由于光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量的結(jié)果直接影響變形原因的合理分析、變形規(guī)律的正確描述和變形趨勢(shì)的科學(xué)預(yù)測(cè),因此變形測(cè)量必須具有高精度。因此,在進(jìn)行變形觀測(cè)之前,根據(jù)不同的觀測(cè)目的,需要選擇相應(yīng)的觀測(cè)精度和測(cè)量方法。為了分析變形規(guī)律和預(yù)測(cè)變形趨勢(shì),必須按照一定的時(shí)間段重復(fù)進(jìn)行變形觀測(cè)。根據(jù)建(構(gòu))筑物的特點(diǎn)、變形率、觀測(cè)精度要求和工程地質(zhì)條件,需要綜合考慮變形測(cè)量的觀測(cè)周期。在觀測(cè)期間,應(yīng)根據(jù)變形的變化適當(dāng)調(diào)整觀測(cè)周期。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種先進(jìn)的測(cè)量技術(shù),它可以在不接觸被測(cè)物體的情況下,通過(guò)光學(xué)原理來(lái)測(cè)量物體的應(yīng)變情況。這種測(cè)量方法具有高精度、高靈敏度和非破壞性的特點(diǎn),因此在工程領(lǐng)域得到了普遍應(yīng)用。在進(jìn)行光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量之前,需要確定觀測(cè)的目的和要求。不同的觀測(cè)目的需要選擇不同的觀測(cè)精度和測(cè)量方法。例如,如果是為了分析變形原因,需要選擇高精度的測(cè)量方法,以獲取準(zhǔn)確的應(yīng)變數(shù)據(jù)。如果是為了預(yù)測(cè)變形趨勢(shì),可以選擇較低精度的測(cè)量方法,以獲取變形的大致情況即可。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種不會(huì)對(duì)物體表面造成損傷的測(cè)量方法。湖北哪里有賣(mài)美國(guó)CSI非接觸式測(cè)量
光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方法是一種利用光學(xué)原理來(lái)測(cè)量物體應(yīng)變的技術(shù)。其中一種方法是光彈性法,它基于光彈性效應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)應(yīng)變的測(cè)量。光彈性法利用光在物體中傳播時(shí)受到應(yīng)變的影響,通過(guò)對(duì)光的偏振狀態(tài)和干涉圖樣的分析來(lái)測(cè)量應(yīng)變。當(dāng)光通過(guò)應(yīng)變體時(shí),由于應(yīng)變的存在,光的傳播速度和偏振狀態(tài)會(huì)發(fā)生改變。通過(guò)測(cè)量光的傳播速度和偏振狀態(tài)的變化,可以推斷出物體的應(yīng)變情況。光彈性法具有高精度和高靈敏度的優(yōu)點(diǎn),適用于對(duì)微小應(yīng)變的測(cè)量。它可以實(shí)現(xiàn)非接觸式的測(cè)量,不會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成損傷。同時(shí),由于光的傳播速度和偏振狀態(tài)的變化可以通過(guò)光學(xué)儀器進(jìn)行精確測(cè)量,因此可以獲得較高的測(cè)量精度。除了光彈性法,還有其他一些光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方法。全息干涉法是一種利用全息術(shù)和干涉原理來(lái)測(cè)量應(yīng)變的方法,它可以實(shí)現(xiàn)全場(chǎng)測(cè)量,適用于大范圍的應(yīng)變測(cè)量。數(shù)字圖像相關(guān)法利用數(shù)字圖像處理技術(shù)來(lái)分析物體表面的圖像信息,從而實(shí)現(xiàn)應(yīng)變的測(cè)量。激光散斑法利用激光散斑圖樣的變化來(lái)測(cè)量應(yīng)變,適用于表面應(yīng)變的測(cè)量。光纖光柵傳感器是一種利用光纖光柵的光學(xué)效應(yīng)來(lái)測(cè)量應(yīng)變的方法,它可以實(shí)現(xiàn)高精度的應(yīng)變測(cè)量。云南哪里有賣(mài)數(shù)字圖像相關(guān)非接觸式測(cè)量系統(tǒng)光學(xué)測(cè)量方法的高靈敏度和高分辨率使得光學(xué)應(yīng)變測(cè)量設(shè)備的分辨率可以達(dá)到亞微應(yīng)變級(jí)別。
