,它用于驗(yàn)證USB 3.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸方面的性能是否符合規(guī)范要求。以下是傳輸速率測(cè)試的必要性和步驟的解釋: 必要性: 確保設(shè)備性能達(dá)標(biāo):傳輸速率是衡量USB 3.0設(shè)備性能的重要指標(biāo)之一。通過...
USB 3.0測(cè)試的基礎(chǔ)知識(shí)包括以下內(nèi)容: USB 3.0規(guī)范:USB 3.0是由USB Implementers Forum(USB-IF)制定的通信協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)。了解USB 3.0規(guī)范對(duì)于理解其功能和性能特點(diǎn)非常重要。 傳輸速度:USB 3.0...
功耗測(cè)試:使用功耗測(cè)試儀表或?qū)I(yè)軟件,測(cè)量USB 3.0設(shè)備在不同操作模式下的功耗消耗情況。這有助于確定設(shè)備的能源效率,并確保功耗在合理范圍內(nèi)。 兼容性測(cè)試:連接USB 3.0設(shè)備到不同的USB 3.0接口和不同的操作系統(tǒng)上,測(cè)試設(shè)備在不同環(huán)境下的兼...
準(zhǔn)備符合USB 3.0規(guī)范的數(shù)據(jù)線和連接器:使用符合USB 3.0規(guī)范要求的高質(zhì)量USB 3.0數(shù)據(jù)線和連接器。這樣可以確保在測(cè)試過程中小化電氣干擾、傳輸錯(cuò)誤等問題。 進(jìn)行初步的功能測(cè)試:首先,對(duì)USB 3.0設(shè)備進(jìn)行初步的功能測(cè)試,包括數(shù)據(jù)傳輸、設(shè)...
USB 3.0測(cè)試解決方案通常包括以下幾個(gè)方面的內(nèi)容: 功能性測(cè)試:USB 3.0設(shè)備的功能性測(cè)試涉及到數(shù)據(jù)傳輸、設(shè)備識(shí)別、兼容性等方面。為了確保設(shè)備在功能上正常運(yùn)作,可以使用測(cè)試軟件或自動(dòng)化測(cè)試工具來進(jìn)行功能測(cè)試,并根據(jù)USB 3.0規(guī)范要求對(duì)設(shè)備...
USB 3.0設(shè)備: USB 3.0存儲(chǔ)設(shè)備:如USB 3.0閃存盤、移動(dòng)硬盤和固態(tài)硬盤(SSD)。這些設(shè)備具有較高的傳輸速率和存儲(chǔ)容量,適合進(jìn)行USB 3.0傳輸速率測(cè)試。USB 3.0讀卡器:如果需要測(cè)試SD卡或TF卡等存儲(chǔ)設(shè)備的USB 3.0傳...
確保USB 3.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸和供電方面的關(guān)鍵性能和功能正常運(yùn)行,可以通過以下測(cè)試來進(jìn)行驗(yàn)證: 數(shù)據(jù)傳輸速度測(cè)試:使用專業(yè)的USB性能測(cè)試工具,如ATTO Disk Benchmark、CrystalDiskMark等,測(cè)試USB 3.0設(shè)備的讀寫...
USB 3.0傳輸鏈路測(cè)試涉及到發(fā)送端(TX)和接收端(RX)的測(cè)試,以評(píng)估USB 3.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸中的性能和符合USB 3.0規(guī)范的要求。以下是USB 3.0 TX和RX測(cè)試的一般步驟和主要規(guī)范要求: USB 3.0 TX測(cè)試: 發(fā)送端波...
確保USB 3.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸和供電方面的關(guān)鍵性能和功能正常運(yùn)行,可以通過以下測(cè)試來進(jìn)行驗(yàn)證: 數(shù)據(jù)傳輸速度測(cè)試:使用專業(yè)的USB性能測(cè)試工具,如ATTO Disk Benchmark、CrystalDiskMark等,測(cè)試USB 3.0設(shè)備的讀寫...
除了測(cè)試技術(shù)之外,高速電路測(cè)試還需要遵守相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。這些標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范包括國(guó)際、國(guó)家和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),例如IEC、IEEE、中國(guó)電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)協(xié)會(huì)發(fā)布的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。此外,未來高速電路測(cè)試的發(fā)展趨勢(shì)將更加精細(xì)和復(fù)雜,人工智能和自動(dòng)化技術(shù)將得到廣泛應(yīng)用,數(shù)據(jù)分析...
當(dāng)主機(jī)向從機(jī)發(fā)送TA(turnaround)請(qǐng)求序列LP-II->LP-IO>LPOO>LP-IO>LPOO時(shí),從機(jī)檢測(cè)到正確的序列后即將低功耗發(fā)送使能端和線路檢測(cè)使能端置1。在序列檢測(cè)過程中,當(dāng)接收到LP-II狀態(tài)時(shí)則從機(jī)立即終止該模式的進(jìn)入,使通道處于LP...
2、串?dāng)_在PCB中,串?dāng)_是指當(dāng)信號(hào)在傳輸線上傳播時(shí),因電磁能量通過互容和互感耦合對(duì)相鄰的傳輸線產(chǎn)生的不期望的噪聲干擾,它是由不同結(jié)構(gòu)引起的電磁場(chǎng)在同一區(qū)域里的相互作用而產(chǎn)生的?;ト菀l(fā)耦合電流,稱為容性串?dāng)_;而互感引發(fā)耦合電壓,稱為感性串?dāng)_。在PCB上,串...
定義工業(yè)物聯(lián)網(wǎng) IIoT設(shè)想了高度數(shù)字化的工業(yè)流程,這些流程將通過使用相連的機(jī)器和其他設(shè)備來收集和共享數(shù)據(jù)。使用實(shí)時(shí)分析,數(shù)據(jù)可用于更的工業(yè)流程中,以主動(dòng)解決生產(chǎn)和供應(yīng)問題,提高效率,增強(qiáng)物流并響應(yīng)新需求。 5G,人工智能(AI),大數(shù)據(jù)分析,...