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X-射線衍射儀（X-RayDiffractomer）是采用輻射探測(cè)器和測(cè)角儀來記錄衍射峰位置及強(qiáng)度的分析儀器。我們常用的衍射儀X射線衍射儀主要由X射線發(fā)生器、衍射測(cè)角儀、輻射探測(cè)器、測(cè)量電路、控制操作和運(yùn)行軟件的電子計(jì)算機(jī)系統(tǒng)組成，中心部件是測(cè)角儀。XRD的樣品一般都是粉末樣，要求樣品顆粒度小于300目，壓成十分平整的平面。XRD是研究材料的晶體結(jié)構(gòu)及物相分析不可或缺的有力工具，有助于我們探究同成份不同相的材料性能差異，找到獲得預(yù)想性能的物質(zhì)。由于XRD具有所需樣品數(shù)量少、對(duì)樣品的破壞性微小、對(duì)結(jié)構(gòu)和缺陷靈敏，能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等特點(diǎn)，在冶金、機(jī)械、地質(zhì)、化工、礦物、陶瓷、建材、耐火材料、天航空、能源、生物工程等諸多領(lǐng)域都得到了廣泛應(yīng)用。隨著X射線衍射儀被普遍應(yīng)用在各個(gè)學(xué)科領(lǐng)域，已深入石油勘探、采礦鉆井、采石場(chǎng)等行業(yè)。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀代理商

x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測(cè)量由此引起的電子動(dòng)能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道，但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測(cè)到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個(gè)瑞典研究小組觀測(cè)到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀報(bào)價(jià)X射線衍射分析法又被稱為粉末X射線衍射分析法。

X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，由對(duì)衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì)。粉末衍射儀要求樣品試片具有一個(gè)十分平整的平面，而且對(duì)平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時(shí)又要求制作定向的試片）。

晶體的X射線衍射圖像實(shí)質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細(xì)復(fù)雜的變換，每種晶體的結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間都有著一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，其特征X射線衍射圖譜不會(huì)因?yàn)樗N物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據(jù)。制備各種標(biāo)準(zhǔn)單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化，將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對(duì)照，從而確定物質(zhì)的組成相，就成為物相定性分析的基本方法。鑒定出各個(gè)相后，根據(jù)各相花樣的強(qiáng)度正比于改組分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可對(duì)各種組分進(jìn)行定量分析。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜，用“粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)合會(huì)”負(fù)責(zé)編輯出版的“粉末衍射卡片”進(jìn)行物相分析。單晶射線衍射儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器。

在研究行星進(jìn)程和地球構(gòu)造過程中，地理學(xué)家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。X射線衍射儀分析技術(shù)如：小點(diǎn)激發(fā)，分布分析和無標(biāo)定量分析，日漸成為地質(zhì)研究及礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器。X射線衍射儀（XRD）可定量測(cè)量相組成。X射線衍射數(shù)據(jù)的Rietveld分析被認(rèn)為是晶體相定量分析很適合的方法。專業(yè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)為這些判定提供了一系列解決方案。鑄造廠，冶煉廠和鋼廠還有金屬行業(yè)的其他方面都是連續(xù)生產(chǎn)并要求日夜控制生產(chǎn)和進(jìn)料出料的質(zhì)量。合金的化學(xué)含量，殘余應(yīng)力是與結(jié)構(gòu)失效相關(guān)的重要特征。X射線衍射儀是無損精確測(cè)量殘余應(yīng)力的方法。X射線衍射具有的空間分辨率和測(cè)量硬化材料的能力提供了非接觸式測(cè)量。為了滿足分析任務(wù)的各種苛刻要求，系列儀器為各種預(yù)算和需要提供靈活組合方式和樣品處理方式。衍射儀的公司。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！浙江奧林巴斯XRD哪家好

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進(jìn)口X射線衍射儀的基本原理：X射線與物質(zhì)作用時(shí)，就其能量轉(zhuǎn)換而言，一般分為三部分，其中一部分被散射，一部分被吸收，一部分通過物質(zhì)繼續(xù)沿原來方向傳播。散射的X射線與入射X射線波長(zhǎng)相同時(shí)對(duì)晶體將產(chǎn)生衍射現(xiàn)象，即晶面間距產(chǎn)生的光程差等于波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)。將每種晶體物質(zhì)特有的衍射花樣與標(biāo)準(zhǔn)衍射花樣對(duì)比，利用三強(qiáng)峰原則，即可鑒定出樣品中存在的物相。X-射線的產(chǎn)生是由在X-射線管（真空度10-4Pa）中有30-60KV的加速電子流，沖擊金屬靶面產(chǎn)生。常用的射線是MoKα射線，包括Kα1和Kα2兩種射線（強(qiáng)度2:1），波長(zhǎng)為71.073pm。安徽奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀代理商