光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種基于光學(xué)原理的測(cè)量方法,用于測(cè)量物體表面的應(yīng)變分布。相比傳統(tǒng)的接觸式應(yīng)變測(cè)量方法,光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量具有無(wú)損、高精度、高靈敏度等優(yōu)點(diǎn),因此在材料科學(xué)、工程結(jié)構(gòu)分析等領(lǐng)域得到了普遍應(yīng)用。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量的原理基于光的干涉現(xiàn)象。當(dāng)光線通過(guò)物體表面時(shí),會(huì)發(fā)生折射、反射、散射等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致光的相位發(fā)生變化。而物體表面的應(yīng)變會(huì)引起光的相位差,通過(guò)測(cè)量光的相位差,可以間接得到物體表面的應(yīng)變信息。具體而言,光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量通常采用干涉儀來(lái)測(cè)量光的相位差。干涉儀由光源、分束器、參考光路和待測(cè)光路組成。光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)分束器分成兩束,一束作為參考光經(jīng)過(guò)參考光路,另一束作為待測(cè)光經(jīng)過(guò)待測(cè)光路。在待測(cè)光路中,光線經(jīng)過(guò)物體表面時(shí)會(huì)發(fā)生相位差,這是由于物體表面的應(yīng)變引起的。待測(cè)光與參考光重新相遇時(shí),它們會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象。干涉現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致光的強(qiáng)度發(fā)生變化,通過(guò)測(cè)量光的強(qiáng)度變化,可以得到光的相位差。測(cè)量光的相位差可以使用干涉儀的輸出信號(hào)進(jìn)行分析。常見(jiàn)的分析方法包括使用相位計(jì)、干涉圖案的變化等。通過(guò)對(duì)光的相位差進(jìn)行分析,可以得到物體表面的應(yīng)變信息。
變形測(cè)量是指對(duì)物體形狀、尺寸、位置等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量和分析的過(guò)程。根據(jù)測(cè)量方法和精度要求的不同,可以將變形測(cè)量分為多個(gè)分類。一種常見(jiàn)的變形測(cè)量方法是靜態(tài)水準(zhǔn)測(cè)量,它主要用于測(cè)量地面高程的變化。觀測(cè)點(diǎn)高差均方誤差是指在靜態(tài)水準(zhǔn)測(cè)量中,測(cè)量得到的幾何水準(zhǔn)點(diǎn)高差的均方誤差,或者是相鄰觀測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)斷面高差的等效相對(duì)均方誤差。這個(gè)指標(biāo)反映了測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定性和精度。另一種常見(jiàn)的變形測(cè)量方法是電磁波測(cè)距三角高程測(cè)量,它利用電磁波的傳播特性來(lái)測(cè)量物體的高程變化。觀測(cè)點(diǎn)高差均方誤差在這種測(cè)量中也是一個(gè)重要的指標(biāo),用于評(píng)估測(cè)量結(jié)果的精度和可靠性。除了高差測(cè)量,觀測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)的精度也是變形測(cè)量中的關(guān)鍵指標(biāo)。觀測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)的均方差是指測(cè)量得到的坐標(biāo)值的均誤差、坐標(biāo)差的均方差、等效觀測(cè)點(diǎn)相對(duì)于基線的均方差,以及建筑物或構(gòu)件相對(duì)于底部固定點(diǎn)的水平位移分量的均方差。這些指標(biāo)反映了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。觀測(cè)點(diǎn)位置的中誤差是觀測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)中誤差的平方根乘以√2。這個(gè)指標(biāo)用于評(píng)估測(cè)量結(jié)果的整體精度。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量通過(guò)數(shù)字全息術(shù)和數(shù)值模擬方法等數(shù)據(jù)處理方法,實(shí)現(xiàn)高精度的應(yīng)變測(cè)量。
