松江區(qū)什么是HTOL測試機(jī)

來源: 發(fā)布時間:2022-08-31

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    那么IC在使用期的壽命測試中的HTOL是什么呢?使用期的壽命測試又包含高溫工作壽命(HTOL)和低溫工作壽命(LTOL),對于亞微米級尺寸的器件,熱載流子效應(yīng)對于器件壽命有著***的影響,低溫工作時相對比較苛刻,所以像存儲器、處理器等納米級別工藝的產(chǎn)品通常需要進(jìn)行低溫工作壽命測試。而對于。進(jìn)行HTOL(HighTemperatureOperationLife)測試的目的就是為了確定長時間的電氣偏差和溫度對器件的影響,評估器件在超熱和超電壓情況下一段時間的耐久力,也就是在正常工作的壽命期間潛在的固有故障被加速,這樣就可以在相對比較短的時間內(nèi)模擬出產(chǎn)品的正常使用壽命。HTOL是在產(chǎn)品放行和批量生產(chǎn)前進(jìn)行評估,對應(yīng)浴缸曲線曲線的UsefulLife期,通常是抽樣進(jìn)行的。此外,HTOL還可以用于可靠性監(jiān)控以及對存在潛在缺陷的產(chǎn)品進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評估。 HTOL測試機(jī)哪家好TH801智能老化系統(tǒng),方便靈活配置芯片狀態(tài)、施加信號,提高HTOLdebug及Setup效率。

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導(dǎo)致偏移量發(fā)生的原因是在htol可靠性驗(yàn)證過程中閃存參考單元會有空穴丟失,而丟失的空穴是在制作閃存的生產(chǎn)工藝過程中捕獲(引入)的,短期內(nèi)無法消除。而閃存產(chǎn)品從工程樣品(es,engineeringsample)到客戶樣品(cs,customersample)的時間不容延期。從測試端找出解決方案非常迫在眉睫。本發(fā)明實(shí)施例的閃存htol測試方法對所述閃存參考單元循環(huán)進(jìn)行編譯和擦除,以在所述閃存參考單元中引入電子;對所述閃存進(jìn)行htol測試,所述引入電子在所述htol測試過程中存在丟失,以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補(bǔ)償。TH801智能老化系統(tǒng),實(shí)時監(jiān)測并記錄每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)。

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