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X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction，XRD)。通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。因此，X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普遍應(yīng)用。那大家對(duì)于X射線衍射(XRD)相關(guān)術(shù)語(yǔ)又了解多少呢？粉末衍射儀是目前研究粉末的X射線衍射常用而又方便的設(shè)備。它的光路系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用聚焦光束型的衍射幾何，一般使用普通的閃爍檢測(cè)器或正比計(jì)數(shù)管檢測(cè)器以電子學(xué)方法進(jìn)行衍射強(qiáng)度的測(cè)量；衍射角的測(cè)量則通過(guò)一臺(tái)精密的機(jī)械測(cè)角儀來(lái)實(shí)現(xiàn)。衍射儀的定制尺寸。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！銅陵衍射儀代理收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)

X-射線衍射儀（X-RayDiffractomer）是采用輻射探測(cè)器和測(cè)角儀來(lái)記錄衍射峰位置及強(qiáng)度的分析儀器。我們常用的衍射儀X射線衍射儀主要由X射線發(fā)生器、衍射測(cè)角儀、輻射探測(cè)器、測(cè)量電路、控制操作和運(yùn)行軟件的電子計(jì)算機(jī)系統(tǒng)組成，中心部件是測(cè)角儀。XRD的樣品一般都是粉末樣，要求樣品顆粒度小于300目，壓成十分平整的平面。XRD是研究材料的晶體結(jié)構(gòu)及物相分析不可或缺的有力工具，有助于我們探究同成份不同相的材料性能差異，找到獲得預(yù)想性能的物質(zhì)。由于XRD具有所需樣品數(shù)量少、對(duì)樣品的破壞性微小、對(duì)結(jié)構(gòu)和缺陷靈敏，能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等特點(diǎn)，在冶金、機(jī)械、地質(zhì)、化工、礦物、陶瓷、建材、耐火材料、天航空、能源、生物工程等諸多領(lǐng)域都得到了廣泛應(yīng)用。奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀工藝流程尋找衍射儀的專業(yè)生產(chǎn)廠家。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！

衍射儀： x射線發(fā)生器 探測(cè)器 1衍射儀進(jìn)展 衍射儀的進(jìn)展主要在三個(gè)方面： 1、X 射線發(fā)生器，2、探測(cè)器，3、衍射幾何與光路。 x射線發(fā)生器 X射線發(fā)生器是進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)所不可缺少的、重要的設(shè)備之一，其優(yōu)劣會(huì)嚴(yán)重影響X射線衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。 探測(cè)器 探測(cè)器是用來(lái)記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設(shè)備中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射線會(huì)透過(guò)而不被吸收；它的計(jì)數(shù)線性范圍不大，強(qiáng)衍射不易測(cè)準(zhǔn)；而且，還會(huì)起“霧”；又由于要有暗室用化學(xué)法進(jìn)行顯影、定影、沖洗、曬干等一套繁瑣的過(guò)程，因此被性能更好的光子計(jì)數(shù)器所取代。計(jì)數(shù)器探測(cè)器不需化學(xué)處理，可以通過(guò)電子電路直接記錄衍射的光子數(shù)，方便了許多。初的計(jì)數(shù)器是蓋格計(jì)數(shù)器，但由于它的時(shí)間分辨率不高，計(jì)數(shù)的線性范圍不大，故不是一個(gè)良好的探測(cè)器。以后，正比計(jì)數(shù)器及閃爍計(jì)數(shù)器取代了蓋格計(jì)數(shù)器，成為普遍使用的探測(cè)器。隨著人類對(duì)自然的認(rèn)識(shí)越來(lái)越廣，越來(lái)越深，對(duì)實(shí)驗(yàn)的要求也越來(lái)越高，越多樣化，簡(jiǎn)單的正比或閃爍計(jì)數(shù)器亦不 能滿足不同的實(shí)驗(yàn)要求，于是又陸續(xù)發(fā)展出許多不同的探測(cè)器。

