有哪些HTOL測試機推薦

來源: 發(fā)布時間:2022-09-25

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    htonl()簡述:將主機的無符號長整形數(shù)轉(zhuǎn)換成網(wǎng)絡字節(jié)順序。#include<arpa/(uint32_thostlong);hostlong:主機字節(jié)順序表達的32位數(shù)。注釋:本函數(shù)將一個32位數(shù)從主機字節(jié)順序轉(zhuǎn)換成網(wǎng)絡字節(jié)順序。返回值:htonl()返回一個網(wǎng)絡字節(jié)順序的值。參見:htons(),ntohl(),ntohs().在Linux系統(tǒng)下:#include<arpa/(uint32_thostlong);相關函數(shù):uint16_thtons(uint16_thostshort);uint32_tntohl(uint32_tnetlong);uint16_tntohs(uint16_tnetshort);網(wǎng)際協(xié)議在處理這些多字節(jié)整數(shù)時,使用大端字節(jié)序。在主機本身就使用大端字節(jié)序時,這些函數(shù)通常被定義為空宏?!鏅嗦暶鳎罕疚臑镃SDN博主「gocpplua」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請附上原文出處鏈接及本聲明。 有哪些HTOL測試機推薦上海頂策科技有限公司自主研發(fā)智能HTOL測試機TH801實時監(jiān)測確保芯片處于正常狀態(tài),保證HTOL測試質(zhì)量。

本發(fā)明實施例的閃存參考單元未經(jīng)過編譯和擦除的電荷分布示意圖;發(fā)明實施例的閃存參考單元經(jīng)過編譯和擦除后的電荷分布示意圖。圖8為本發(fā)明實施例的閃存參考單元經(jīng)過編譯和擦除循環(huán)后再進行htol測試的輸出電流iref分布圖。其中,具體標號如下:100-襯底;101-源極;102-漏極;103-隧穿氧化層;104-浮柵;105-柵間介質(zhì)層;106-控制柵;107-側墻;具體實施方式本發(fā)明提供一種閃存htol測試方法,以下結合附圖和具體實施例作進一步詳細說明。根據(jù)下面說明,本發(fā)明的優(yōu)點和特征將更清楚。需說明的是,附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精細的比例,*用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實施例的目的。圖1為本發(fā)明實施例的閃存htol測試方法流程圖,

發(fā)明人檢查失效的原因,發(fā)現(xiàn)讀點失效為讀“0”失效,并且進一步研究發(fā)現(xiàn)閃存參考單元的輸出電流iref在48小時的測試值iref1與在初始的測試值iref0之間有偏移,具體偏移量經(jīng)測試統(tǒng)計在4μa以內(nèi),而且iref1<iref0,即48小時后iref往電流變小的方向偏移。閃存測試中,若iref>i,則讀出“0”(即閃存讀“0”操作時,iref>i)。閃存判斷讀“0”的具體操作過程為:將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進行比對判斷。當差值變?nèi)醯接勺x出放大器無法進行識別時,讀“0”失效。當htol可靠性驗證經(jīng)過***時間點例如48小時后,由于閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移即iref變小,如此一來,閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值變小,超出讀出放大器識別范圍,于是讀“0”失效。測試發(fā)現(xiàn)經(jīng)48小時閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移后,進一步做htol測試,閃存參考單元的輸出電流iref在第三時間點例如168小時,第四時間點例如500小時,第五時間點例如1000小時測試均不會進一步偏移。上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng),芯片狀態(tài)實時參數(shù)正態(tài)分布圖,散點圖等顯示,多維度分析芯片狀態(tài)。

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