輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】系統(tǒng)相較于標(biāo)準(zhǔn)輻射雜散測(cè)試實(shí)驗(yàn)室及預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，體積更小，搬運(yùn)更方便;【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線，省去轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)間，600MHz-13GHz測(cè)試時(shí)間只需幾秒鐘，更適用于產(chǎn)線快速抽檢及研發(fā)階段的摸底測(cè)試；【系統(tǒng)搭建簡(jiǎn)單】配套的濾波器組，內(nèi)置放大器及切換控制單元小型化封裝于一體，測(cè)試系統(tǒng)搭建容易；【多方位天線布置】可準(zhǔn)確識(shí)別雜散輻射源的方向和位置，并且實(shí)時(shí)呈現(xiàn)結(jié)果，方便進(jìn)行樣品的“敲擊”測(cè)試，電連接性能測(cè)試及問(wèn)題分析定位。只要是本身溫度大于一定零度的物體，都可以發(fā)射電磁輻射，而世界上并不存在溫度等于或低于一定零度的物體。廣東GSM輻射雜散解決方案
輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類問(wèn)題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。近場(chǎng)測(cè)量對(duì)天線口徑場(chǎng)診斷的精度和速度：近場(chǎng)測(cè)量對(duì)常規(guī)陣列天線口徑場(chǎng)的診斷有較好的診斷精度，但對(duì)于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。安徽GSM無(wú)線性能實(shí)驗(yàn)室PCB近場(chǎng)掃描儀FLS106PCBset的目的是，方便近場(chǎng)探頭檢測(cè)電子元件組的磁場(chǎng)或電場(chǎng)。
EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問(wèn)題：一次性很難通過(guò)昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來(lái)源；截短PCB線路，然后重連，才有可能找到噪聲來(lái)源；很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號(hào)和/或數(shù)字信號(hào)。遇到傳導(dǎo)測(cè)試超標(biāo)問(wèn)題，第一步要做的，通常是定位噪聲分量主要是差模還是共模，通常的測(cè)試設(shè)備可以用來(lái)區(qū)分差共模分量，但個(gè)人覺(jué)得太麻煩，并且測(cè)試出來(lái)的是相對(duì)值，并不一定可以具備指導(dǎo)意義。簡(jiǎn)單的辦法是，在輸入端口并聯(lián)一個(gè)X電容，幾十nF到幾百nF，如果所關(guān)心的頻段測(cè)試通過(guò)了，就說(shuō)明噪聲的干擾主要是差模干擾，或者更準(zhǔn)確地說(shuō)，通過(guò)壓低差模分量，就一定能夠搞定問(wèn)題。在EMI測(cè)試中，信號(hào)線對(duì)于電磁噪聲來(lái)說(shuō)是一個(gè)很好的耦合傳播途徑。
EMI輻射近場(chǎng)探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。產(chǎn)品性能：EMI輻射近場(chǎng)探頭（DC-9G）適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測(cè)試接收機(jī)，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來(lái)的測(cè)量需求。（DC-9G）包括4個(gè)磁場(chǎng)探頭和1個(gè)電場(chǎng)探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動(dòng)帶來(lái)的影響。產(chǎn)品特點(diǎn)：覆蓋有絕緣層的安全措施；非常方便的設(shè)計(jì)包括涂橡膠握把；非常小的尺寸，完善精確的干擾源定位；可以由一個(gè)信號(hào)源驅(qū)動(dòng)產(chǎn)生的電磁敏感性測(cè)試領(lǐng)域。輻射近場(chǎng)區(qū)介乎于感應(yīng)近場(chǎng)區(qū)與輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)之間，在此區(qū)域內(nèi)，與距離的一次方、平方、立方成反比的場(chǎng)分量都占據(jù)一定的比例，場(chǎng)的角分布(即天線方向圖)與離開(kāi)天線的距離有關(guān)，也就是說(shuō)，在不同的距離上計(jì)算出的天線方向圖是有差別的。EMI輻射近場(chǎng)探頭適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測(cè)試接收機(jī)，頻率范圍超寬，滿足您測(cè)量需求。
輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18整體介紹：具有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品在工作時(shí)，除了主載波頻率及正常調(diào)制相關(guān)的邊帶信號(hào)外，往往會(huì)產(chǎn)生其他的離散頻率信號(hào)，造成對(duì)外邊設(shè)備和電磁環(huán)境的干擾。按照標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)要求，雜散信號(hào)的強(qiáng)度不能超過(guò)相應(yīng)的限值，否則產(chǎn)品就不能對(duì)外銷售。雜散信號(hào)產(chǎn)生的主要原因有：諧波發(fā)射、寄生的發(fā)射、互調(diào)產(chǎn)物、變頻產(chǎn)物等，而每種原因?qū)е碌碾s散問(wèn)題在解決方法和措施上也不盡相同，由此給設(shè)計(jì)者帶來(lái)極大的困擾。如何在產(chǎn)品設(shè)計(jì)初期和方案驗(yàn)證階段就能對(duì)產(chǎn)品的輻射雜散特性做評(píng)估測(cè)試和問(wèn)題分析，輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試方法與標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室相同，測(cè)試結(jié)果一致性高，對(duì)應(yīng)性好，便捷省成本，應(yīng)用場(chǎng)景靈活，既可以進(jìn)行預(yù)測(cè)試，也可用于雜散問(wèn)題的診斷分析，是產(chǎn)品研發(fā)階段解決輻射雜散問(wèn)題的有效工具。只有處于可見(jiàn)光頻域以內(nèi)的電磁波，才是可以被人們看到的。安徽SISO無(wú)線性能廠家
掃描儀和近場(chǎng)探頭系列（從SX到LF）的組合可以測(cè)量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場(chǎng)或磁場(chǎng)。廣東GSM輻射雜散解決方案
EMI認(rèn)證機(jī)構(gòu)通常按照EMI標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波進(jìn)行測(cè)試，而EMI診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI診斷是否還有意義？由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源，并不需要一定精確的測(cè)試，而是需要相對(duì)的重復(fù)性好的測(cè)試。準(zhǔn)峰值檢波用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)加權(quán)后的峰值(準(zhǔn)峰值)，它根據(jù)時(shí)長(zhǎng)和重復(fù)率對(duì)信號(hào)加權(quán)。準(zhǔn)峰值檢波的平均過(guò)程需耗費(fèi)時(shí)間，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不利于日常診斷。由于準(zhǔn)峰值檢波測(cè)試幅度結(jié)果永遠(yuǎn)小于或等于峰值檢波的測(cè)試結(jié)果，因此在進(jìn)行EMI診斷時(shí)，用峰值檢波可以快速發(fā)現(xiàn)EMI問(wèn)題。電源是EMI干擾噪聲的主要來(lái)源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。廣東GSM輻射雜散解決方案
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