重慶太陽光譜模擬銷售

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-02-02

該儀器能夠快速顯示實(shí)時(shí)光譜,因此有可能找到具有***多普勒頻移的望遠(yuǎn)鏡位置,同時(shí)在這些位置記錄更長的曝光光譜,提高信噪比。下圖所示的鐵譜線相隔約5pm,因?yàn)檫@些光譜不是在太陽圓盤的末端拍攝的。太陽自轉(zhuǎn)引起的兩條夫瑯和費(fèi)鐵線(相對(duì)于未移動(dòng)的氧線)多普勒頻移的測量。在左邊的圖表中,紅色和藍(lán)色的線是HF-8989-3光譜儀的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),當(dāng)時(shí)太陽圓盤的圖像通過輸入光纖移動(dòng)到光譜儀(從一個(gè)邊緣到另一個(gè)邊緣)。每個(gè)實(shí)驗(yàn)光譜的曝光時(shí)間<1秒。濺鍍制備低發(fā)射率膜:在第二真空鍍膜室中,氬離子撞擊靶材。重慶太陽光譜模擬銷售

獲取模塊310,用于獲取地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像的尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時(shí)刻和拍攝位置高程。***計(jì)算模塊320,用于根據(jù)遙感圖像尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時(shí)刻和拍攝位置高程,計(jì)算地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像拍攝位置的太陽直接輻射強(qiáng)度和太陽散射輻射強(qiáng)度。第二計(jì)算模塊330,用于根據(jù)太陽直接輻射強(qiáng)度和太陽散射輻射強(qiáng)度,計(jì)算地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像的太陽總輻照強(qiáng)度。第三計(jì)算模塊340,用于針對(duì)于不同拍攝日期、和/或不同拍攝時(shí)間、和/或拍攝位置對(duì)應(yīng)的地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像,計(jì)算各自對(duì)應(yīng)的太陽總輻照強(qiáng)度相互之間的差值,得到各個(gè)地球靜止軌道衛(wèi)星光學(xué)遙感圖像之間的太陽光照補(bǔ)償值。貴州太陽光譜模擬相反地,如果通入過量的氣體,則不僅在基材上與濺射出的原子進(jìn)行反應(yīng),也會(huì)在靶面上與靶材反應(yīng)生成化合物。

根據(jù)拍攝時(shí)刻和所地理經(jīng)度,計(jì)算拍攝時(shí)刻的太陽時(shí)角。在本實(shí)施例一可行的方式中,可根據(jù)ω(x,t)=(12-t)×15°-l(x)(5)計(jì)算太陽時(shí)角,其中,t為拍攝時(shí)刻,ω(x,t)為坐標(biāo)為(x,y)的像素點(diǎn)在t時(shí)刻對(duì)應(yīng)的太陽時(shí)角。s24,根據(jù)太陽赤緯角、太陽時(shí)角和地理緯度,計(jì)算拍攝時(shí)刻的太陽高度角。在本實(shí)施例一可行的方式中,可根據(jù)α(x,y,d,t)=arcsin[sinb(y)×sinδ(d)+cosb(y)×cosδ(d)×cosω(x,t)](6)計(jì)算太陽高度角α(x,y,d,t)。

經(jīng)檢測,本實(shí)施例1制備的膜層的吸收率為94%,比現(xiàn)有技術(shù)中膜層的吸收率提高了3%~9%;本申請制備的膜層的發(fā)射率為4%,比現(xiàn)有技術(shù)中膜層的發(fā)射率降低了3%~12%;膜層的附著力根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求測試,結(jié)果為1級(jí);采用本申請制備的膜層的太陽能集熱器的熱效率為80.4%,比采用現(xiàn)有技術(shù)中膜層的太陽能集熱器的熱效率提高了6%~8.4%。本發(fā)明未詳盡描述的方法和裝置均為現(xiàn)有技術(shù),不再贅述。本文中應(yīng)用了具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述,以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其**思想。應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾,這些改進(jìn)和修飾也落入本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。在第五真空鍍膜室中,氬離子撞擊靶材,撞擊出來的鉻離子與通入的氧氣發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生成氧化鉻。

5)反應(yīng)性濺鍍制備吸收膜:在第五真空鍍膜室中,氬離子撞擊靶材,撞擊出來的鉻離子與通入的氧氣發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生成氧化鉻,反應(yīng)生成的氧化鉻沉積在步驟4)制得的過渡膜的外表面上形成吸收膜;6)反應(yīng)性濺鍍制備抗反射膜:在第六真空鍍膜室中,氬離子撞擊靶材,撞擊出來的硅離子與通入的氧氣發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生成二氧化硅,反應(yīng)生成的二氧化硅沉積在步驟5)制得的吸收膜的外表面上形成抗反射膜,完成后在吸熱體的基材的外表面上制得包括6層的膜層。在本申請的一個(gè)實(shí)施例中,步驟1)中,靶材為鉻靶,氬氣流量為50~200sccm,氧氣流量為10~200sccm,制得的強(qiáng)化膜的厚度為30~120nm。反應(yīng)生成的氮氧化鉻、氮化鉻以及氧化鉻沉積在步驟3)制得的緩沖膜的外表面上形成過渡膜。河南下打光太陽光譜模擬購買

比現(xiàn)有技術(shù)中膜層的光熱轉(zhuǎn)換的效率提高了6%~10%。重慶太陽光譜模擬銷售

可選地,根據(jù)拍攝時(shí)刻和地理經(jīng)度,計(jì)算拍攝時(shí)刻的太陽時(shí)角,包括:根據(jù)ω(x,t)=(12-t)×15°-l(x)計(jì)算太陽時(shí)角,其中,t為拍攝時(shí)刻,ω(x,t)為坐標(biāo)為(x,y)的像素點(diǎn)在t時(shí)刻對(duì)應(yīng)的太陽時(shí)角??蛇x地,根據(jù)太陽赤緯角、太陽時(shí)角和地理緯度,計(jì)算拍攝時(shí)刻的太陽高度角,包括:根據(jù)α(x,y,d,t)=arcsin[sinb(y)×sinδ(d)+cosb(y)×cosδ(d)×cosω(x,t)],計(jì)算太陽高度角α(x,y,d,t)??蛇x地,根據(jù)太陽高度角和拍攝位置高程,計(jì)算相對(duì)大氣光學(xué)質(zhì)量,包括:根據(jù)其中,z表示地理位置(l(x),b(y))處的海拔高度,r(α,z)為相對(duì)大氣光學(xué)質(zhì)量。重慶太陽光譜模擬銷售

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