國(guó)內(nèi)HTOL測(cè)試機(jī)市面價(jià)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-10-31

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可靠性測(cè)試事業(yè)部提供可靠性測(cè)試整體解決方案,包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備,以及測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),滿足各類(lèi)芯片可靠性測(cè)試需求。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù);可靈活配置芯片工作狀態(tài),并施加信號(hào),非常方便HTOL和Setup;實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度,以及每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù),確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL測(cè)試質(zhì)量;通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本;全程數(shù)據(jù)記錄,讓HTOL問(wèn)題更容易分析,更有追溯性;有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄,讓報(bào)告更有說(shuō)服力,下游客戶更放心;虹口區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)參數(shù)上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng),數(shù)據(jù)異常自動(dòng)報(bào)警,大幅度降低HTOL問(wèn)題分析難度。

自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù),通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本,讓HTOL問(wèn)題更容易分析,更有追溯性,讓報(bào)告更有說(shuō)服力,下游客戶更放心。涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號(hào),SOC,RF等各類(lèi)芯片的可靠性方案設(shè)計(jì),原理圖設(shè)計(jì),PCBlayout加工制作,老化程序開(kāi)發(fā)調(diào)試,可靠性測(cè)試試驗(yàn),出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)??煽啃詼y(cè)試事業(yè)部提供可靠性測(cè)試整體解決方案,包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備,以及測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),滿足各類(lèi)芯片可靠性測(cè)試需求。

    技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:本發(fā)明提供了一種閃存htol測(cè)試方法,以解決閃存htol測(cè)試中讀點(diǎn)失效的問(wèn)題。本發(fā)明提供的閃存htol測(cè)試方法,包括:提供待測(cè)閃存,所述閃存包括閃存參考單元和閃存陣列單元;所述閃存參考單元中捕獲有空穴;對(duì)所述閃存參考單元循環(huán)進(jìn)行編譯和擦除,以在所述閃存參考單元中引入電子;對(duì)所述閃存進(jìn)行htol測(cè)試,所述引入電子在所述htol測(cè)試過(guò)程中部分丟失,以對(duì)htol測(cè)試過(guò)程中所述空穴的丟失形成補(bǔ)償。進(jìn)一步的,所述閃存參考單元包括襯底、位于所述襯底中的導(dǎo)電溝道、位于所述導(dǎo)電溝道兩側(cè)的源極和漏極,位于所述導(dǎo)電溝道上方的柵極單元,所述柵極單元從下到上依次包括隧穿氧化層、浮柵、柵間介質(zhì)層以及控制柵,所述柵極單元的兩側(cè)分布有側(cè)墻。 上海頂策科技自主研發(fā)實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù),可靈活配置芯片工作狀態(tài),并施加信號(hào),非常方便HTOL Setup。

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上海頂策科技智能HTOL系統(tǒng),全程數(shù)據(jù)記錄,讓HTOL問(wèn)題更容易分析,更有追溯性。國(guó)內(nèi)HTOL測(cè)試機(jī)市面價(jià)

TH801智能一體化HTOL測(cè)試機(jī),擁有多項(xiàng)發(fā)明專(zhuān)利及軟件著作權(quán),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析,大幅提高HTOL效率。上海頂策科技有限公司,提供可靠性測(cè)試整體解決方案:可靠性設(shè)備,HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),滿足各類(lèi)芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號(hào),SOC,RF等各類(lèi)芯片的可靠性方案設(shè)計(jì),原理圖設(shè)計(jì),PCBlayout加工制作,老化程序開(kāi)發(fā)調(diào)試,可靠性測(cè)試試驗(yàn),出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)。國(guó)內(nèi)HTOL測(cè)試機(jī)市面價(jià)

上海頂策科技有限公司是我國(guó)芯片測(cè)試服務(wù),芯片測(cè)試設(shè)備,HTOL老化爐專(zhuān)業(yè)化較早的有限責(zé)任公司(自然)之一,公司成立于2014-11-24,旗下上海頂策科技,TOP ICTEST,已經(jīng)具有一定的業(yè)內(nèi)水平。頂策科技致力于構(gòu)建儀器儀表自主創(chuàng)新的競(jìng)爭(zhēng)力,頂策科技將以精良的技術(shù)、優(yōu)異的產(chǎn)品性能和完善的售后服務(wù),滿足國(guó)內(nèi)外廣大客戶的需求。