金屬應(yīng)變計(jì)的實(shí)際應(yīng)變計(jì)因子可以通過(guò)傳感器廠商或相關(guān)文檔獲取,通常約為2。實(shí)際上,應(yīng)變測(cè)量的量很少大于幾個(gè)毫應(yīng)變(10?3),因此必須精確測(cè)量電阻極微小的變化。例如,如果測(cè)試樣本的實(shí)際應(yīng)變?yōu)?00毫應(yīng)變,應(yīng)變計(jì)因子為2的應(yīng)變計(jì)可檢測(cè)的電阻變化為2 * (500 * 10??) = 0.1%。對(duì)于120Ω的應(yīng)變計(jì),變化值只為0.12Ω。為了測(cè)量如此小的電阻變化,應(yīng)變計(jì)采用基于惠斯通電橋的配置概念。常見(jiàn)的惠斯通電橋由四個(gè)相互連接的電阻臂和激勵(lì)電壓VEX組成。當(dāng)應(yīng)變計(jì)與被測(cè)物體一起安裝在電橋的一個(gè)臂上時(shí),應(yīng)變計(jì)的電阻值會(huì)隨著應(yīng)變的變化而發(fā)生微小的變化。這個(gè)微小的變化會(huì)導(dǎo)致電橋的電壓輸出發(fā)生變化,進(jìn)而可以通過(guò)測(cè)量輸出電壓的變化來(lái)計(jì)算應(yīng)變的大小。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種新興的測(cè)量技術(shù),它利用光學(xué)原理來(lái)測(cè)量材料的應(yīng)變。這種技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)非接觸、高精度和高靈敏度的應(yīng)變測(cè)量。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量通常使用光纖光柵傳感器或激光干涉儀等設(shè)備來(lái)測(cè)量材料表面的位移或形變,從而間接計(jì)算出應(yīng)變的大小。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)非接觸式的應(yīng)變測(cè)量,具有普遍的應(yīng)用前景。廣東掃描電鏡非接觸總代理
光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量適用于對(duì)被測(cè)物體要求非破壞性的應(yīng)用,如珍貴文物的保護(hù)和生物組織的應(yīng)變測(cè)量。湖北哪里有賣(mài)美國(guó)CSI非接觸式測(cè)量
隨著我國(guó)航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展,新型飛行器的飛行速度不斷提高,這對(duì)其熱防護(hù)結(jié)構(gòu)提出了更高的要求。因此,熱結(jié)構(gòu)材料的高溫力學(xué)性能成為熱防護(hù)系統(tǒng)和飛行器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的重要依據(jù)。數(shù)字圖像相關(guān)法(DIC)是一種新興的光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方法,相比傳統(tǒng)的變形測(cè)量方法,它具有適用范圍廣、環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)、操作簡(jiǎn)單和測(cè)量精度高等優(yōu)點(diǎn),特別是在高溫實(shí)驗(yàn)中具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。在某單位的研究中,他們采用了兩臺(tái)高速相機(jī)來(lái)拍攝風(fēng)洞中風(fēng)載下垂尾模型的震顫情況。通過(guò)光學(xué)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng),他們分析了不同風(fēng)速下各個(gè)位置(標(biāo)記點(diǎn))的振動(dòng)情況以及散斑(C區(qū)域)的變形狀態(tài)。通過(guò)這些數(shù)據(jù),他們獲得了該尾翼的振動(dòng)模態(tài)參數(shù)和振型。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方法的優(yōu)勢(shì)在于它可以在不接觸被測(cè)物體的情況下獲取其應(yīng)變信息。這對(duì)于高溫實(shí)驗(yàn)來(lái)說(shuō)尤為重要,因?yàn)閭鹘y(tǒng)的接觸式應(yīng)變測(cè)量方法在高溫環(huán)境下往往無(wú)法正常工作。而光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方法可以通過(guò)分析圖像中的散斑變形來(lái)獲取物體的應(yīng)變信息,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)高溫結(jié)構(gòu)的應(yīng)變測(cè)量。湖北哪里有賣(mài)美國(guó)CSI非接觸式測(cè)量