山東高速光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)總代理

來源: 發(fā)布時間:2023-12-09

隨著我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展,新型飛行器的飛行速度不斷提高,這對其熱防護結(jié)構(gòu)提出了更高的要求。因此,熱結(jié)構(gòu)材料的高溫力學(xué)性能成為熱防護系統(tǒng)和飛行器結(jié)構(gòu)設(shè)計的重要依據(jù)。數(shù)字圖像相關(guān)法(DIC)是一種新興的光學(xué)非接觸應(yīng)變測量方法,相比傳統(tǒng)的變形測量方法,它具有適用范圍廣、環(huán)境適應(yīng)性強、操作簡單和測量精度高等優(yōu)點,特別是在高溫實驗中具有獨特的優(yōu)勢。在某單位的研究中,他們采用了兩臺高速相機來拍攝風(fēng)洞中風(fēng)載下垂尾模型的震顫情況。通過光學(xué)應(yīng)變測量系統(tǒng),他們分析了不同風(fēng)速下各個位置(標記點)的振動情況以及散斑(C區(qū)域)的變形狀態(tài)。通過這些數(shù)據(jù),他們獲得了該尾翼的振動模態(tài)參數(shù)和振型。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量方法的優(yōu)勢在于它可以在不接觸被測物體的情況下獲取其應(yīng)變信息。這對于高溫實驗來說尤為重要,因為傳統(tǒng)的接觸式應(yīng)變測量方法在高溫環(huán)境下往往無法正常工作。而光學(xué)非接觸應(yīng)變測量方法可以通過分析圖像中的散斑變形來獲取物體的應(yīng)變信息,從而實現(xiàn)對高溫結(jié)構(gòu)的應(yīng)變測量。光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)在微觀應(yīng)變分析和材料研究中具有重要的應(yīng)用價值。山東高速光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)總代理

山東高速光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)總代理,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量

光學(xué)應(yīng)變測量是一種非接觸式測量方法,通過利用光學(xué)原理來測量物體在受力或變形作用下的應(yīng)變情況。它具有高精度和高分辨率的特點,被普遍應(yīng)用于工程領(lǐng)域和科學(xué)研究中。光學(xué)應(yīng)變測量的精度主要受到兩個因素的影響:測量設(shè)備的精度和被測物體的特性。首先,測量設(shè)備的精度決定了測量結(jié)果的準確性?,F(xiàn)代光學(xué)應(yīng)變測量設(shè)備采用了高精度的光學(xué)元件和先進的信號處理技術(shù),可以實現(xiàn)亞微米級的測量精度。例如,使用高分辨率的相機和精密的光學(xué)透鏡,可以捕捉到微小的形變,并通過圖像處理算法進行精確的應(yīng)變計算。此外,光學(xué)應(yīng)變測量設(shè)備還可以通過使用多個傳感器和多通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),提高測量的準確性和可靠性。其次,被測物體的特性也會影響光學(xué)應(yīng)變測量的精度。不同材料的光學(xué)特性和應(yīng)變響應(yīng)不同,因此需要根據(jù)被測物體的材料性質(zhì)選擇合適的測量方法和參數(shù)。例如,對于透明材料,可以使用全息術(shù)或激光干涉術(shù)進行測量;對于不透明材料,可以使用表面反射法或散射法進行測量。此外,被測物體的形狀、尺寸和表面狀態(tài)也會對測量結(jié)果產(chǎn)生影響,需要進行相應(yīng)的校正和修正。山東全場數(shù)字圖像相關(guān)測量系統(tǒng)現(xiàn)代光學(xué)應(yīng)變測量設(shè)備利用高精度的光學(xué)元件和先進的信號處理技術(shù),可以達到亞微米級的測量精度。

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變壓器繞組變形測試系統(tǒng)采用了目前世界發(fā)達國家正在開發(fā)完善的內(nèi)部故障頻率響應(yīng)分析(FRA)方法。該方法通過測量變壓器內(nèi)部繞組的特征參數(shù),可以準確判斷變壓器內(nèi)部是否存在故障。該測試系統(tǒng)將變壓器內(nèi)部繞組參數(shù)在不同頻域的響應(yīng)變化進行量化處理。通過分析變化量值的大小、頻響變化的幅度、區(qū)域和趨勢,可以確定變壓器內(nèi)部繞組的變化程度。通過測量結(jié)果,可以判斷變壓器是否已經(jīng)受到嚴重破壞,是否需要進行大修。即使變壓器在運行過程中沒有保存頻域特征圖,也可以通過比較故障變壓器線圈間特征圖譜的差異,對故障程度進行判斷。這為運行中的變壓器提供了一種有效的故障診斷方法??傊?,變壓器繞組變形測試系統(tǒng)采用了內(nèi)部故障頻率響應(yīng)分析方法,通過測量變壓器內(nèi)部繞組的特征參數(shù),可以準確判斷變壓器內(nèi)部是否存在故障,并對故障程度進行評估。這為變壓器的維護和修復(fù)提供了重要的參考依據(jù)。