x射線有哪些特點(diǎn)？各種衍射方法有何不同？穿透作用。X射線因其波長(zhǎng)短，能量大，照在物質(zhì)上時(shí)，只一部分被物質(zhì)所吸收，大部分經(jīng)由原子間隙而透過(guò)，表現(xiàn)出很強(qiáng)的穿透能力。X射線穿透物質(zhì)的能力與X射線光子的能量有關(guān)，X射線的波長(zhǎng)越短，光子的能量越大，穿透力越強(qiáng)。X射線的穿透力也與物質(zhì)密度有關(guān)，利用差別吸收這種性質(zhì)可以把密度不同的物質(zhì)區(qū)分開(kāi)來(lái)。電離作用。物質(zhì)受X射線照射時(shí)，可使核外電子脫離原子軌道產(chǎn)生電離。利用電離電荷的多少可測(cè)定X射線的照射量，根據(jù)這個(gè)原理制成了X射線測(cè)量?jī)x器。在電離作用下，氣體能夠?qū)щ?；某些物質(zhì)可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng)；在有機(jī)體內(nèi)可以誘發(fā)各種生物效應(yīng)。熒光作用。X射線波長(zhǎng)很短不可見(jiàn)，但它照射到某些化合物如磷、鉑鋇、硫化鋅鎘、鎢酸鈣等時(shí)，可使物質(zhì)發(fā)生熒光，熒光的強(qiáng)弱與X射線量成正比。這種作用是X射線應(yīng)用于穿視的基礎(chǔ)，利用這種熒光作用可制成熒光屏，用作穿視時(shí)觀察X射線通過(guò)人體組織的影像，也可制成增感屏，用作攝影時(shí)增強(qiáng)膠片的感光量。X射線粉末衍射儀, 針對(duì)于測(cè)試樣品為粉末。

分析電子衍射與x射線衍射有何區(qū)別？相同點(diǎn)是兩者都是可以把晶體看做一個(gè)三維的光柵，對(duì)不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和，反映的晶格的對(duì)稱性信息；不同點(diǎn)是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢(shì)場(chǎng)的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強(qiáng)烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動(dòng)力學(xué)效應(yīng)，x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實(shí)用角度的答案，在確定晶體對(duì)稱性上，通常是用x射線來(lái)定的，因?yàn)閯?dòng)力學(xué)效應(yīng)很弱，不會(huì)出現(xiàn)本來(lái)消光的斑點(diǎn)位置因?yàn)槎啻紊⑸涞脑蛴殖霈F(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個(gè)原因是x射線的制樣更加容易。X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分。合肥衍射儀品牌

x射線粉末衍射可以計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。銅陵衍射儀代理收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)

X射線衍射分析的粉末樣品時(shí)的要求是什么? 粉末樣品的制備：雖然很多固體樣品本身已處于微晶狀態(tài)，但通常卻是較粗糙的粉末顆?；蚴禽^大的集結(jié)塊，更多數(shù)的固體樣品則是具有或大或小晶粒的結(jié)晶織構(gòu)或者是可以辨認(rèn)出外形的粗晶粒，因此實(shí)驗(yàn)時(shí)一般需要先加工成合用的細(xì)粉末。因?yàn)榇蠖鄶?shù)固體顆粒是易碎的，所以常用的方法是研磨和過(guò)篩，只有當(dāng)樣品是十分細(xì)的粉末，手摸無(wú)顆粒感，才可以認(rèn)為晶粒的大小已符合要求。持續(xù)的在研缽或在球磨中研磨至<360 目的粉末，可以有效的得到足夠細(xì)的顆粒。制備粉末需根據(jù)不同的具體情況采用不同的方法。對(duì)于一些軟而不便研磨的物質(zhì)（無(wú)機(jī)物或者有機(jī)物），可以用干冰或液態(tài)空氣冷卻至低溫，使之變脆，然后進(jìn)行研磨。若樣品是一些具有不同硬度和晶癖的物質(zhì)的混合物，研磨時(shí)較軟或易于解理的部分容易被粉化而包裹較硬部分的顆粒，因此需要不斷過(guò)篩，分出已粉化的部分，后把全部粉末充分混合后再制作實(shí)驗(yàn)用的試樣。銅陵衍射儀代理收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)