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Seifert x|blade:
應(yīng)用領(lǐng)域:
自動(dòng)化航空鑄件檢測(cè)
Seifert x|blade
- 無(wú)損檢測(cè) (NDT) 解決方案之一,適用于航空零件,可檢測(cè)長(zhǎng)達(dá) 400 mm ,重 8kg 的鑄造渦輪葉片。x|blade 功能滿足 MAI(金屬的經(jīng)濟(jì)可承受性計(jì)劃) 和 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)。數(shù)字化的***成像技術(shù)具有膠片式的***成像技術(shù)的所有優(yōu)點(diǎn),同時(shí)避免前者的缺點(diǎn)。它增強(qiáng)了***成像技術(shù),可實(shí)現(xiàn)數(shù)字化技術(shù)數(shù)據(jù)處理、分析和存儲(chǔ)。飛機(jī)的渦輪葉片可使用 Seifert x|blade 系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)。
航空發(fā)動(dòng)機(jī)性能的要求越來(lái)越嚴(yán)格。高性能發(fā)動(dòng)機(jī)采用***的多壁鑄造工藝進(jìn)行冷卻的設(shè)計(jì)。這對(duì)檢測(cè)任務(wù)是一個(gè)挑戰(zhàn),由于現(xiàn)有測(cè)量技術(shù)無(wú)法確定這些新式多壁鑄件的可接受性。在渦輪發(fā)動(dòng)機(jī)部件設(shè)計(jì)的研究進(jìn)展,包括多壁葉片,CT技術(shù)的應(yīng)用是明顯的需求。
Blade?line
X射線CT系統(tǒng)的主要功能是創(chuàng)建內(nèi)部鑄造件的CT切片圖像,為評(píng)估提供更多詳細(xì)的數(shù)據(jù)(壁厚測(cè)量和缺陷分析)
得益于實(shí)驗(yàn)室**的設(shè)備配置,使得二維掃描質(zhì)量較高,可以清晰的觀察到零件缺陷。上海進(jìn)口工業(yè)CT探傷phoenix
v|tome|x m
—— 多功能的X射線微聚焦CT系統(tǒng),用于三維計(jì)量和分析,高達(dá)300kV/500W
在phoenix v|tome|x m中,GE公司獨(dú)特的300千伏微焦點(diǎn)X射線管是***安裝于緊湊的CT系統(tǒng),用于工業(yè)過(guò)程控制和科研應(yīng)用。 該系統(tǒng)可以進(jìn)行向下1米內(nèi)的詳細(xì)探測(cè),提供300千伏下業(yè)內(nèi)***的放大倍率,并以其GE的高動(dòng)態(tài)DXR數(shù)字探測(cè)器陣列和點(diǎn)擊與測(cè)量| CT(click & measure | CT)自動(dòng)化功能成為工業(yè)檢測(cè)和科研的有效的三維工具。
該系統(tǒng)具備雙|管配置,可以為各種樣本范圍提供詳細(xì)的三維信息: 從低吸收樣品的高分辨率 nanoCT®到渦輪葉片檢驗(yàn)等的高功率CT應(yīng)用。 華中進(jìn)口工業(yè)CT探傷滲透率模擬計(jì)算,根據(jù)連通性,計(jì)算巖石滲透率,并動(dòng)態(tài)模擬,展示巖石非均質(zhì)性。
phoenix nanotom m
-----------特色
主要功能
源于獨(dú)特的溫度穩(wěn)定的數(shù)字GEDXR檢測(cè)器(3072x 2400像素)的極高的圖像質(zhì)量用于高動(dòng)態(tài)范圍>10,000:1;
新的開(kāi)放的180千伏/15瓦高功率納米焦點(diǎn)X射線管具有高達(dá)200納米的細(xì)節(jié)探測(cè)能力和內(nèi)部冷卻-對(duì)長(zhǎng)期穩(wěn)定性來(lái)說(shuō)是***佳的;
用于三維測(cè)量應(yīng)用的測(cè)量束包括: 溫度穩(wěn)定的機(jī)柜;高***度直接測(cè)量系統(tǒng);操作器的防振;菱形|窗口;2個(gè)校準(zhǔn)目標(biāo);phoenixdatos|x2.0軟件包“點(diǎn)擊&測(cè)量CT”與三維“測(cè)量"。
phoenix v|tome|x s
——應(yīng)用案例展示
三維計(jì)算機(jī)斷層掃描
工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對(duì)金屬和塑料鑄件的檢測(cè)和三維測(cè)量。然而, phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開(kāi)辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。
微焦點(diǎn)CT(micro
ct)顯示一個(gè)表達(dá)式探針: 箱子的焊縫、壓接連接、探頭的幾何排列、和陶瓷傳感器的情況。
通過(guò) VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)(取決于體積大?。┩瓿筛斓娜SCT重建。
3D打印航空部件缺陷檢測(cè),得到樣品的缺陷參數(shù),不同顏色表示不同缺陷體積。phoenix v|tome|x s
--------------------地質(zhì)情況與探測(cè)
高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct)***用于檢測(cè)地質(zhì)樣品,例如新資源的探索。高分辨率CT系統(tǒng)以微觀分辨率提供巖石樣本、粘合劑、膠合劑和空洞的三維圖像,并幫助辨認(rèn)特定的樣本特征,如含油巖石中空洞的大小和位置。
生物***石灰樣本的nanoCT。巖石已淡出,以更好地使空隙構(gòu)造可視化。
2微米的體素分辨率可進(jìn)行***好的內(nèi)部構(gòu)造分析。(圖片由哥廷根大學(xué)的地球科學(xué)中心提供)。 CT技術(shù)之 – 三維尺寸測(cè)量。廣東微米級(jí)工業(yè)CT檢測(cè)
我們可以實(shí)現(xiàn)工業(yè) CT 和 醫(yī)用 CT 互相補(bǔ)充,促進(jìn)醫(yī)療器械的發(fā)展。上海進(jìn)口工業(yè)CT探傷
phoenix x|aminer
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一款操作簡(jiǎn)便的入門級(jí)X射線檢測(cè)系統(tǒng), 具有高性能的微焦點(diǎn)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,
專為半導(dǎo)體封裝, 電子元器件和電子組裝等領(lǐng)域高分辨率檢測(cè)要求而設(shè)計(jì). 現(xiàn)配備了新型CMOS平板探測(cè)器, 比圖像增強(qiáng)器具有更好的信噪比, 清晰度和實(shí)時(shí)成像能力, 并可選CT功能. 系統(tǒng)提供了功能強(qiáng)大和易用性好的phoenix x|act base二維軟件和 datos|x base CT軟件, 并允許手動(dòng)檢測(cè)和編程自動(dòng)檢測(cè);
無(wú)使用壽命限制160kV/20W高功率X射線管, 易于穿透高吸收性工件。
上海進(jìn)口工業(yè)CT探傷英華檢測(cè)(上海)有限公司致力于儀器儀表,是一家貿(mào)易型的公司。公司自成立以來(lái),以質(zhì)量為發(fā)展,讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié),公司旗下工業(yè)CT,工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù)深受客戶的喜愛(ài)。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力,努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識(shí),遵守行業(yè)規(guī)范,植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展。在社會(huì)各界的鼎力支持下,持續(xù)創(chuàng)新,不斷鑄造***服務(wù)體驗(yàn),為客戶成功提供堅(jiān)實(shí)有力的支持。