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杭州博測(cè)材料科技有限公司2025-08-05
XRD + 光譜技術(shù) (Raman, FTIR, XAS)： XRD提供長(zhǎng)程有序晶體結(jié)構(gòu)信息（相組成、晶格參數(shù)、晶粒尺寸）。拉曼光譜 (Raman) 和紅外光譜 (FTIR) 提供局域化學(xué)鍵/分子振動(dòng)、短程有序和非晶相信息，對(duì)鍵合狀態(tài)、官能團(tuán)、局部結(jié)構(gòu)變化敏感。X射線吸收譜 (XAS, 包括XANES和EXAFS) 提供元素特異性的電子結(jié)構(gòu)（氧化態(tài)） 和近鄰原子配位環(huán)境（鍵長(zhǎng)、配位數(shù)、無(wú)序度） 信息，對(duì)非晶、液態(tài)、表面物種同樣有效。
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XRD + 散射技術(shù) (SAXS/USAXS)： XRD探測(cè)晶體相（> 1 nm尺度）。小角/超小角X射線散射 (SAXS/USAXS) 對(duì)納米尺度（1-1000 nm）的結(jié)構(gòu)（如孔結(jié)構(gòu)、納米粒子尺寸分布、聚集態(tài)、相分離域）極其敏感，即使這些結(jié)構(gòu)是非晶的。聯(lián)用可同時(shí)研究材料的晶相演化和納米結(jié)構(gòu)演化（如催化劑的燒結(jié)過(guò)程、電池電極孔隙率變化、高分子材料的相分離）。
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