金屬應(yīng)變計的實際應(yīng)變計因子可以通過傳感器廠商或相關(guān)文檔獲取,通常約為2。實際上,應(yīng)變測量的量很少大于幾個毫應(yīng)變(10?3),因此必須精確測量電阻極微小的變化。例如,如果測試樣本的實際應(yīng)變?yōu)?00毫應(yīng)變,應(yīng)變計因子為2的應(yīng)變計可檢測的電阻變化為2 * (500 * 10??) = 0.1%。對于120Ω的應(yīng)變計,變化值只為0.12Ω。為了測量如此小的電阻變化,應(yīng)變計采用基于惠斯通電橋的配置概念。常見的惠斯通電橋由四個相互連接的電阻臂和激勵電壓VEX組成。當(dāng)應(yīng)變計與被測物體一起安裝在電橋的一個臂上時,應(yīng)變計的電阻值會隨著應(yīng)變的變化而發(fā)生微小的變化。這個微小的變化會導(dǎo)致電橋的電壓輸出發(fā)生變化,進而可以通過測量輸出電壓的變化來計算應(yīng)變的大小。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量是一種新興的測量技術(shù),它利用光學(xué)原理來測量材料的應(yīng)變。這種技術(shù)可以實現(xiàn)非接觸、高精度和高靈敏度的應(yīng)變測量。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量通常使用光纖光柵傳感器或激光干涉儀等設(shè)備來測量材料表面的位移或形變,從而間接計算出應(yīng)變的大小。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量的測量范圍取決于測量系統(tǒng)的靈敏度和測量設(shè)備的性能。

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光學(xué)干涉測量是一種基于干涉儀原理的測量技術(shù),通過觀察和分析干涉條紋的變化來推斷物體表面的形變情況。它通常使用干涉儀、激光器和相機等設(shè)備進行測量。在光學(xué)干涉測量中,當(dāng)光波經(jīng)過物體表面時,會發(fā)生干涉現(xiàn)象,形成干涉條紋。這些干涉條紋的形狀和密度與物體表面的形變情況有關(guān)。通過觀察和分析干涉條紋的變化,可以推斷出物體表面的形變情況,如應(yīng)變、位移等。與光學(xué)干涉測量相比,光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)具有許多優(yōu)勢。首先,光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)是一種非接觸性測量方法,不需要物體與測量設(shè)備直接接觸,避免了傳統(tǒng)應(yīng)變測量方法中可能引起的測量誤差。其次,光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)具有高精度和高靈敏度,可以實現(xiàn)微小形變的測量。此外,光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)還具有全場測量能力,可以同時獲取物體表面各點的形變信息,而不只是局部測量。此外,光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)還具有快速實時性,可以實時監(jiān)測物體的形變情況。與傳統(tǒng)的接觸式應(yīng)變測量方法相比,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量不需要直接接觸物體表面,避免了對物體的破壞。四川哪里有賣數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)非接觸式應(yīng)變系統(tǒng)

光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)具有高精度和高靈敏度,能夠捕捉到微小的應(yīng)變變化。山東高速光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)總代理

光學(xué)應(yīng)變測量和光學(xué)干涉測量是兩種常見的光學(xué)測量方法,它們在測量原理和應(yīng)用領(lǐng)域上有著明顯的不同。下面將介紹光學(xué)應(yīng)變測量的工作原理,并與光學(xué)干涉測量進行比較,以便更好地理解它們之間的區(qū)別。光學(xué)應(yīng)變測量是一種通過測量物體表面的應(yīng)變來獲得物體應(yīng)力狀態(tài)的方法。它利用光學(xué)傳感器測量物體表面的形變,從而間接地推斷出物體內(nèi)部的應(yīng)力分布。光學(xué)應(yīng)變測量的工作原理基于光柵投影和圖像處理技術(shù)。首先,將光柵投影在物體表面上,光柵的形變將隨著物體的應(yīng)變而發(fā)生變化。然后,使用相機或其他光學(xué)傳感器捕捉光柵的形變圖像。通過對圖像進行處理和分析,可以得到物體表面的應(yīng)變分布。與光學(xué)應(yīng)變測量相比,光學(xué)干涉測量是一種直接測量物體表面形變的方法。它利用光的干涉現(xiàn)象來測量物體表面的形變。光學(xué)干涉測量的工作原理是將一束光分為兩束,分別經(jīng)過不同的光路,然后再次合成。當(dāng)物體表面發(fā)生形變時,兩束光的相位差發(fā)生變化,通過測量相位差的變化,可以得到物體表面的形變信息。山東高速光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)總代理