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X射線衍射中，Kα，Kβ具體代替什么？X射線管發(fā)生出來的不是純凈的單色光，包含多種波長(zhǎng)的射線，較主要的是K系射線。K系射線是指陰極電子碰撞陽極，使陽極電子產(chǎn)生K激發(fā)，擊走K層電子后，L層或M層電子填充K層電子而產(chǎn)生的X射線。K系射線又可以細(xì)分為Kα（L層電子填充）和Kβ（M層電子填充）兩種波長(zhǎng)略有差異的兩種射線。而X射線衍射儀要求使用單色X射線。因此，需要在XRD測(cè)試時(shí)把后者除掉，傳統(tǒng)的方法是在光路上加入一個(gè)濾波片（如Ni）?，F(xiàn)在一般使用銅靶，在光路上增加一個(gè)石墨晶體單色器來去除Kβ射線。單色器可以去除衍射背底，也可以去除Kβ射線的干擾。Cu的特征譜線波長(zhǎng)為：Kα1(1.54056 ?)，Kα2 (1.54439 ?)，Kβ1 (1.39222 ?)。對(duì)于銅靶，Kα波長(zhǎng)取Kα1與Kα2的加權(quán)平均值，其值為1.54184?(布拉格方程和謝樂公式中的λ)。X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)。金華衍射儀銷售代理

X射線熒光光譜儀優(yōu)缺點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn): a) 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為明顯。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。e) 分析精密度高。f) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。缺點(diǎn)：a）難于作相對(duì)分析，故定量分析需要標(biāo)樣。 b）對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。江蘇奧林巴斯XRD售價(jià)多少錢通常X射線粉末衍射儀配用的是閃爍檢測(cè)器。

X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析.普遍應(yīng)用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學(xué),材料生產(chǎn)等領(lǐng)域.X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)?；緲?gòu)造　X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構(gòu)成很相似, X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分。高穩(wěn)定度X射線源　提供測(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng), 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。

分析電子衍射與x射線衍射有何異同： 相同點(diǎn)是兩者都是可以把晶體看做一個(gè)三維的光柵，對(duì)不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和，反映的晶格的對(duì)稱性信息；不同點(diǎn)是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢(shì)場(chǎng)的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強(qiáng)烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動(dòng)力學(xué)效應(yīng)（多次散射），x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實(shí)用角度的答案，在確定晶體對(duì)稱性上，通常是用x射線來定的，因?yàn)閯?dòng)力學(xué)效應(yīng)很弱，不會(huì)出現(xiàn)本來消光的斑點(diǎn)位置因?yàn)槎啻紊⑸涞脑蛴殖霈F(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個(gè)原因是x射線的制樣更加容易。衍射儀的規(guī)格介紹。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

便攜式X 射線衍射儀可能直接分析出巖石的礦物組成及相對(duì)含量，并形成了定性、定量的巖性識(shí)別方法，為錄井隨鉆巖性快速識(shí)別、建立地質(zhì)剖面提供了技術(shù)保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強(qiáng)度成正相關(guān)關(guān)系。在混合物中，一種物質(zhì)成分的衍射圖譜與其他物質(zhì)成分的存在與否無關(guān)，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎(chǔ)。X 射線衍射是晶體的“指紋”，不同的物質(zhì)具有不同的X 射線衍射特征峰值(點(diǎn)陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數(shù)目、位置等)，結(jié)構(gòu)參數(shù)不同則X 射線衍射線位置與強(qiáng)度也就各不相同，所以通過比較X 射線衍射線位置與強(qiáng)度可區(qū)分出不同的礦物成分。X 射線衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對(duì)含量，并系統(tǒng)采集各種礦物的標(biāo)準(zhǔn)圖譜，包括石英、鉀長(zhǎng)石、斜長(zhǎng)石、白云石、黃鐵礦等近30 種礦物成分，通過礦物成分的相對(duì)含量就可以確定巖石巖性，為現(xiàn)場(chǎng)巖性定名提供定量化的參考依據(jù)，提高特殊鉆井條件下巖性識(shí)別準(zhǔn)確度。便攜式X射線衍射儀的基本構(gòu)造你真的了解嗎？臺(tái)州衍射儀批發(fā)市場(chǎng)

X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。金華衍射儀銷售代理

X射線單晶體衍儀器基本公式：由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點(diǎn)陣表示。而一個(gè)三維點(diǎn)陣可簡(jiǎn)單地用一個(gè)由八個(gè)相鄰點(diǎn)構(gòu)成的平行六面體在三維方向重復(fù)得到。一個(gè)晶胞形狀由它的三個(gè)邊及它們間的夾角所規(guī)定，這六個(gè)參數(shù)稱點(diǎn)陣參數(shù)或晶胞參數(shù)。這樣一個(gè)三維點(diǎn)陣也可以看成是許多相同的平面點(diǎn)陣平行等距排列而成的，這樣一族平面點(diǎn)陣稱為一個(gè)平面點(diǎn)陣族，常用符號(hào)HKL（HKL為整數(shù)）來表示。一個(gè)三維空間點(diǎn)陣劃分為平面點(diǎn)陣族的方式是很多的，其平面點(diǎn)陣的構(gòu)造和面間距d可以是不同的。晶體結(jié)構(gòu)的周期性就可以由這一組dHKL來表示。金華衍射儀銷售代理